• クラウド型電子実験ノート(ELN)『Labstep』 製品画像

    クラウド型電子実験ノート(ELN)『Labstep』

    PRもっと革新的に!科学者によって科学者のために構築されたプラットフォーム

    『Labstep』は、すべての研究関連データとメタデータをリアルタイムで 取り込む、ユーザーフレンドリーで柔軟な電子実験ノート(ELN)です。 安全でコラボレーティブな環境における構造化データの取り込みと分析を 提供し、研究開発ラボによる知的財産の創造と保護を支援。 強力なオープンAPIにより、装置、デバイス、システムとデジタル接続し、 ライブ情報を実験記録に直接取り込むことができます。 【...

    メーカー・取り扱い企業: STARLIMS Corporation 代理店 インフォコム株式会社

  • PFAS分析に貢献!超高感度分析用超純水装置【デモ機対応可能】 製品画像

    PFAS分析に貢献!超高感度分析用超純水装置【デモ機対応可能】

    PRPFAS分析にも、超高感度TQ ICPMSにも対応しているため、高感度…

    今使っている超純水装置ではPFAS分析に使えない! またPFAS分析用の超純水を購入して使うのはコストがかかるし、面倒だ! こんな悩みをお持ちの分析者の方はいませんか? エルガ・ラボウォーターの『PURELAB Chorus 1 Analytical Research』ならPFAS分析にそのまま使えます。 同時にTQ ICPMSでの超微量元素分析にもそのまま使えます! 【LCMSMSを用いた超...

    メーカー・取り扱い企業: ヴェオリア・ジェネッツ株式会社 エルガ・ラボウォーター事業部

  • プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版) 製品画像

    プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いてい...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 表面分析機器『TOFLAS-3000』 製品画像

    表面分析機器『TOFLAS-3000』

    電気的に中性な原子ビームを採用!帯電の問題を解決した表面分析機器

    『TOFLAS-3000』は、入射プローブとしてイオンではなく電気的に中性な 原子ビームを用いた飛行時間型原子散乱表面分析装置です。 本製品を使用することにより、半導体,金属のみならず絶縁体表面の 組成および原子配列の解析も可能です。 また、帯電(チャージアップ)の問題も解決します。 【特長】 ■金属...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 真空薄膜形成装置や表面分析装置 長年培った真空技術がこの一冊に! 製品画像

    真空薄膜形成装置や表面分析装置 長年培った真空技術がこの一冊に!

    長年培った真空技術!真空機器関連及び理化学機器における製品ラインアップ…

    ーバルな視野を持ち、 常に時代の先端を見つめ、新しい技術と商品ニーズを先取りし、 ユーザー様の役に立つ製品を提供し続けている、株式会社パスカルの 総合カタログです。 従来のイオン散乱表面分析装置では不可能だった、絶縁体表面の極性判別や 構造解析、元素同定、さらに電場・磁場中での【その場分析】を可能にした 飛行時間型原子散乱表面分析装置「TOFLAS-3000」をはじめ、 「真空薄...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • クラスター真空成膜・評価装置紹介 製品画像

    クラスター真空成膜・評価装置紹介

    測定・研究したい要素をそのまま!お客様のニーズに合致させることが可能な…

    『クラスター真空成膜システム』は、試料自動搬送システム、サンプル交換室、 サンプルストッカー室、スパッタ室に加え誘電率・磁性測定、ホール測定装置 などの分析機を備えた評価室から構成されます。 また、中央の試料自動搬送チャンバーは、各成膜室ならびに分析室と接続。 試料を真空中でロボット搬送し試料作製から評価までを自動で行います。 尚、すべて...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』 製品画像

    飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いてい...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

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