- 製品・サービス
6件 - メーカー・取り扱い企業
企業
29件 - カタログ
375件
-
-
PR製剤工程の品質検査が変わるー透過NIRで最大25万錠/時の全数成分検査…
NIR錠剤検査装置は、打錠機の後段におけるインライン全数検査を可能とし、ロット内全てにおける錠剤成分の均一性確保に貢献します。 <特長> ■NIR「透過」検査を実現 ■最高25万錠/時で高速検査 ■成分量を非破壊で全数検査 詳しくは、PDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。...お問合せください...
メーカー・取り扱い企業: アンリツ株式会社 インフィビスカンパニー 医薬品事業本部
-
-
ナンバリングアップで量産フロー検討「集積型マイクロリアクター」
PR各種反応や混合を内部ナンバリングアップにより流量増大 閉塞回避構造…
集積型マイクロリアクターラインアップ ◇2x2タイプ AB各流路4流路 ~500ml/min ◇4x4タイプ AB各流路16流路 ~1.5L/min ◇8x8タイプ AB各流路64流路 ~3L/min 集積型マイクロリアクターの特徴 ◆コンパクトサイズ ◆分解洗浄可能 ◆最大数3000ml/minの処理能力 ◆液-液、気-液、気-気混合にも対応 ◆再結晶にも応用可能 ◆...
メーカー・取り扱い企業: マックエンジニアリング株式会社
-
-
インライン型ウェハー測定モジュール
インラインでのウェハー/セルの全数検査、ソーティングが可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
FastGateインライン向けCV・IV測定装置ECV-2500
FastGate インライン向けCV・IV測定装置
電極形成が不要な上、ウエハーにダメージを与えず、コンタミネーションも残さないことからインラインで使用出来る装置です。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
の分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率(N,K値)波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 【測定可能な物理特性】 ■厚さ光学屈折率 ■屈折率の勾配と材料組成 ■ドーパント濃度...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
非接触式の重金属汚染・CV/IV・膜評価装置。 鉄濃度測定の感度はD…
【特徴】 ■非接触CV/IVインライン測定 ■超高感度汚染管理(E8レベル鉄濃度測定) ■パタンモニター測定可能(SLモデル) ■PDM 【主な測定・評価項目】 ■汚染管理 -DSPVによる拡散長測定 -鉄濃度測定...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
u-PCD法でのマッピング測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケッ…
測定が可能であり、太陽電池、半導体のマーケットに非常に多くの実績があります。 シリコン・ブロック/ウェハーのライフタイム測定をし、マッピング表示が可能です。 ※ シリコンウェハー/ブロックのインライン全自動測定装置もございます。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
-
-
JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…
も測定可能 - 空間分解能の高い分布測定(マッピング)が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラットフォームWT-2000、WT-2500、WT-3000やインラインのウェハーテスト装置に組みつけが可能 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
- 表示件数
- 30件
- < 前へ
- 1
- 次へ >
※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。