• 【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価 製品画像

    【分析事例】成膜成分のウエハ裏面への回り込み評価

    ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

    半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点からウエハ裏面に残留する金属を除去することが求められており、金属成分の残留量を定量的に把握することが重要です。 ベベル部から500umの範囲で裏面に残留する金属濃度分布を調査するため、TOF-SIMSを用いて評価を行いました。TOF-SIMSはベベル部近傍のみの金属成分を検出する空間分解能を有しており、濃度既知の標準試料を用いることで濃度を定量的に算...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価 製品画像

    【分析事例】注射針表面のコーティング膜評価

    撥水膜・塗膜・皮膜の分布状態や被覆状態の可視化

    医療用注射針は金属管の表面にシリコーンをコーティングすることで、穿刺抵抗を低下させ患者の身体的負担を低減させています。針の性能を保つためには、全体がコーティング膜に覆われていることが重要です。注射針先端の開口部分についてTOF-SIMSでイメージング分析を行い、コーティング膜が被膜されているか評価を行った事例を紹介します。TOF-SIMSは最表面の情報を検出するため、下地の元素を検出することなくコ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機成分洗浄効果の評価 製品画像

    【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

    300mmウェハをそのまま測定できます

    TOF-SIMSには有機物、無機物を同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できる、300mmウェハのまま評価可能という特徴があり、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Si表面の有機汚染の除去効果の分析事例をご紹介します。XPSでアミン系有機物は極微量であることが確認されている試料について、TOF-SIMS分析を行いました。微小領域においても、このように極微量の成分まで測定可能です...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】食品用の耐熱用PETボトルの積層構造分析 製品画像

    【分析事例】食品用の耐熱用PETボトルの積層構造分析

    TOF-SIMSを用いてPETボトルの層ごとの成分を特定可能

    PETボトルはわずかな空気(酸素)を透過するため、PETボトル内の飲料は、外部からの酸素侵入の影響を受けやすくなり、品質が劣化します。そのためにPETボトルには様々な工夫がなされており、例えば図1のように酸素吸収層をPET間に挟むことで飲料の劣化を防ぎ、おいしいさが保たれています。 本資料では、酸素吸収層がどのようなものから構成されているのかを確認するために、TOF-SIMSで分析した結果を紹介...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価 製品画像

    【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価

    試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

    樹脂中に存在する有機系の異物を評価する際、試料や分析の条件によってはそのままの状態での評価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。 エポキシ系樹脂中に混入した数10μmの異物を断面加工により露出後、TOF-SIMSで評価しました。異物成分の同定と、分布状態の確認ができました。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】顔料・色素の分散の観察 製品画像

    【分析事例】顔料・色素の分散の観察

    TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定

    ポリエチレン表面に分散した青色色素「Cuフタロシアニン」の分布を調べました。 TOF-SIMS分析にて、1μmの色素系有機物の分布を捉えることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

    TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評…

    ポリイミドは非常に耐熱性が高く電気絶縁性も優れていることから、電子部品をはじめとして様々な分野で用いられている材料です。表面改質を行うことで他の材料との密着性を高めることができることから、改質層の状態を把握することが重要です。今回、有機成分が壊れにくいスパッタ条件にてTOF-SIMS測定を行い、深さ方向にポリイミド成分を評価しました。GCIB(Arクラスター)をスパッタに用いると着目する有機成分を...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • PV(太陽電池)各種評価事例集 製品画像

    PV(太陽電池)各種評価事例集

    太陽電池(PV)の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…

    PV EXPO2013(国際太陽電池展)展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。 太陽電池の研究・開発・製造に必要な部品・材料、装置、セル・モジュールが一堂に出展する展示会『PV EXPO 2013』で使用したパネル資料全6枚のご紹介です。 [掲載内容] 有機薄膜太陽電池の活性層の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 雰囲気制御下での処理 製品画像

    雰囲気制御下での処理

    サンプル本来の状態を評価することが可能

    ■特徴 ・雰囲気(水分・酸素)を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能 ・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能 適用可能な手法:SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES、XRD、Ra...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウム二次電池負極表面の劣化評価 製品画像

    【分析事例】リチウム二次電池負極表面の劣化評価

    大気非暴露で前処理から測定・観察まで行います

    容量低下が見られるリチウムイオン二次電池負極表面を大気非暴露で評価した結果、100~200nm程度のCoを含む付着層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。 適用可能な手法観察手法:FIB‐TEM, SEM 表面分析:SIMS,XPS,AES,TOF‐SIMS その他構造評価等も可能です。 測定法:SEM・FIB・TEM・XPS・EDX 製品分野:二次電池 分析目的:化学結...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 出張講座~分析技術セミナーを出張開催致します~ 製品画像

    出張講座~分析技術セミナーを出張開催致します~

    新入社員研修や技術者向け社内研修など、ご要望に応じて講師を派遣させてい…

    お客様の会社での技術者向け社内研修に、講師を派遣する講座を承っています。分析に関する専門知識習得、理解度向上にお役立てください。 【分析講座受講のメリット】 ■新入社員研修や移動・転籍者向け技術研修としてご活用いただいております。 ■弊社の現役の分析技術者が講師を務めます。 ■個別企業様で必要とされる内容に応じた研修プログラムの作成もお引き受け致します。 ■機密情報を気にすることなく...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 剥離原因となる金属界面の有機物評価 製品画像

    剥離原因となる金属界面の有機物評価

    TOF-SIMSで金属界面の有機物を深さ方向に評価できます

    金属界面の有機物は密着不良や剥がれの原因となります。その密着不良の分析には、物理的に剥離加工を行い、剥離した面について定性分析を行うことが有効です。(参照:分析事例C0198)。一方、剥離加工ができない場合も多く、その場合にはスパッタイオン源を用いて深さ方向に分析をすることが有効です。 本資料では、金属界面における薄膜もしくは二次汚染程度の有機物を深さ方向に定性分析した事例を紹介します。結論とし...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価 製品画像

    三次元培養ヒト皮膚を用いた皮膚透過性評価

    培養ヒト皮膚の様々な評価(形態観察、成分の分布評価、定量分析)が可能で…

    ■形態観察 凍結切片を染色(HE染色、ナイルブルー染色等)することで組織の形態を確認できます。 ■蛍光顕微鏡観察 透過成分が蛍光を有する場合、蛍光顕微鏡で蛍光成分も観察できます。 ■質量顕微鏡観察 成分の分布評価ができます。時間毎の切片で経時変化も確認できます。(TOF-SIMS) ■定量分析 皮膚中の蛍光成分量の経時変化も確認できます。(LC/MS/MS、蛍光検出器など...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版) 製品画像

    プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 技術情報誌 201907-01 全固体電池設計・開発のための分析 製品画像

    技術情報誌 201907-01 全固体電池設計・開発のための分析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 全固体電池の本格的普及に向け、特性向上及び安全性、耐久性の確保など、様々な課題を解決する必要がある。電解液系リチウムイオン電池とは異なり、固体電解質の材料物性値など、新たな評価技術への取り組みは今後重要になると考えられている。本稿では全固体電池の設計・開発において、「材料開発」、「電池作製プロセス改善」に有用な、最新の分析評価技術について事例も交え紹介する。 【目次】 1.はじめに...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池負極の劣化評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池負極の劣化評価

    電池セルの作製・劣化試験・解体・劣化による状態変化の調査まで一貫評価

    正極にLiCoO2、負極にグラファイト、電解液にLiPF6/EC:DECを用いて作製した電池セルを60℃の恒温槽にて4.2V充電状態で約1週間放置する劣化試験を行いました。その後、Ar雰囲気中で解体・洗浄し、負極グラファイトのTOF-SIMS分析を行いました。 試験前ではバインダおよび電解質塩由来のフラグメントが確認され、試験後では電解質塩の劣化により生成したと考えられるLi3PO4やPF3Oお...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析

    雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

    大気暴露することで劣化が生じる有機材料について、GCIB(Arクラスター)を用いて劣化成分を深さ方向に分析した事例を紹介します。実験には有機EL原料のルブレンを用いました。大気暴露したサンプルをTOF-SIMSで測定をした結果、ルブレンペルオキシドと推定される質量(m/z 564)や、低分子のベンゼン系の質量(m/z 77,105)が検出されました。これらの劣化に起因する成分は、表面から約1μm以...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】汚染原因となる工程の調査 製品画像

    【分析事例】汚染原因となる工程の調査

    手袋由来の汚染の評価

    半導体デバイス製造において汚染工程を調べるため、不良の原因となる薄い付着物が何に起因するかを調べる必要があります。EDXでCが検出され、XPSで定量を行った付着物について、TOF-SIMSで分析を行いました。各工程で使用している標準試料の手袋と比較をしたところ、手袋A, Bと似た傾向が見られました。更に、標準試料の手袋をSiウエハに付着させて検証をしました。その結果、手袋Aに類似していることがわか...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価 製品画像

    【資料】二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価

    負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプ…

    リチウムイオン二次電池の負極での容量低下の一因として、 活物質と電解液の界面反応により活物質表面に様々なリチウム塩化合物が 複合化したSEI(SolidElectrolyteInterphase)と呼ばれる被膜が 形成されることが挙げられています。 電池の性能向上のためには、SEI被膜の組成・厚み・化学結合状態の 制御が求められています。 当資料では、車載用電池の炭素系の負極活...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析 製品画像

    【分析事例】高分子フィルム中の添加物成分分析

    フィルム中の添加剤の表面およびGCIBを用いた深さ方向の分布評価

    食品用ラップフィルムは製造過程での熱暴露に対する安定性や、可塑性を持たせるために添加剤が用いられる場合があります。これらの添加剤は調理条件下で変化することなく安定に存在することが求められます。本事例では添加剤の一つであるIrgafos168の存在状態が加熱前後で変化(ブリードアウト)するかについてTOF-SIMSを用いて調査した結果をご紹介します。※GCIB:Gas Cluster Ion Bea...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】酸化ガリウムGa2O3膜表面近傍の金属元素濃度評価 製品画像

    【分析事例】酸化ガリウムGa2O3膜表面近傍の金属元素濃度評価

    極浅い領域でも高感度に分析

    酸化ガリウムGa2O3は、SiCやGaNよりもバンドギャップが広く、優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。ウエハの開発には、特性を左右する不純物濃度の制御が重要です。本資料ではGa2O3膜の表面近傍について、金属元素の定量分析を行った事例を示します。 TOF-SIMSでは極浅い領域でも高感度に評価が可能です。...詳しいデータはカタロ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価 製品画像

    【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価

    微小・極薄の残渣をイメージとして捉えます

    近年のPbフリーハンダ導入に伴い、フラックス成分も改良(活性度が高い、熱耐性がある等)が進み、腐食性が大きくなり、残渣の問題も重要度を増しています。そのため、フラックスを除去することが求められています。プリント基板電極部の異物について、TOF-SIMSを用いた分析を行った結果、フラックスの成分が検出されました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL(OLED)発光層の解析 製品画像

    【分析事例】有機EL(OLED)発光層の解析

    発光層のゲストの定量・膜厚評価が可能

    有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし実用化が進みつつあります。発光層では発光効率を高めるために、ホスト分子中にゲスト分子がドーピングされています。今回、有機EL表示素子において赤色画素の発光層材料の同定を行いました。また、新規に段 差計を用いた発光層の膜厚評価や発光層中におけるゲスト材料の定量を行いました。発光層中のゲスト分子の定性・定量ならびに発光...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】毛根の成分分析 製品画像

    【分析事例】毛根の成分分析

    TOF-SIMSを用いた生体成分のコレステロール・脂肪酸の可視化

    人の毛髪(抜け毛と引き抜いたもの)の毛根部をSiウェハに押し付け、転写された成分についてイメージング測定(面分析)を行いました。抜け毛は毛根の先端にのみ、■K, ●リン脂質が強い傾向が見られます。また、毛根部全体には、■CnHmCOOH(n=17~31)の脂肪酸(人の皮脂由来)、●角栓由来のアミド系成分、◆質量が500~700の含窒素有機酸、◆質量が800付近の有機物が凝集していると考えられますが...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析 製品画像

    【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析

    GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に…

    フィルムの機能性は素材・厚み・層構造等で決まることが知られています。 今回は食品用ラップフィルムとして一般的に用いられるポリエチレン系多層フィルムの層構造を評価しました。 FT-IRで主にポリエチレンで構成されていることを確認したフィルムに対し、GCIB(Arクラスター)をスパッタに用い、TOF-SIMSで深さ方向に測定することで、10μmの厚みの中でポリエチレンとナイロン6とが積層されてい...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価 製品画像

    【分析事例】高分子表面のイオン照射による損傷層の評価

    GCIB(Arクラスター)を用いることで損傷層の成分・厚さ評価が可能

    高分子材料の表面にイオン照射を行うことにより、表面特性の変化が生じます。この変化を利用し、機能性材料の開発など広い分野で研究が行われています。イオン照射後、表面状態にどのような変化が生じたのか評価することは、効率的な研究・開発に重要です。 TOF-SIMS分析では、スパッタイオンビームにGCIB(Gas Cluster Ion Beam)を用いることで、高分子材料表面のイオン照射による損傷層(ダ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】製剤中農薬原体のイメージング分析 製品画像

    【分析事例】製剤中農薬原体のイメージング分析

    製剤中の農薬原体・無機成分の分布を可視化できます

    TOF-SIMSは成分を分子イオンの質量から同定するため、蛍光物質などの標識をせずにイメージング分析が可能です。また、有機成分だけではなく無機成分も測定することにより、農薬原体だけでなく、製剤に混合させる鉱物質もイメージングすることができます。今回、農薬原体の配合比率が異なる2種類の 製剤中の農薬原体や無機成分を可視化しました。製剤A(配合比率高)は農薬原体が製剤に広く分布していたのに対し、製剤B...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】フッ素系潤滑剤・高分子の同定 製品画像

    【分析事例】フッ素系潤滑剤・高分子の同定

    汚染成分を同定し、汚染発生工程を推定

    フッ素系の化合物はさまざまな種類が存在します。汚染原因調査の際、フッ素系の種類の定性を行うことで、原因となった工程を調べることが可能となります。そこで、表面敏感なTOF-SIMSを用いて水はじきのよい場所に何が付着しているか分析を行いました。 各工程で使用しているフッ素系のオイルは、種類によってフラグメントパターンが異なることを利用し、指紋照合を行ったところ、工程Bのオイルに相当する物質が付着し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】眼球に投与した薬剤成分の分布評価 製品画像

    【分析事例】眼球に投与した薬剤成分の分布評価

    眼球の加工と薬剤成分の可視化(イメージング)が可能です

    投与薬剤が生体内でどのように分布しているかを知ることは、薬剤開発のうえで重要な情報となります。 本事例では魚類の眼球硝子体内に薬剤を直接投与し、眼球断面で薬剤成分の分布を評価しました。 結果、薬剤を投与した付近から薬剤成分が強く検出され、眼内に分布している様子が得られました。 質量顕微鏡であるTOF-SIMSを用いることにより、眼球をはじめとした様々な生体器官の薬物動態への応用が可能です。....

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価 製品画像

    【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価

    水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可…

    金属の異物を定性評価したい場合、最表面のみを分析すると異物表面に存在する酸化膜の情報となってしまうため、異物そのものの情報が得られないことがあります。 TOF-SIMSにより深さ方向に分析を行うことで、酸化膜より深い位置にある異物そのものの組成・状態評価が可能です。 本資料では、Al系の異物と思われる3箇所の状態を評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定 製品画像

    【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

    ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

    液晶パネルの量産化において、欠陥(異物・汚れ)を除去することが求められています。そこで、原因となる異物・汚れが何に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSではμm~cmオーダーの洗浄残渣をイメージとして捉えることが可能です。また、標準スペクトルとの比較により、成分の推定が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リライト材料の層構造分析 製品画像

    【分析事例】リライト材料の層構造分析

    無機・有機成分の層構造解析と分子情報の可視化が可能

    情報記録材料であるリライト材料を用いた一般的なポイントカードの断面構造について、各層に分布する材料の分子情報や質量を可視化した事例をご紹介します。 ポイントカードの断面を、TOF-SIMSを用いて分析を行いました。イメージ像により、構成分子や添加剤の存在が確認できました。また、重ね合わせ像によりそれぞれの位置関係が明確となり、構造の把握ができました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】300mmウエハ最表面の異物の評価 製品画像

    【分析事例】300mmウエハ最表面の異物の評価

    異物検査装置との座標リンケージ機能で特定異物の評価が可能

    異物検査装置で確認された異物の成分をクリーンルーム設置のTOF-SIMSで特定することが可能です。 CMP洗浄後の異物を評価し、着目の異物から、Cuと炭化水素成分を検出しました。異物周辺には、広範囲で同じ成分が分布していました。このことから、この異物はパーティクルというよりはむしろ、ウォーターマーク状の洗浄残渣であると推定されます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL素子の劣化評価 製品画像

    【分析事例】有機EL素子の劣化評価

    雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

    有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、通電により輝度が劣化したものと非通電のものの比較を行いました。 その結果、TOF-SIMSのスペトルにはサンプル間で差は見られませんでした。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 202201-02 fsLA-ICP-MS 製品画像

    技術情報誌 202201-02 fsLA-ICP-MS

    フェムト秒レーザーアブレーション-誘導結合プラズマ質量分析法は生体組織…

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 固体試料の局所における無機元素を迅速かつ高感度に分析可能なfsLA-ICP-MS(フェムト秒レーザーアブレーション-誘導結合プラズマ質量分析法)は、生体組織中に極微量で存在する元素の二次元分布解析に有用な手法として注目されている。本稿では、fsLA-ICP-MSの特...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【分析事例】C60,GCIBを用いたアルカリ金属の深さ濃度分布 製品画像

    【分析事例】C60,GCIBを用いたアルカリ金属の深さ濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にC60(フラーレン)とGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動が抑えられることがわかりました。この測定を行うことで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面および有機膜の分散状態評価 製品画像

    【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面および有機膜の分散状態評価

    雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です

    有機デバイスは酸素や水に影響されやすい材料を使用したデバイスです。MSTでは雰囲気の影響を最小限に抑えたサンプル搬送・加工方法・測定環境を整え分析を行っており、より真に近い状態評価が可能です。XPS分析で有機膜と電極の界面の状態評価を評価しました。有機膜表面に存在するチタニアの組成、結合状態を確認できます。TOF-SIMS分析でバルク・へテロ構造有機薄膜太陽電池の有機膜中のP3HT (p型有機半導...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価 製品画像

    【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価

    GCIB(Arクラスター)を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可…

    ポリカーボネート(PC)は熱可塑性プラスチックの一種であり、優れた透明性・耐衝撃性・耐熱性などの特長をもち、太陽電池パネル・メガネレンズ・CD・車載部品・医療機器の材料として、幅広く活用されております。今回、スパッタイオンビームにGCIB(Arクラスター)を用いてTOF-SIMS分析を行い、PC表面の劣化層の評価を行いました。 ※GCIB:Gas Cluster Ion Beam...詳しいデー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Li二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価 製品画像

    【分析事例】Li二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価

    電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで

    二次電池の劣化のメカニズムを調べる際に、電極表面の付着物を解析することが重要となっています。MSTではサンプルを雰囲気制御下でTOF-SIMS測定を行いますので、電極最表面の化学状態を大気暴露による変質無く評価することが可能です。 また、充放電サイクル試験から電極表面の測定まで一貫して行うことで、充放電の状態と電極表面の付着物の状態の相関を調べることができます。...詳しいデータはカタログをご覧...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析 製品画像

    【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析

    サブμmオーダーの異物、微小領域の定性・イメージ分析が可能

    TOF-SIMSは、着目箇所を局所的に分析して得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時に可能なことから、異物や微小領域の評価に有効です。 本資料は、サブμmオーダーの微小領域の分析例をまとめます。 層構造の試料上にFIBでスパッタ加工を行ったサンプルを、TOF-SIMSで測定をしました。サブμmオーダーの微小領域を評価をすることが出来ています。...詳しいデー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い 製品画像

    【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    配線材料として用いられる銅(Cu)は空気中で酸化膜を生じますが、保管環境の違いによる膜厚の差を評価した事例をご紹介します。アルミホイルで包んだ銅(Cu)と、ビニール袋に入れた銅(Cu)をそれぞれ40日間保管し、TOF-SIMSにて酸化膜厚の測定を行いました。また、約20日間にわたる継続した調査により、再現性が得られていることを確認しました。 TOF-SIMSは酸化物や金属など無機物の深さ方向分析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】シリコン(Si)酸化膜の状態評価 製品画像

    【分析事例】シリコン(Si)酸化膜の状態評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    TOF-SIMSで得られる分子情報の深さ方向分析では、(1)深さ方向分解能が良い、(2)酸化物・窒化物・ふッ化物・炭化物・合金・金属など無機物の化学状態の区別が可能、(3)微量な状態の評価が可能、(4)OHのモニターが可能、(5)相対的なサンプル間の比較(膜厚・組成)が可能、(6)イメージ分析により表面数nm程度について状態の分布を視覚的に捕らえた評価が可能です。 自然酸化膜と酸化膜の結果をまと...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】最表面シラノール基の評価 製品画像

    【分析事例】最表面シラノール基の評価

    TOF-SIMSでシラノール基の定量的な評価が可能です

    ガラスやウエハ表面のシラノール基(Si-OH)の存在は、表面の撥水性や親水性などの特性に影響を与えます。そのため、その後の表面処理に影響を与える可能性が高く制御が必要となります。 シラノール基の定量をTOF-SIMSで行った事例をご紹介します。評価を行うにあたり、濃度の異なる数種類のサンプルを用いて検量線を作成しました。測定例では、材質・状態の異なるサンプル表面のシラノール基を比較しました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析 製品画像

    【分析事例】染料・顔料を塗布した紙の分析

    TOF-SIMSにより染料・顔料由来の分子情報の可視化が可能

    カラープリンターは紙表面にインクを用いて印字します。インクには、染料・顔料が含まれており、色により特徴的な分子情報が存在します。この分子情報を可視化することで、紙表面のインク成分の分布や、紙断面においてどの程度の深さまでインク成分が浸透しているかの情報を得ることが可能となります。 以下に、分子情報を可視化したTOF-SIMSによる「紙表面のイメージ結果」をまとめます。 TOF-SIMSは、10...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウォーターマーク原因調査 製品画像

    【分析事例】ウォーターマーク原因調査

    TOF-SIMSを用いた最表面の汚染源の特定

    TOF-SIMSでは分子に由来する二次イオンを検出し、その分布を可視化します。異常箇所から検出されたイオン種から由来成分を推定することで、異常がどのプロセスで発生したかを調査することができます。 ウェハや製品上に異常箇所(変色・付着)が見つかったとき、TOF-SIMS測定を行うことで、洗浄・乾燥に起因するウォーターマークか、母材の変質物か、別工程での付着物かを切り分けることができ、不良原因追求に...

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