PN判定器『PN-8LP』

サンプルにダメージを与えずに測定可能！

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） ■測定サイズ 　・レーザー光照射が可能なサイズのサンプルなら判定可能 ■測定範囲 　・PN 判定可能なサンプル抵抗率範囲 ： 0.02～5,00...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

測定器『FLA-200』

ウエハフラットネス測定システム！

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） 　・シリコン系エピタキシャル、イオン注入サンプル 　・化合物半導体関連（GaAs Epi, GaN Epi, InP, Gaなど） ■測定サイズ ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

測定器『SRS-2010』

カスタマイズ可能な拡がり抵抗測定器

【測定仕様】 ■測定対象：半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） ■測定サイズ：お問い合わせください ■測定範囲 　・1～10E+9(Ω) [拡がり抵抗] 　・印加電圧：10(mV)検出電流：10(pA)～10...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

接触式 抵抗測定器『WS-8800』

ウエハ搬送ロボット搭載による4探針法！全自動測定ソーター

【測定仕様】 ■測定対象：半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） ■測定サイズ：3～8インチ（または12インチ） ■測定範囲 　・抵抗率：100μ～1MΩ/cm 　・シート抵抗：1m～10MΩ/sq ※詳...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触式 抵抗測定器『EC-80』

コンパクトで簡単操作の手動式非接触（渦電流法）抵抗測定器

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） 　・新素材・機能性材料関連（カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、 　　銀ナノワイヤーなど） 　・導電性薄膜関連（メタル、ITOなど） 　・...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触式 抵抗測定器『NC-80MAP』

広範囲レンジ対応の非接触（渦電流法）シート抵抗/抵抗率 多点測定器

【測定仕様】 ■測定対象 　・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど） 　・新素材・機能性材料関連（カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、 　　銀ナノワイヤーなど） 　・導電性薄膜関連（メタル、ITOなど） 　・...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社