CKD 窒素ガス精製ユニット『NSシリーズ』

PR圧縮空気を供給するだけで手軽に「窒素（N2）」を精製！もう大規模な設備…

『NSシリーズ』は、食品の加工や包装工程、レーザー加工機などに使用される窒素ガスを 圧縮空気から高純度に分離精製する窒素ガス精製ユニットです。 簡単に連結ができるモジュール設計を取り入れ、フィルタ類やレギュレータ、 絞り弁などの機器をコンパクトにシステム化が可能です。 また、精製は膜分離式のため電源が不要で、防爆雰囲気や異電圧地域でも使用でき、 電気ノイズや発熱、駆動音等にかかわる問...

メーカー・取り扱い企業： ＣＫＤ株式会社

ラボ用天びん「Quintix Pro」

PR15ヶ国語から選べる拡張言語サポートで容易な操作と正確なレベリングを実…

ラボ用天びん「Quintix Pro」は 使いやすさ、柔軟性を向上させ、環境に配慮した設計を取り入れたプレミアムな機能を搭載しています。 幅広い作業に対応できる多用途の天びんをお探しのラボに適しています。 新興企業や限られた資金で運営されている研究室など、予算重視の研究室にとっては、費用対効果の高いソリューションです。 基本的な計量ニーズしかないラボでも、 「Quintix Pro」は高級天び...

メーカー・取り扱い企業： ザルトリウス・ジャパン株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope ty...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

『M-Scope type HF』は、1～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)計測用光学系です。 専用設計のハイパワーレーザ対応FFP計測光学系＋2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！

【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波路出射...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用！広い放射角をカバーでき…

『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ

各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載！

グです。 光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、 その応用システムである「エンサークルドフラックス計測システム」など、 可視・光通信用近赤外レーザダイオードや各種光学モジュールのビーム観察・ 評価・組立調整に最適な光学系・システムを掲載しています。 【掲載内容】 ■光ビーム観察・計測用光学系ラインアップ ■システム・コンポーネン...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用高機能NFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…

『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

偏光測定モジュール『PMD002/POL』

空間光測定対応！各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測定にも使用できます。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社