製品ランキング 物理分析(2024-01-24 00:00:00.0~2024-01-30 00:00:00.0)
  1. Caco-2細胞を使用しない人工膜による薬物膜透過速度試験 独自のラミネート技術で脂質とフィルムを多層化 人工膜を使用した細胞膜からの薬物の吸収性評価 新薬開発において化合物の薬理特性や毒性の検討と共に腸膜からの吸収特性の検討は重要な要素の一つとされています。吸収特性の評価にはCaco-2細胞を用いた試験が一般に行われています。Caco-2試験実施のためには、試験用ウェルプレートの膜上で細胞培養が必要ですが、培養には多大な時間と労力が必要です。培養の不均一性に起因する透過試験の再現性に問題が生じることがあります。Permeapad Plateはリン脂質を特殊フィルムでラミネート、細胞膜の透過が律速となる化合物においてはCaco-2試験の代替となる方法です。リン脂質をフィルムでラミネートしているため常温での保管で直ぐに使用可能。均質なフィルムは高い測定再現性が実現できます。
    メーカー・取扱い企業: 株式会社樋口商会
    Permeapad Plate 薬物膜透過速度試験  製品画像
  2. TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。 電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界(対応粒界)の観察が可能 特定結晶方位の抽出が可能 隣接結晶粒の回転角の測定が可能 数nm以上の結晶粒を評価可能
    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法 製品画像
  3. 誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化 積層セラミックコンデンサ(MLCC)は、内部電極(金属)/誘電体層(絶縁体)/内部電極(金属)の積層構造を有するコンデンサです。MLCCの問題の一つとして高電界かつ高温下における誘電体層の絶縁劣化(低抵抗化)、つまり電極間ショートがあります。誘電体層内に形成される低抵抗な伝導パスを可視化することは絶縁劣化現象を解明する重要な手がかりとなります。本資料では、SSRM測定(高電界)と加熱機構(高温)を組み合わせることで、温度変化に伴う誘電体材料の絶縁劣化を可視化した事例を紹介します。 測定法:SSRM(走査型拡がり抵抗顕微鏡) 製品分野:誘電体材料、コンデンサ、MLCC 分析目的:抵抗値分布、電流分布、絶縁劣化評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
    【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM 製品画像
  4. 複数のCT像を縦に連結して撮影することができます 一般的に、X線CTの視野サイズと解像度はトレードオフの関係にあり、解像度を上げるほど視野サイズは小さくなります。 そこで、X線CTには、複数のCT像を縦に連結することができる”スティッチング”という撮影法があります。スティッチング撮影法により、高解像度条件でも広い視野サイズで観察可能です。
    X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立 製品画像
  5. ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析 半導体材料に含まれる不純物は、リーク電流の発生やデバイスの早期故障等、製品の品質に影響する場合があります。従って、材料に含まれる不純物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パワーデバイス・製造装置・部品 分析目的:微量濃度評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像
成功事例

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