微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

常走査電子顕微鏡 (SEM) で用いるエネルギー分散型検出器 (EDS…

日本電子株式会社 JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)、表面の組織及び形態の観察と局所微量元素分析が可能です。観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。 軟X線分光器をご提案できる世界唯一のメーカーです。 〇特長 ・オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！ ・面倒な設定もすべてお任...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

RHEEDユニット『PHD-30K-034』

30kV対応かつコンパクトな制御電源！1Pa台まで使用可能な差動排気設…

『PHD-30K-034』は、超真空下で加速収束された電子線を基板に照射し、 表面キャラクタリゼーションを行うための反射高速電子線回析システムです。 コンパクトサイズでICF34フランジマウントの電子銃は、その小ささから 取り付けやメンテナンスが容易。 また、標準的な回折像観察に加えて、オプション追加により高圧条件下での 測定またはサンプル面内スキャン機能を実現することができます...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル