• 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 透過電子顕微鏡関連製品 製品画像

    透過電子顕微鏡関連製品

    グリッド(メッシュ)をはじめTEM観察用試料支持膜などを掲載!

    当カタログは、電子顕微鏡観察用試料支持膜ならびに試料作製技術 関連製品を中心とした製品を取り扱う株式会社ステムのカタログです。 “MKS単位”を基準とした「ステムミクロンピッチグリッド」をはじめ TEM観察用試料支持膜や、SEM用試料台・ホルダー・ケースなどを 掲載しております。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■グリッド(メッシュ) ■TEM観察用試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ステム

  • [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 製品画像

    [(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法

    ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

    TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・FIBで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 透過電子顕微鏡シミュレーションソフト BioNet BesTEM 製品画像

    透過電子顕微鏡シミュレーションソフト BioNet BesTEM

    TEM/STEM像を忠実にシミュレート!タンパク質試料やウイルスにも対…

    『 BioNet BesTEM(バイオネット ベステム)』は、 日本電子株式会社(JEOL)や、米FEI社をはじめとする 国内・海外製の6極子型収差補正電子顕微鏡もシミュレート可能な、 透過電子顕微鏡画像シミュレーションソフトです。 収差補正電子顕微鏡が持つ光学系の影響を考慮したビーム強度、 Ronchigram(ロンチグラム)が計算可能。 マテリアル系のシミュレーションだけで...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社バイオネット研究所

  • ウルトラミクロトーム加工 製品画像

    ウルトラミクロトーム加工

    ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

    ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。 室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固定することで超薄切片を作製することが可能です。...1.切り出し 2.樹脂包埋 3.粗トリミング ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 製品画像

    JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

    当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採…

    子分解能観察を提供します。 〇特長 ・球面収差補正装置ASCOR (Advanced STEM corrector) ・自動収差補正ソフトウェアJEOL COSMO (Corrector System Module) ・新ABF (Annular Bright Field) 検出器システム ・Perfect sight検出器 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせく...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • Arイオンミリング加工 製品画像

    Arイオンミリング加工

    機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

    Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...1.貼り合わせ サンプル同士もしくは支持基板とを接着剤で貼り合わせます。 2.切断 数mmの厚みで切り出します。 3.研磨 機械研磨を行い、貼り合わせ界面が中心になるように薄くします。 4.Arイオンミリング ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • JEM-F200 多機能電子顕微鏡 製品画像

    JEM-F200 多機能電子顕微鏡

    省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電…

    なるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 〇特長 ・スマートデザイン ・Quad-Lens condenser system ・Advanced Scan system ・Pico stage drive ・自動ホルダー挿入・取り出し装置 ・ECO モードを標準搭載 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

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