• 多機能型 摩擦測定機 TL201Tt (摩擦試験機/触覚測定機) 製品画像

    多機能型 摩擦測定機 TL201Tt (摩擦試験機/触覚測定機)

    PR独自開発の触覚接触子を使用すれば、しっとり さらさら などの触覚、質感…

    『多機能型 静動摩擦測定機 TL201Tt』は、測定に応じて4つのパターンに構成可能。 摩擦係数の測定はもちろんアタッチメントを変えることによって今まで測れなかった様々なサンプルに対応。 ●テーブル移動型 ●測定部移動型 ●測定部上下移動型(オプション) ●回転ディスク型(オプション) 【特長】 ■高精度で低価格を実現 ■シングルモードで摩擦測定 ■リピートモードで耐摩耗測定...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トリニティーラボ 中央事業所

  • 熱中対策商品カタログ2024夏<ダイジェスト版> 製品画像

    熱中対策商品カタログ2024夏<ダイジェスト版>

    PR熱中対策には測る、摂る、冷やすが大事!測定器、塩熱飴、クールファンなど…

    当カタログでは、熱中対策に適した製品をダイジェスト版として 紹介しています。 ハンディタイプで高基準の高精度を実現した「熱中症指数計」をはじめ、 大風量で狙った場所を“極冷却”する「スポットクーラー」や、 「ファン付きユニフォーム(ミドリクールファン)」などを掲載。 愛され続けて16年「塩熱飴シリーズ」は昨年スイカ味も加わりました。 製品の選定にご活用ください。 【掲載内...

    メーカー・取り扱い企業: ミドリ安全株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

    欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

    『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    afer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリュ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』  製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』 

    最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

    『Park NX10』は、サンプルのセッティングからイメージング、測定、 解析に至るまですべての段階において簡単に操作することができる 原子間力顕微鏡(AFM)です。 本製品なら、ユーザーはより多くの時間と、より優れたデータを基盤に 革新的な研究に集中する...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

    故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

    発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計測 ■欠陥検査イメージングと解析 ■高解分解能電気特性測定モード ■3D構造解析における側壁計測 ■低ノイズZ検出器を備えた正確なAFM形状イメージング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』 製品画像

    原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

    NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

    『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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