医薬品・化粧品・健康食品向け生産管理システム『JIPROS』

PR変動するGMP関連規制対応にお困りの方必見！医薬品・化粧品・健康食品製…

JIPROSは、医薬・化粧品・健康食品業界などの「中堅プロセス製造業」様向け 生産管理（販売・生産・原価）パッケージです。 標準の導入プロセスに「コンピュータ化システムバリデーション（CSV）」支援も含めており、 貴社のバリデーション対応を強力に支援します。 中堅プロセス製造業への豊富なシステム導入のノウハウを生かし、 ”DX推進をしたいが、専任ＩＴ担当がいない”、 ”バリデーション支援のできる...

メーカー・取り扱い企業： 日本電子計算株式会社 産業事業部 法人第1統括部

Luminex xMAP INTELLIFLEX System

PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP：Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界（対応粒界）観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

溝、稜線共に1μm以下のシャープ形状を実現！【導光板金型】

ピッチ精度は1μm以下、面粗さＲａ２０ｎｍ以下で６５インチサイズまで対…

下 ■ピッチ50um ■ピッチ精度1um ■形状精度1um ■面粗さRa0.02μm以下 ■防震 ■湿度・温度管理（23±0.05℃） ■レーザ顕微鏡測定、機上マイクロスコープ測定、SEM観察、等の各種検査に対応 ■高清浄度洗浄に対応 【材料】 ■無電解ニッケルメッキ ■アクリル及び各種ポリマー ■アルミ、銅、真鍮 ※詳しくはお問い合わせいただくか、カタログをダ...

メーカー・取り扱い企業： 東レ・プレシジョン株式会社

【サンプルテスト可能】ガスアトマイズ装置

真空排気後、不活性ガスをチャンバー内に置換させた後、高周波誘導溶解によ…

【サンプルテスト委託の概要】 ■テスト期間は1日で完了 ■ご要望に応じてグローブボックスでの回収も可能（オプション） ■ご要望に応じて即座にSEM評価 ■磁性粉末、電池、鉄鋼関係、3Dプリンタ、化学メーカーなどの他にも、対応可能 ■納期は最短1週間～1ヶ月からご相談可能 　(繁忙時などはお時間が掛かる場合がございます。ご了承ください)...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社真壁技研

［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS： Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲（B～U）の同時分析が可能（付属装置によりBeの検出も可） ・0.1nmφ～の細い電子線プローブ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

微小領域（数十nm～サブミクロン程度）の定性・定量が可能 ・主成分元素の深さ方向分析・線分析・面分析の測定が可能 ・SiやAl等、幾つかの元素については酸化物状態及び金属状態の評価が可能 ・SEM像による着目箇所の特定が可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

キャスターカタログ　ダイジェスト版

車輪サイズ40～125ｍｍ、取付部もさまざま選択可能。多種多様なキャス…

　・RU　ほか ■受け皿 ■プランジャー 　・TSP10 ■メットキャスター 　・HG・HL・HA 　・HT・HE・HN・HF ■単輪キャスター 　・SR・KR 　・SEL・SEM　ほか ■ハンマーキャスター 　・420E・415E 　・420ER・415ER　ほか ■アジャスター 　・MJA 　・MTA　ほか ■台車 　・コンパクトキャリー 　・サイレン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東信製作所

雰囲気制御下での処理

サンプル本来の状態を評価することが可能

・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能 適用可能な手法：SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES、XRD、Raman、TOF-SIMS 等...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

真空チェンバー用プラズマクリーニング装置『GV10x型』

真空度の復帰からTEMグリッド、支持膜の親水化処理がこの1台で簡単に！…

『GV10x型』は、精密機械器具、電気・電子機械器具の製造、組み立て、賃貸、補修、輸出入及び販売などを行っている、エルミネットが取り扱う製品です。SEM・TEM・XPS・SIMS等のチェンバー内の蓄積された有機系コンタミネーション除去で、真空度の復帰からTEMグリッド、支持膜の親水化処理がこの1台で容易に行えます。 【特長】 ■蓄積された...

メーカー・取り扱い企業： エルミネット株式会社

【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価

結晶構造から活物質の劣化状態を評価

価した事例を紹介いたします。更にin situ（オペランド）XRD測定を行うことで、各充電状態（SOC：State of Charge)の結晶構造評価も可能です。 測定法： XRD・Raman・SEM, 製品分野：二次電池 分析目的：組成評価・同定、組成分布評価、形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】リチウムイオン二次電池　Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

活物質の候補の一つですが、充放電時の非常に大きな体積変化のためにサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来の形状を評価で...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

金属粉偏平加工／扁平加工

「金属粉の偏平加工技術」のご紹介　扁平化・鱗片化・薄片化！　アスペクト…

ルの試作から量産まで委託加工を受け付けております。 ■当社で測定可能な物性 ・粒度分布（レーザー回折散乱式） ・見かけ密度（嵩密度、タップ密度） ・比表面積（BET） ・保磁力 ・SEM像 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： キンセイマテック株式会社

【資料DL可：AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分…

【掲載内容詳細（抜粋）】 ■食品(そうめん)の構造解析および弾性率測定 　・目的：食品(そうめん)の構造解析および弾性率測定を実施 　・手法：ウルトラミクロトーム、SEM/EDX、 熱分析(動的粘弾性測定DMA)、AFM(弾性率マッピング) による多面的解析 　・結果：小麦でんぷん粒、グ...

メーカー・取り扱い企業： セイコーフューチャークリエーション株式会社

【導入事例】ZnO薄膜ダブルテクスチャ 表面形状の定量化

形状分析システム「ShapeAnalyzer」導入で人の手で行っていた…

マイズにより外側の大きなだんご形状の自動定量化を実現しました。 （画像提供：東京工業大学　小長井・宮島研究室＆山田研究室） 【形状分析システム　ShapeAnalyzer】 電子顕微鏡(SEM)画像などから特定の形状を分析し、ヒストグラムや統計値を表示します。 １．ソフトに画像をドラッグし、２．キーボードをワンクリック。たったの２ステップで研究者が数時間かけていたつらい作業がわず...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クレブ

Deben社製『テンサイルステージ』

【リアルタイムで根イブ構造の物理的変化を観察可能！】貴重な材料の引張、…

Deben社製『テンサイルステージ』は、従来の引張試験で行われなかった「負荷が加わっているリアルタイムの根イブ構造の物理的変化の観察」を可能にした製品です。 SEM、AFM、光学顕微鏡、XRD、XRM(μXCT)などの試料ステージに搭載し、測定試料に応力（引張、圧縮）を加え、形状の変化が測定できます。 【主な特長】 ■mNから20kNまでのロードセル...

メーカー・取り扱い企業： エルミネット株式会社

分析用標準物質/標準試料『物理・物性標準物質』

世界各国からの情報を集め物理・物性試験に役立つ標準物質をユーザーへ供給…

【取扱製品例】 ■示唆熱分析（DSC）用標準物質 ■粒子径標準物質 ■比表面積標準物質 ■微少領域分析用標準物質（EPMA、SEM、EDX、XRF、TEM、オージェ他校正用） ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 西進商事株式会社