• 技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析 製品画像

    技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    ある。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能である。さらに、TEM観察と同一視野で測定できることから、(S)TEM-EDX / EELSと合わせた複合的な解析やin-situ TEMとの併用も可能となる。 【目次】 1.はじめに 2.ASTARを用いたACOM-TEM法 3.ASTARを用いた分析例 4.まとめ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別 製品画像

    【分析事例】酸化チタンアナターゼ型とルチル型の判別

    TEM-EELSにより、微小領域の元素同定・化学状態分析が可能です

    の異なるアナターゼ型とルチル型が存在します。Si基板上に成膜した厚さ20nmの多結晶TiO2試料(写真1)について電子線プローブを約1nmΦ(FWHM)まで絞って測定を行いました。試料から取得したEELSスペクトルは、Ti, Oともにアナターゼ型TiO2の標準スペクトルと一致しています(図1, 2)。...

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  • 【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価 製品画像

    【分析事例】高電子移動度トランジスタの評価

    Csコレクタ付STEMにより結晶整合性および組成分布の評価が可能

    移動度が高くなります。 本資料では、市販のGaN HEMTデバイスを解体し評価した事例をご紹介します。 HAADF-STEMにより、AlGaN/GaN界面近傍の結晶整合性を確認しました。また、EELSにより組成分布の評価を行いました。 測定法:TEM・EELS 製品分野:パワーデバイス 分析目的:構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】コアシェル構造の3次元形状評価 製品画像

    【分析事例】コアシェル構造の3次元形状評価

    高分解能EELSトモグラフィー

    は、試料を連続的に傾斜させて撮影した多数の投影像をコンピュータで画像処理し、3次元的内部構造を再構成する手法です。粒子など表面積・体積の算出も可能です。 Csコレクタ付きSTEMで0~180度のEELSマップ連続傾斜像を取得することにより、鮮明な3次元(3D)元素分布を構築することが可能となります。HAADF像の苦手とする平均原子番号の近い複合材料や回折コントラストの強い結晶質などへの適用が期待...

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  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

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  • 【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析 製品画像

    【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析

    ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

    が可能です。 アイシャドウは固体粒子の集まりなので、そのままTEMによる分析を行いました。 TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。 さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。...

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  • 技術情報誌 202001-01 in-situ STEM 製品画像

    技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    .結晶配向の解析 3-3.面内結晶配向の解析 4.まとめ 【図表】 図1~図7 アニール温度とTMR比の関係 in-situ加熱測定により得られたBF-STEM像とFFTパターンおよびEELSラインプロファイル in-situACOM-TEM測定結果 平面方向のACOM-TEM測定結果...

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  • 【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価 製品画像

    【分析事例】SiCパワーMOSFETのコンタクト電極評価

    コンタクト電極/SiC層の界面の相同定・元素分布評価

    SiC材料では、SiだけでなくCを含めた系での材料制御が必須となり、従来のSi半導体の製造方法と違いがあります。コンタクト電極とSiC層のオーミック接合形成プロセスにおいて、TEMを用いたEDX/EELS分析および電子回折から、Cを含めた元素分布や結晶相を評価しました。...

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  • DLCの物理分析 製品画像

    DLCの物理分析

    DLC(ダイアモンドライクカーボン)の各種分析が可能!

    構造評価 TEM高分解能像観察 Raman TEM-EELS XAFS 組成評価 RBS ERDA (水素分析) 密度評価 XRR RBS ERDA (膜厚) 硬度評価 ナノインデンテーション...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価 製品画像

    【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

    低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

    低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像(写真1)のコントラストはSTEM-EEL...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価

    充電前後の電極の様子およびLiの存在・分布を評価可能

    と言われています。 充電前後のSi負極に関して雰囲気制御環境下で解体、観察をしました。更に、FIBマイクロサンプリング法により断面観察用サンプルを作成し、Csコレクタ付きSTEM装置で形状観察とEELS測定を行い、Si電極の様子と電極中のLi分布を評価しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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