• サンプル保存用チューブ『二次元コード付きチューブ』 製品画像

    サンプル保存用チューブ『二次元コード付きチューブ』

    PRサンプル管理業務のデジタル化!業務効率化とトレーサビリティ構築に便利な…

    二次元コード付きチューブは、チューブ底面に二次元コード(2Dコード)をもつサンプル保存用チューブです。 当社のThermo Scientific Matrix 2Dチューブは、摩擦や衝撃によるコード脱落や破損に強い2Dコードを持ちます。全てのコードに対して可読性と重複がないことを確認しています。気密性に優れたガスケットと一体成形のスクリューキャップにより、サンプルの輸送や超低温下での長期保管から...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • ノンフロン横型超低温フリーザー『TDE超低温フリーザー』 製品画像

    ノンフロン横型超低温フリーザー『TDE超低温フリーザー』

    PR新たにUSBデータダウンロード機能が搭載され、頻繁な入庫や長期保管用途…

    H-Driveシステムを搭載したThermo Scientific TDEシリーズ横型超低温フリーザーは、-50 ℃から-86 ℃の範囲で温度設定でき、ドア開放後の迅速な温度回復とピーク変動に対する優れた保温機能の組み合わせにより、頻繁な入庫や長期保管用途に適しています。 【パフォーマンス】 H-driveノンフロン技術を搭載した新しい横型超低温フリーザーは、従来の代替フロン冷媒を使用した機種よ...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 超高感度DLTS バルク内欠陥・界面準位測定装置 製品画像

    超高感度DLTS バルク内欠陥・界面準位測定装置

    不良及び結晶欠陥の解析に有効!幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

    『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感度アナログ/デジタル(測定はアナログ、データ処理はデジタル) ロックイン平均法を採用したユニークなシステ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 複合SEM-AFMシステム 製品画像

    複合SEM-AFMシステム

    表面とナノ構造を測定する機能!ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…

    走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AFMは、MerlinシリーズとCrossbeamシリーズにご利用でき、既存のシステムを 簡単なドア交換で更新できます。 【特長】 ■SEM...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』 製品画像

    非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

    様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能!マイウロウェーブ反射による非…

    半導体デバイスの製造にとって、キャリア移動度は、とても重要なパラメーターに なります。 『LEI-1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体(GaAs、GaN、InP等) epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • エピ膜厚測定装置『EIR-2500』 製品画像

    エピ膜厚測定装置『EIR-2500』

    IR反射率測定ヘッドを使用可能!高スループットのエピ膜厚測定を実現した…

    『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼性の高い電子機器に基づいており、 装置の稼働時間を向上してメンテナンスの必要性を減らします。 【特長】 ■ウェハーサイズ:4~12インチ ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • 【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈 製品画像

    【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈

    偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…

    当資料は、分光エリプソメーターの測定原理についてご紹介しています。 電場および磁場の振動方向が規則的な光のことをいう「偏光」をはじめ、 エリプソメーターの原理、光学干渉についてなどを掲載。 図やグラフと共に分かりやすくご紹介しているので、ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■偏光とは ■サンプル表面の変更 ■エリプソメーターとは ■エリプソメーターの原理 ■ブリ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

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