Luminex xMAP INTELLIFLEX System

PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

医薬品・化粧品・健康食品向け生産管理システム『JIPROS』

PR変動するGMP関連規制対応にお困りの方必見！医薬品・化粧品・健康食品製…

JIPROSは、医薬・化粧品・健康食品業界などの「中堅プロセス製造業」様向け 生産管理（販売・生産・原価）パッケージです。 標準の導入プロセスに「コンピュータ化システムバリデーション（CSV）」支援も含めており、 貴社のバリデーション対応を強力に支援します。 中堅プロセス製造業への豊富なシステム導入のノウハウを生かし、 ”DX推進をしたいが、専任ＩＴ担当がいない”、 ”バリデーション支援のできる...

メーカー・取り扱い企業： 日本電子計算株式会社 産業事業部 法人第1統括部

【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第…

分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM分析（クライオSEM分析）を行って評価が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

クールステージ 「SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ」

観察範囲選択用3.6mm、6mmおよび12mmの交換レンズ付き

デーベン社は全ての低真空から高真空SEM用に汎用性の高いクールステージを開発いたしました。 クールステージはSEMの空いているポートを介し、取付けおよび取外しがユーザーによって容易に行えます。 －25℃付近に試料を冷却させ、低真空下...

メーカー・取り扱い企業： エルミネット株式会社

真空発生器（マルチステージエジェクタ）　SEM-C

通気性のあるワークに適した高吸込量エジェクタ！

マルチステージエジェクタ SEM-Cシリーズは、高い吸込み能力を備えた真空エジェクタです。 多段式のノズルを内蔵しているため、吸込み量が多く、圧力も最大-80kPaまで上がります。 段ボールを始めとする包装機械関連の搬送や、...

メーカー・取り扱い企業： シュマルツ株式会社

［Slice&View］三次元SEM観察法

FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工（Slice）とSEMによる観察（View）を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning I...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ParticleX TC 異物自動解析SEM

異物・不純物となる粒子の検出から、サイズ計測、元素分析までを完全自動化…

Phenom ParticleX TC 異物自動解析SEMは 自動車製造における完成車や部品に含まれる 異物、不純物であるコンタミネーション(コンタミ)の 検出からサイズ計測、元素分析までを自動で行う 粒子自動分析装置です。 従来の重量分...

メーカー・取り扱い企業： 極東貿易株式会社

【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価

Slice&Viewデータから各物質の体積計算が可能

Slice&View（FIB加工とSEM観察を繰り返し数十枚の連続画像を得る手法）のデータを用いて、粒子などミクロンオーダーの体積計算を行うことが可能です。これにより、一定体積中の各物質の存在比率や平均体積等の情報を得ることができます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SEM装置での歪み評価

EBSD：電子後方散乱回折法

TEM（NBD：Nano Beam Diffraction）のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察…

【掲載内容詳細（抜粋）】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 　・目的：ばね材の加工工程（伸線φ1.00mm→0.07mm）における金属組織変化を調査 　・手法：SEM-EBSD法 　・結果：伸線後に金属組織が変化している様子を確認 ■2相ステンレスの相解析 　・分析事例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手…

SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部に取り出すことができます。 この起電流をEBIC（Electron Beam Induced Current）と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可視化す...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SIM］走査イオン顕微鏡法

高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能

・高分解能（加速電圧30kV：4nm）でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能（Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る（SIM：4nm, SEM：0.5nm） ■MST所有装置の特徴 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域（数nm～数十μm）のエッチングによる任意形状加工が可能 （通常加工サイズ：～20μm程度） ・SEM・SEM-STEM・TEM像観察用試料作製（特定箇所の断面出しが可能） ・微細パターン（数μm～数十μm）のデポジション薄膜形成が可能（C・W・Ptの成膜） ・高分解能（加速電圧30kV：4n...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SC2000 イオンミリングシステム

高エネルギーおよび低エネルギーイオン銃搭載SEM試料前処理システム！

高エネルギーイオン銃の高速斜面加工に続いて低エネルギーイオン銃による表面ソフトクリーニングおよび仕上研磨が行えます。 メカニカルに研磨したSEM試料の傷やムラの除去、さらに、EBSD解析用に、ミリング状況を確認しながら仕上研磨を行うことができます。 【仕様】 ■本体重量：約60Kg ■本体寸法：660(w)×760(d)×760...

メーカー・取り扱い企業： エルミネット株式会社

【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察

アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較

ウイルスによる感染症予防のためマスク使用の頻度があがっています。しかしながらその使用方法や耐性についての根拠となる構造的なデータは乏しい状況です。本資料では、アルコール消毒前後のマスク表面の繊維をSEMで観察した結果を紹介します。アルコール消毒後では、繊維の形状が変化し、また消毒前の特徴的な凸形状が少なくなっていることがわかりました。 測定法： SEM 製品分野：日用品、ウイルス対策関連品 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Au　金ナノ粒子

生物製剤やイメージングの用途向けに、コロイド状態の金ナノ粒子 / 粒径…

金のナノ粒子は生体分子を活用する可能性から生物医学界で特別に興味がもたれており、紫外線・可視光カメラや、TEM、SEMなどを含む幅広いイメージングシステムによって、容易に観測する事が出来ます。金ナノ粒子はプラズモニクス関連やバイオセンサー開発、免疫染色から、X線コントラストを高める化学物質やSEMやTEM、UV-...

メーカー・取り扱い企業： オプトシリウス株式会社

世界のイオンミリングシステム市場調査レポート（～2027）

グローバルにおけるイオンミリングシステム市場（～2027）：製品タイプ…

市場を総合的に分析し、序論、調査方法、エグゼクティブサマリー、市場概要、市場インサイト、製品タイプ別分析（断面ミリング、平面ミリング）、電子顕微鏡タイプ別分析（集束イオンビーム、走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM））、サンプル材料別分析（セラミック、複合材、ガラス、金属、紙）、エンドユーザー別分析（法医学研究所、地質研究機関、製造工場、医療研究機関）、地域別分析（南北アメリカ、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マーケットリサーチセンター