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    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000％向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラ...

    メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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