マルチモードプレートリーダー『Varioskan ALF』

PR1台で吸光・上方蛍光・発光測定可能なマルチモードマイクロプレートリーダ…

Thermo Scientific Varioskan ALFマルチモードマイクロプレートリーダーは、吸光測定用光学系はキセノンフラッシュランプとモノクロメーターをベースにしており、200 nmから1,000 nmの範囲で連続波長選択を可能にしています。波長範囲が広いため、核酸やタンパク質の定量、細菌増殖曲線、ELISA、および細胞生存率など、多くの一般的なアッセイが可能です。 蛍光および発光測...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

液体用ラウンド式マグネットフィルター タイプ２(フラット)

PR底面がヘルール接続なので分解・洗浄・組立が簡単。食品・工業製品等の製造…

サンギョウサプライの液体用ラウンド式マグネットフィルター タイプ２(フラット)は、液体から微小な鉄粉を取り除くために設計されています。 外装がステンレス製の衛生的なマグネットバーを使用しているので、食品・工業製品等の液体など、製造過程のパイプ走路に設置し、磁性微鉄粉を分離捕獲します。 【特長】 ■本体の底面もヘルール接続なので分解・洗浄・組立が簡単です。 ■食品・工業製品等の製造工...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンギョウサプライ

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

VCSEL／LED用ウエハレベル発光素子計測システム

さまざまな電気・光学特性をウエハレベルで測定可能！

シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL／LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL／LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を ウエハレベルで測定するシステムを構築することが可能です。 お客様の要望仕様により、プローバの選定、測定光学系・測定ソフトウエアの カスタマ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

システム『M-Scope typeS／NFP計測システム』

ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能！

『M-Scope typeS／NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率（対物レンズ100倍使用時）で、微小スポットの観察・ 解析にも対応しています。 独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsにより...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ

各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載！

『シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ』は、主に光学機器や 精密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の 「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタログです。 光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、 その応用システムである「エンサークルドフラックス計測システム」など、 可視・光通信用近赤外レー...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。 これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビー...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！

『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系（簡易型NFP計測光学系も使用可能） を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』

モード伝播を迅速に評価・測定するシステム！

『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・ 結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP（ニアフィールドパターン）を解析することにより、 マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。 また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、 照射N.Aや照射...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

複数の光計測を実現！多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニットを...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、ま...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社