CPP15μmのフィルム厚を実現するラミネート加工『イチゴラミ』

PRCPP15μmの極薄押出しラミネート加工による、軽包装フィルムのご提案…

『イチゴラミ』は、基材等のOPPフィルムに接着剤を塗布しないで行う、広幅・ 薄肉のCPP押出しラミネート加工技術。 仕上がりのフォルム厚が薄いため、おもに軽包装用途に適しているほか、経済性 に優れ、環境にも配慮した加工法です。 また特定の樹脂を使用し、一般PPより低温でシールができるため、包装充填の 速度アップが可能で、加工生産量を増やすことができます。 【『イチゴラミ』が...

メーカー・取り扱い企業： ニットーパック株式会社

No.15 シリカアルミナ比の異なるY型ゼオライトのN2...

【資料】シリカアルミナ比の異なるY型ゼオライトのN2・Ar分子の吸着挙…

当資料は、SiO2/Al2O3の異なるY型ゼオライトのN2・Ar分子の吸着挙動に ついて、画像やグラフを用いてご紹介しています。 四重極モーメントを持つN2分子は、ゼオライトなどのAlカチオンと強く 相互作用し吸着（特異吸着）するといわれています。 N2@77.4 K、Ar@87.4 K吸着等温線および、それぞれのαsカーブ[相対圧:p/p0 (横軸)、各相対圧における吸着量(V...

メーカー・取り扱い企業： マイクロトラック・ベル株式会社

JIS P8131 ミューレン高圧形試験機による破裂強さ試験方法

ミューレン高圧形試験機を用いて紙・板紙並びにライナー及び段ボールの破裂…

JIS P8131の概要： ・この規格はミューレン高圧形試験機を用いて破裂試験強さ350kPa（3.57kgf/cm2）以上、5500kPa(56.1kgf/cm2)以下の紙・板紙並びにライナー及び段ボールの破裂強さ試験方法について規定しています。 ・また、この規格は段ボールのような破裂強さの強いものに使用される紙及び板紙のうち250kPa以上、350kPa 未満の紙及び板紙に適用してもよ...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

JIS P8124 紙及び板紙-坪量の測定方法

JIS P8124(紙及び板紙-坪量の測定方法)は、紙及び板紙の坪量の…

坪量とは紙及び板紙の単位面積の質量のことで平方メートル（ｍ2)当たりのグラム数（ｇ）で表します。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください（推奨）。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。...試験シーケンス： ・調湿坪量の測定では試験用紙の調湿と同じ条件で試験片を準備し、ひょう量します。 ・断裁器を使って、5枚の試験用紙から20枚以上の試験片を断...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

ペン型大気圧プラズマ装置P500-SM

【国産】超小型、微細な加工やラボ用途に適した、ペン型タイプの大気圧プラ…

洗浄・表面改質・親水化・接着強化に優れた、ペン型タイプの大気圧プラズマ装置の販売・レンタル・受託をおこなっております。 【特徴】 ■熱によるダメージは殆んどありません。 →熱に対して脆弱なサンプルへの処理が可能です。 (条件によってはサンプル表面を40℃程度に。) ■コロナ放電のような電流集中したアーク状態ではありません。 →処理対象物へ電荷のダメージを与えません。 ■窒素のみを...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体

技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 最先端の二次イオン質量分析（SIMS）装置であるNanoSIMS 50Lは、プローブ径約50 nmのイオンビームと、透過率の高い質量分析系の併用により、従来のSIMSに比べて約2桁高い空間分解能でイメージング測定を行うことが可能である。本稿では、NanoSIMS 50Lの装置の特徴と分析事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．分析装置の概要 ３．毛髪断面の分析事例 ４．...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

試料中の遺伝子組換え大豆を検出『遺伝子組換え検査』

★国内向け・海外向けのGMO検査に対応★ 消費者庁公定法による「不検出…

◆遺伝子組換え試験（ISO対応） ISO/IEC17025とは、試験又は校正を行う能力に関する一般要求事項を規定した国際規格です。本試験がISO/IEC 17025認定範囲試験であることを示す、認定シンボル付きの証明書を発行いたします。認定範囲における試験結果は、国際的One Stop Testingの有効性が確保されるため、国や制度の違いを越えて国際的に通用するものとなります。 ◆遺伝子...

メーカー・取り扱い企業： ビジョンバイオ株式会社

ウイルスベクター関連試験サービス

バイオセーフティ室（BSL-2/P2対応）を完備し、幅広いウイルスベク…

対象試料は、in vivo 遺伝子治療用製品やin vivo ウイルス治療用製品等です。 【特長】 ■ウイルスベクター関連品質試験を包括的にサポート ■バイオセーフティ室（BSL-2 /P2対応）を完備し、幅広いウイルスベクター種に対応可能 ■GMP省令準拠で管理された分析機器を保有 さらに詳しい情報は、「関連リンク」をご覧ください。...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィン分析科学研究所株式会社

ISTA 1H Non-Simulation

【輸送試験】　ISTA 1Ｈに規定されている試験シーケンスに従って一連…

ISTA 1H試験の概要： ・150lb (68kg)以上の個装包装された製品に適用します。 ・ISTA 1H は輸送中に発生する温湿度や大気圧、ハンドリングの衝撃などは考慮しておらず、輸送環境をシミュレーションする包装試験ではありません。 ・ユーザーは一貫性を持ったスクリーニング試験としてISTA 1H を利用する事ができます。 ・項目は1B試験の固定変位振動をランダム振動に変更した内容...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

分析 『肥料分析』

さまざまな分野の分析も承ります！

【主な分析項目】 ■水分 ■全窒素（T-N） ■リン酸全量（T-P2O5） ■全カリウム（T-K2O） ■水素イオン濃度 ■有機物 ■有機体炭素 ■炭素比（C/N比） ■重金属類（砒素、カドミウム、水銀、亜鉛、鋼　等） ※詳しくはカタログをご覧頂く...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社兵庫分析センター

【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価

Cuスペクトルの成分分離、定量、膜厚算出

Cu2p3/2スペクトルとCuオージェスペクトル等の解析から、Cu表面の結合状態・定量評価・膜厚評価が可能です。 主な応用例として、Cu配線のCMP処理・洗浄の評価、Cu電極の錆・変色調査が挙げられます。 各種処理を施したCu表面状態および酸化膜厚についてまとめます。 （クリーンルーム環境下にて処理し、直後に測定を行うことが可能です。）...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせくだ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

プラスチックケース ODシリーズ（壁掛・卓上型、防水・防塵対応）

丈夫で安価な防水・防塵プラスチックケース。

「プラスチックケース ODシリーズ」は、壁掛・卓上型で、P65相当の防水・防塵対応の電子機器用プラスチックケースです。 暖房・歓喜などの電機制御や押しボタンスイッチ・屋外無線システムなどの電子分野に最適です。 組立ビスが上面にあるため、メンテナンスが容易です。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...【特長】 ○材質はUL94V-2適合のポリカーボネート製で、...

メーカー・取り扱い企業： 摂津金属工業株式会社

【分析事例】Liの結合状態分析

他元素を波形解析することでLiの結合状態別存在比を算出出来ます

リチウムイオン二次電池において、SEI層(固体電解質界面)は電池の寿命に大きく関わる要素であり、そこに含まれるLiの化学種を知ることは重要です。Li自身はケミカルシフトが小さく直接の評価が困難ですが、結合相手元素（C,O,F,P）を波形解析で状態分離することにより、Liの結合状態別存在比を算出することが出来ます。サイクル試験前後のLiの状態評価をしたところ、試験後では試験前に比べて、Li2CO3,...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価

光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など厚さ数nm以下の極薄膜について、XPS分析によって膜厚を算出した事例をご紹介します。Siウエハ最表面のSi2pスペクトルを測定し、得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程か ら膜厚を見積もることが可能です（式１）。 XPSでは非破壊かつ簡便に、広域の平均情報として基板上の薄膜厚みを...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SRAの濃度換算について

SRA：広がり抵抗測定法

１. 斜め研磨した試料面に2探針を接触させ直下の広がり抵抗（Ω）を測定する ２. 標準試料の測定より校正曲線＊）を作成し、それを用いて抵抗を比抵抗（Ω・cm）に換算するまた、必要に応じて体積補正による分布の補正を行う ＊)校正曲線は導電型(p型/n型)、および面方位によって異なります ３. 比抵抗とキャリア濃度の関係式＊）を用いてキャリア濃度(/cm3) を算出する...詳しいデータはカタ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極浅注入プロファイルの評価

極浅い領域においてもドーパント分布・接合の評価が可能

デバイスの微細化により、極浅い領域における不純物の深さ方向分布評価の必要性が高まっています。 正確な評価を行うためには、通常よりも低いエネルギー(1keV以下)の一次イオンビームを用いたSIMS分析が必要になります。図1にBF2+ 1keV, P+ 1keV, As+ 1keVで注入されたSiウエハを一次イオンビームエネルギー250eV～300eVを用いて測定した例を示します。...詳しいデータ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

No.2 ポーラスシリカBET比表面積評価

【資料】ポーラスシリカ(TypeIV吸着等温線)BET比表面積評価につ…

当資料は、ポーラスシリカ(TypeIV吸着等温線)BET比表面積評価について、 グラフなどを用いてご紹介しています。 ある質量をもつ粉の比表面積(単位質量当たりの表面積)は、細孔の存在、 または、その粒子径が小さくなると増加します。この比表面積は、吸着等温線 から3つの仮定に基づいたBET理論により評価できます。 TypeII、IVの吸着等温線の場合、p/p0=0.05-0.3(...

メーカー・取り扱い企業： マイクロトラック・ベル株式会社

【分析事例】SiC中ドーパント元素の深さ方向分析2

目的に応じた分析条件で測定します

市販品SiCパワーMOS FETのドーパント元素であるN,Al,Pの深さ方向濃度分布を複数の分析モードで評価した事例を紹介します。 分析目的によってはそれぞれの元素を最適な条件で別々に測定せず、複数の元素を同時に測定することが可能です。多元素同時測定した場合と、それぞれの元素に着目した条件で測定した場合の事例を示します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ISTA 1G Non-Simulation

【輸送試験】　ISTA 1Gに規定されている試験シーケンスに従って一連…

ISTA 1G試験の概要： ・150lb (68kg)以下の個装包装された製品に適用します。 ・この試験は輸送環境をシミュレーションする試験ではありません。 ・ユーザーは一貫性を持ったスクリーニング試験としてISTA 1G試験を利用する事ができます。 ・項目は1A試験の固定変位振動をランダム振動に変更した内容となっており、ランダム振動と衝撃から構成されます。 ・ランダム振動では、所定の条...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

No.13 t-plot法によるメソポーラスゼ...(応用編4)

【資料】t-plot法によるメソポーラスゼオライトの構造評価（応用編4…

当資料では、t-plot法によるメソポーラスゼオライトの構造評価（応用編4） について、グラフや表を用いてご紹介しています。 NH4型ZSM-5を大気圧下で535℃、3h加熱処理し調製したH+型ZSM-5は、SEM 画像より、200nm前後の多面体層状粒子の凝集体で、粒子間はスリット型の 細孔からなることが確認できます。 H+型ZSM-5のN2、77.4K吸脱着等温線では、p/p...

メーカー・取り扱い企業： マイクロトラック・ベル株式会社

【ジブチルヒドロキシトルエン】※実績多数！試験分析承ります！

品質管理者必見！わずらわしい原料試験は、当社におまかせ下さい。当社は、…

【試験概要】 医薬品添加物規格 ・確認試験（1）（2）（3） ・吸光度 ・強熱残分 ・純度試験（1）溶状 ・純度試験（2）硫酸塩 ・純度試験（3）重金属 ・純度試験（4）p-クレゾール 原料引き受けに伴う試験は、大変ではないでしょうか。 本来の業務（製品開発、自社製品の管理）にコスト、人員、時間を有効に活用し、より一層自社の売上拡大を進めませんか。 当社は、富山県くすり政...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社安全性研究センター

【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価

低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価

低加速STEM観察とSTEM-EELS面分析により、バルクへテロ接合型太陽電池の活性層の混合状態の評価を行いました。評価にはITO上に活性層のみを成膜した試料を用いました。 低加速STEM像（写真1）のコントラストはSTEM-EELS像のS, Cの元素分布(写真2, 3)と対応しており、バルクヘテロ構造を反映していることが確認できました。また、Sの分布に偏りが認められ、表面側にP3HTが偏析して...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価

光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

シリコンウエハ上の自然酸化膜・シリコン酸窒化薄膜など、厚さ数nm以下の極薄膜について、サンプル最表面のSi2pスペクトルを測定します。得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程から膜厚を見積もります（式１）。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST