• 化合物保管庫『StoragePod』『MultiPod』 製品画像

    化合物保管庫『StoragePod』『MultiPod』

    PR化合物を窒素環境下で保管し、濃度・溶解性・活性を維持。アプリケーション…

    化合物保管庫『StoragePod』『MultiPod』は、 化合物DMSO溶液を保管する際の品質維持に役立つ製品です。 【特長】 ■窒素でパージし、化合物を窒素環境下で保管 ■DMSOの吸湿、濃度の希釈、沈殿による化合物の損失を回避 ■化合物の濃度、溶解性、活性を維持 ■『StoragePod』はモジュール式のため保管容量を簡単に拡張可能 ■吸水したDMSOの脱水も可能 ■微量分注装置「I.D...

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    メーカー・取り扱い企業: 水戸工業株式会社

  • 『防爆型 ドラフトチャンバー』 ※オーダーメイド可能! 製品画像

    『防爆型 ドラフトチャンバー』 ※オーダーメイド可能!

    PRステンレスのドラフトチャンバーでも短納期・低コストで対応可能! ご依頼…

    多田製作所では、作業者の安全性と快適性を高める ドラフトチャンバーを製作しております。 ご要望に応じた内容で本体を自由に作ることができます! 自社工場一貫生産な為、短納期・低コストで納品します。 設置場所に合わせた寸法での製作が可能です。 《ドラフトチャンバーの総合カタログ進呈中!》  下記「PDFダウンロード」よりご覧ください。 【特長】 ■オーダーメイド   受注...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社多田製作所

  • 透過型電子顕微鏡 製品画像

    透過電子顕微鏡

    透過電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能…

    弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。...TEM観察 ・ナノオーダーの構造把握や格子像の観察を行います。 ・TEM画像を使用した解析・評価、EDXによる局所的元素分析を行っております。 TEM画像を用いた解析、評価 ・高分解能TEM像による結晶欠陥の解析や歪みマッピング評価を行います。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-poleSIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 表面分析 二次イオン質量分析(SIMS) 製品画像

    表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-poleSIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS) 製品画像

    表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-poleSIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 砒素イオン注入深さ分析 製品画像

    砒素イオン注入深さ分析

    SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。

    砒素(75As)はマトリックスであるシリコンと残留ガスである酸素あるいは 水素との複合分子(29Si30Si16O など)が干渉するため、質量分解能が 3190 必要です。 Q ポール SIMS では質量分解能が 200 程度しかなく、質量分離が困難です。 しかしシリコンと砒素の複合分子イオンを測定することによって検出下限を 2×1015 [atoms/cm3]に下げることが...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • アルミイオン注入深さ分析 製品画像

    アルミイオン注入深さ分析

    検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分…

    (アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 アルミニウムの質量数はシリコンと隣接しているため Q ポール SIMS では 測定が困難ですが、測定条件を最適化することによって検出下限を 1E16n/cm3に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー :180keV ■ドーズ量...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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