• Luminex xMAP INTELLIFLEX System 製品画像

    Luminex xMAP INTELLIFLEX System

    PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

    Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 自動計測コロニーカウンター PSFシリーズ 製品画像

    自動計測コロニーカウンター PSFシリーズ

    PR計測するサンプルに応じた照明・背景の自動切換え機能を搭載して新登場!

    自動計測コロニーカウンター『PSFシリーズ』は、設定領域面積中に 存在するコロニー数を、一定の基準で瞬時に自動計測する装置です。 カメラとシャーレ間の撮影距離に十分な長さを確保することで、 計測範囲をシャーレ周縁部ぎりぎりまで広げることが可能。 計測条件に合わせてカメラ設定だけでなく、上下照明のオンオフや 背景色の切り替えを自動で行います。それにより、多種多様な サンプルを計測される場合、操作...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社写真化学 草津事業所

  • 高出力レーザ用FFP計測装置 製品画像

    高出力レーザ用FFP計測装置

    ~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

    『高出力レーザ用FFP計測装置』は、~10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope ty...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波路出射...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光ビーム解析モジュール『AP013』 製品画像

    光ビーム解析モジュール『AP013』

    さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

    『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • IVL測定モジュール『PMD002/IVL』 製品画像

    IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

    18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用!広い放射角をカバーでき…

    『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高出力レーザ用高機能NFP計測装置 製品画像

    高出力レーザ用高機能NFP計測装置

    ~10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…

    『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、~10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 偏光測定モジュール『PMD002/POL』 製品画像

    偏光測定モジュール『PMD002/POL』

    空間光測定対応!各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

    『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測定にも使用できます。 【特長】 ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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