x線 | イプロス医薬食品技術

・ナノスケールでの周期構造・配向性を評価可能

SAXSは、X線を物質に照射して散乱したX線のうち、2θ＜10°以下の低角領域に現れるものを測定し、物質の構造を評価する分析手法です。通常、数nm～数十nm程度の大きさの構造を評価できます。・ナノスケールでの周期構造・配向性の評価が可能・微粒子や材料中の空孔分布を評価することが可能・タンパク質など生体材料の評価が可能・サンプルを加熱して評価することが可能...■周期構造による散...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS： Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。・全元素範囲（B～U）の同時分析が可能（付属装置によりBeの検出も可...

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［XRR］X線反射率法

XRR：X-ray Reflectivity

XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。・膜厚の評価が可能（2～300nm 程度）・密度の評価が可能・表面粗さの評価が可能（Rms = 5nm 以下）・非破壊で分析が可能 ...

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［XRD］X線回折法

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

・結晶性物質の同定が可能・結晶子サイズの評価 (数nm～100nm)が可能・結晶化度の評価が可能・配向性の評価が可能・歪み量・応力の評価が可能・非破壊で分析が可能保有装置の特徴・室温～1100℃までの加熱分析が可能・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能 ...XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する...

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［XAFS］X線吸収微細構造

XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…

・試料中の着目元素周囲の局所構造（原子間距離、配位数）や化学状態（価数、配位構造）の評価が可能・環境（高温・高圧・雰囲気）を問わず、測定が可能・様々な試料形態（固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など）の測定が可能・適用可能な濃度範囲が広い（主成分元素から微量元素まで）・非破壊測定・測定方法によっては、バルクだけでなく、表面敏感な測定も可能 ...物質にX線を照射するこ...

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［XPS］X線光電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

XPSは、Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electron Spectroscopy for Chemical Analysis とも呼ばれています。・固体表面（約2～8nm）の元素の定性・定量が可能・化...

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【分析事例】2次元検出器を用いたX線回折測定

XRD：X線回折法

2次元検出器を用いて測定を行うと、回折角(2θ)に加えてあおり方向(χ)の情報も同時に得られます。観測される2次元回折像は材料の結晶性や配向性などの特徴を可視化することが出来るため、配向性が特性に影響する材料の評価に有効です。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

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【分析事例】有機膜材料の配向角評価

XAFS：X線吸収微細構造

配向性有機膜である自己組織化単分子膜（SAM膜）は表面の濡れ性や吸着性といった膜の機能・物性が配向性・配向角によって変化します。放射光を用いたXAFSでは、ピーク強度のX線入射角依存性を解析することで有機膜材料の配向性・配向角の評価を行うことが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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［SEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（SEM）

電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによ…

EDXは、電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS：Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではSEM付属のEDXについて解説します。・測定範囲の全エネルギー（B～U）が同時に短時間で測定可能・検出効率に優れ...

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