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PR検査能力は従来品のまま!設置床スペースを約1/4まで小型化
当社で取り扱う、『ラベル検査装置(スリムタイプ)』をご紹介します。 【特長】 ■ラベルや印刷された容器の外観を自動検査 ■容器の向きを揃える設備やそのためのスペース確保が不要 ■非接触・ストレート搬送 ■検査能力は従来品のまま、設置床スペースを約1/4まで小型化 【活用した際のメリット】 ■1人分のスペースで目視検査から自動検査へ ■検査前に容器の向きを揃える設備が不要 ...
メーカー・取り扱い企業: 高嶋技研株式会社
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PRラインカメラ表裏面検査仕様!麺帯の表面異物を自動外観検査します
『麺帯外観検査装置』は、麺帯の微妙な変化に照明の明るさを自動で 変化させ、検査基準のコントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を 減らす事が可能な検査装置です。 NG箇所をスクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然。 検査中にNG箇所の画像のみを表示することができます。 【特長】 ■粉塵対策(カメラ:BOX収納、照明:エアーブロー付き) ■NG箇所をスクロールマップで表示...
メーカー・取り扱い企業: 藤田グループ
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SIM像3D再構築解析の受託スタート!※材料開発や半導体、基板のトラブ…
FIB加工観察装置によるSIM像の3D再構築解析の受託を始めました! 材料開発や半導体、基板のトラブル原因解明など、様々な分野で、お役にたちます! 【半導体デバイスの故障解析やワーク断面・積層構造を高精度高分解能で観察】 集束イオンビーム(FIB)加工装置には微小で等間隔ピッチでのスライス加工が出来る他、都度画像を 取得できる機能があります。この機能を利用するとワーク断面の高精度露出と...
メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社
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数ミクロン以下のナノオーダーの加工技術!極低加速電圧による低ダメージ加…
【PRポイント】 ○φ1um以下の超微細穴加工が可能 ○微細な構造加工が可能 ...etc 【集束イオンビーム(FIB)加工の原理】 数十ナノメートル程度に集束したイオンビームを試料表面で走査する事で発生した2次電子を検出し 顕微鏡像の観察、試料表面の加工が可能。FIBのイオン源にはガリウムイオンを使用しており、その イオンビームを試料の表面に照射すると、 試料表面から2次電子が...
メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社
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