フラットチップ・ダイヤモンドATRファイバープローブ

プローブ先端のダイヤモンドATRチップがフラットなので、接触測定がしや…

------------------------- 特徴 ------------------------------------------------- プローブ先端のダイヤモンドATRチップがフラット 近赤外・中赤外全域において高スループット 全ての分光器・自動プロセスインターフェースに互換性あり ----------------------------------------...

メーカー・取り扱い企業： サンインスツルメント株式会社 本社

複合SEM-AFMシステム

表面とナノ構造を測定する機能！ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…

走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AFMは、MerlinシリーズとCrossbeamシリーズにご利用でき、...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

1.3メガSWIRカメラ搭載！チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

『NIR2021-200』は、赤外光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハや チップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、 近赤外画像でありながら、高解像画像...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社清和光学製作所

超高解像度ズームレンズ『AR-ZM0330シリーズ』

従来のズームレンズよりもFOVを1.5倍向上！各用途向けに光学系の構成…

M0330シリーズ』は、高解像度アポクロマート光学系、4Kカメラ対応で 画像検査など目的用途に倍率を選択できるズームレンズです。 アポクロマ－トレンズの為、画像は鮮明です。 食品、シリコンチップ、チップ、 電子部品、生物学、その他の検査および研究分野で広くご使用いただけます。 ご用途に応じて異なる倍率のCマウントレンズと対物レンズを選択可能。 また、Cマウントの倍率を変更する事...

メーカー・取り扱い企業： アームスシステム株式会社

ATRファイバープローブ

Bayer、BASF、bp、Chevron、Dow、Pfizerなどで…

--- 特徴 ------------------------------------------------- 近赤外・中赤外全域において高スループット 死角なしの液体浸漬が可能なATRチップ 過酷な環境下での使用に耐えうるフレキシブルかつ堅牢な構造 全ての分光器・自動プロセスインターフェースに互換性あり -------------------------------------...

メーカー・取り扱い企業： サンインスツルメント株式会社 本社

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000％向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラ...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX20』

故障解析と大型試料における研究開発のためのナノ形状計測ツール

本製品には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的な ソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。 また、真のノンコンタクト(TM)モードのスキャンによって、チップがより鋭く、 かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。 【研究およびFAラボにおける大型試料用AFMを使ったソリューション】 ■メディア、基盤用の表面ラフネス計...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を克服します。 【ウエハファブ用で必須なツール】 ■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM ■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイ...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX10』　

最高レベルのナノスケール解像度で信頼あるデータを提供する原子間力顕微鏡

ます。 【特長】 ■クロストーク除去によるボーイングの無い正確なXYスキャン ■低ノイズZ検出器を使った正確なAFMトポグラフィー ■真のノンコンタクト(TM)モードによる最高クラスのチップ寿命、分解能 　およびサンプルの保護 ■半導体/ポリマー/電池材料や炭素系材料などさまざまな材料の表面解析を 　ナノオーダーで解析(※イメージギャラリー参照) ※詳しくはPDF資料をご...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

imec社製　リアルタイムハイパースペクトルカメラ

分光フィルタ搭載ハイパースペクトルカメラ SNAPSHOT VIS /…

4バンド ● スキャン不要のスナップショットモデル ● USB3.0またはGigE ● 重量30g～ ● ソフトウェア、レンズ付属 ● カスタム対応可（波長、バンド数、他） ● センサチップ単体での提供可 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アルゴ

デジタル顕微鏡『ディノライト 特殊用途シリーズ』

画期的な蛍光ライト搭載！様々な用途にご利用可能な蛍光マイクロスコープ

LEDによる励起照明とフィルターにより、GFPを含む緑色蛍光、OFPとRFPを含む赤色・オレンジ色蛍光、DsRedを含む赤血球、mCherryを含むシアン赤色蛍光、シアン色蛍光、マイクロ流体チップ、更にはお肌のメラニン色素のチェック、など様々な用途で観察や撮影が可能です。 【特長】 ■多彩な光源が選べる 　・蛍光ライト、赤外線、紫外線、ストロボ発光など ■1台のPCで最大8台も...

メーカー・取り扱い企業： サンコー株式会社 法人営業部

ハンドヘルドラマン『BRAVO』

優れたパフォーマンス！ユーザーインターフェースは日本語を含む17言語に…

進めることが可能です。 【特長】 ■SSE(TM)-ブルカー特許技術による蛍光緩和機能 ■Duo LASER(TM)-ブルカー独自の2波長励起機構 ■IntelliTip(TM)-測定チップ自動認識システム ■直観的でシンプルなタッチスクリーン操作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

【新発売！】原子間力顕微鏡『Park NX7』

【日本版カタログ進呈中】低コスト・高機能・短納期が可能な新製品！当社が…

お問い合わせください。 【特長】 ■拡張性の高いAFMソリューション ■ボーイングのないフラットな直交XYスキャン ■低ノイズZ検出器 ■True Non Contactモードによるチップの寿命、 　サンプルの保存、繰り返し精度の向上 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

NIR テレセントリックレンズ『KCM-2DUMP-NIR』

光学倍率は2倍！近赤外撮影に好適な同軸落射のテレセントリックレンズのご…

株式会社ケンコー光学が取り扱う、NIR テレセントリックレンズ 『KCM-2DUMP-NIR』についてご紹介いたします。 近赤外撮影に好適で、シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの 内部を観察する際などにお使いいただけます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【仕様】 ■光学倍率：2 ■W.D.：65mm ■被写界深度（...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ケンコー光学

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチップ交換機能 ■大型真空チャンバー(300mm×420mm×320mm) ■超長距離観察を実現した直上光学顕微鏡 ■感度が向上された高真空SSRMモード ※詳しくはPDFをダウンロードして...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社