【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...詳しいデータ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

球体形状試料の評価事例

AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

リチウムイオン電池材料の表面機械特性試験について

ナノインデンテーションテスタ及びスクラッチ試験機による物性評価

リチウムイオン電池は携帯電話や電気自動車など幅広い製品に用いられ、電池の部材開発が盛んに行われています。 近年、リチウムイオン電池のより効率化を求めて電池内のセパレーターや電極部分についての機械的物性評価が重要視されています。 アントンパール社製の表面機械特性試験機、ナノインデンテーションテスタやスクラッチ試験機を用いることによりセパレーターや電極部分の物性評価が可能となります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アントンパール・ジャパン

レーザー用ウインドウ一覧

在庫販売で短納期！全品１個から販売

エドモンド・オプティクスは、多くのレーザー透過や安全ニーズに適した 広範なレーザー用ウインドウをご用意しています。 レーザーライン用ウインドウは、特定レーザー単波長の透過特性に とりわけ優れ、同波長の表面反射を効率的に抑えます。 より高い破損閾値を必要とする高エネルギーレーザーアプリケーションには、 レーザーライン用ウインドウの高出力バージョンもご用意しています。 アクリル...

メーカー・取り扱い企業： エドモンド・オプティクス・ジャパン株式会社

切断機用バイス、クランプ【ローテーションクランプ】

試料を様々なバイスでクランプし、それを回転させながら切断する回転切断用…

回転式試料固定スタンド（ローテーションクランプ）は精密切断機「ミクラカット」で使用出来ます。 <特長> ■切断時間の短縮 通常の切断の半分の切断距離で切り落とせます。 ■切断負荷の低減 切断砥石の接触面積が少なくなるので試料への負荷が減ります。 ■外周部の切断が綺麗 外周から切断するのでエッジにバリがなく、表面処理を観察したい場合に向いた切断方法です。...ミクラカット2...

メーカー・取り扱い企業： ハルツォク・ジャパン株式会社

『Basler - ラインスキャンカメラ racer』

高速性と高画質の両方が求められる用途に適した高感度ラインスキャンカメラ

『Basler - ラインスキャンカメラ racer』は、ウェブ検査、印刷検査、 表面検査、食品検査、文書スキャン、郵便仕分けなどのさまざまな用途に 適したラインスキャンカメラです。 解像度は2kから8kまで、ラインレートは最大80kHzまでの 次世代CMOSセンサーを搭載しています。 画像を全体として観察するのではなく、1行ずつ精密に確認するので、 非常に長い物体の検査だけで...

メーカー・取り扱い企業： バスラー･ジャパン株式会社（Basler Japan)

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST