• 医薬品の研究・開発の時間短縮に!カスタム製品とカスタムサービス 製品画像

    医薬品の研究・開発の時間短縮に!カスタム製品とカスタムサービス

    PRカスタムサービスのカタログをダウンロードして自分のニーズにあった抗体、…

    お客様​が抱える課題に対する様々なカスタムソリューション 抗体を用いた実験に対する様々な要望に対応するため、カスタムサービスを提供しています。 ・カスタム組成やキャリアフリー組成 アッセイやプラットフォームのニーズに適した組成の抗体 ・カスタム標識サービス 優れた性能を持つ、ご使用のアッセイに適するカスタム組成の標識抗体 ・プロテオミクス解析サービス 創薬標的の特定と検証、新規バイオマーカー...

    メーカー・取り扱い企業: セルシグナリングテクノロジージャパン株式会社

  • 【短納期・低コスト】コンプレッサーの販売から設置・メンテナンス 製品画像

    【短納期・低コスト】コンプレッサーの販売から設置・メンテナンス

    PRご提案から保守まで、一環した技術の提供!導入後も安心してご利用頂けます…

    大和機工では、コンプレッサーの設置からアフターサポートまで 丁寧に対応いたします。 お客様の立場で合理的・経済的な機種を選定し、 現地据付工事では短納期・低コストを目標として施工管理を実施。 工事完了後は、厳重な機能検査・試運転調整を行ったうえで、お客様へお渡し致します。 また、設備の納入後は定期的な点検業務・ルーティーン整備等も行っております。 【特長】 ■販売 ...

    メーカー・取り扱い企業: 大和機工株式会社

  • 表面分析 二次イオン質量分析(SIMS) 製品画像

    表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)】 ○数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 「ESCAによる多層膜の深さ分析」 事例集 製品画像

    「ESCAによる多層膜の深さ分析」 事例集

    光電子分光分析装置(ESCA)を使用した多層膜の深さ分析結果を掲載!

    当事例集は、イオン注入、成膜・分析、研究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの光電子 分光分析装置「ESCA」による多層膜の深さ分析の事例集です。 シリコン基板の上にシリコン酸化膜とチタン酸化膜の積層膜をESCA (...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS) 製品画像

    表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 事例集 製品画像

    化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 事例集

    化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載!

    当事例集は、イオン注入、成膜・分析、研究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの 深さ分解能測定の結果を掲載している事例集です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、 Al0.28...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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