無償テスト受付中！セレミオンでイオンの分離・精製しませんか？

PRイオン交換樹脂のような再生処理不要！100V電源があれば大丈夫！しかも…

ＡＧＣグループが開発・製造している『セレミオン』による電気透析装置は、イオン交換膜と電気の働きで溶解中のイオン性物質を分離し、短時間で脱塩、濃縮、回収、分別することができます。 DHA・EPA等の食品成分やキトサン・タウリンなどの医薬、化粧品成分から不要なイオンの脱塩・分離が可能です。 ＜無償テストについて＞ サンプル液を送付いただければ、脱塩テストを無償で実施し、脱塩されたサンプルは返...

メーカー・取り扱い企業： ＡＧＣ株式会社 化学品カンパニー

ウルトラ ハイレゾリューション天びん『Cubis II』

PR微量サンプルを高精度にひょう量する精密分析機器。最大ひょう量32gから…

ウルトラ ハイレゾリューション天びんは、 分析ラボで働く科学者の進化するニーズに応えるために設計されています。 『Cubis II』天びんが持つコンプライアンスや接続性に加え、 新しいウルトラ ハイレゾリューション天びん(ハイキャパシティー ミクロ天びん)は、 実際のラボでの環境下においても優れたひょう量精度を提供します。 【特長】 ■ 最大6,100万分解（デジット）の超高分解能 ■ コンプ...

メーカー・取り扱い企業： ザルトリウス・ジャパン株式会社

レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

レビュー用顕微鏡搭載！検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査（約181秒/12inch） ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装

ウェハ表面欠陥検査装置（画像式）

透明素材にも対応する高精度検査装置

微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に 　観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中...【検出】 方　　　式：　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装

ウェハ外観検査装置（画像式）

ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です！ ・ウェハ（基板）の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット）とも提案可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装