• AI駆動型ラベルフリーイメージングセルソーター 製品画像

    AI駆動型ラベルフリーイメージングセルソーター

    PR新規AIベースの細胞形態データ分析手法を利用した、新しいアプローチで、…

    『VisionSort』は、ゴーストサイトメトリー技術を搭載したセルソーターです。 独自に開発した光学技術により、細胞の形態的特徴を包括的かつ高速に測定・解析することができます。 取得した形態情報を機械学習(AI)によって分析することによって、細胞を染色せずに、ラベルフリーで分析することができます。 細胞治療/再生医療、疾患プロファイリング、創薬といった幅広い分野での研究開発にご利用い...

    メーカー・取り扱い企業: シンクサイト株式会社

  • 技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』 製品画像

    技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』

    PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説

    当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社村上衡器製作所

  • 光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』 製品画像

    光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

    電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

    『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュア...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置 製品画像

    光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

    シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

    『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ウエハレベル発光素子光学特性測定装置 製品画像

    ウエハレベル発光素子光学特性測定装置

    VCSEL等の発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定・検査!

    『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプロファイル計測・ FFP計測(...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • IVL測定モジュール『PMD002/IVL』 製品画像

    IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

    18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用!広い放射角をカバーでき…

    『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの 対物レンズレボルバにも装着が可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • FFP計測装置【※デモ測定対応可能】 製品画像

    FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

    専用光学系+画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

    により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長】 ■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用 ■専用光学系+画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易 ■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • VCSEL/LED用ウエハレベル発光素子計測システム 製品画像

    VCSEL/LED用ウエハレベル発光素子計測システム

    さまざまな電気・光学特性をウエハレベルで測定可能!

    シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL/LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL/LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を ウエハレベルで測定するシステムを構築することが可能です。 お客様の要望仕様により、プローバの選定、測定光学系・測定ソフトウエアの...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光テスター(光配線導波路高速導通検査装置) 製品画像

    光テスター(光配線導波路高速導通検査装置)

    光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置

    『光テスター(光配線導波路高速導通検査装置)』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエアにより、複数チャンネルの 光導波路の光導通を一度にかつ迅速に測定することが可能です。 これにより、従来のファイバ調芯による損失測定方式では実現できなか...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』 製品画像

    光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

    【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

    出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。 【特長】 ■ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより 高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能 (M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ) ■コリメート光計測が可能(対物レンズ無...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』 製品画像

    高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

    複数の光計測を実現!多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

    計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニットを容易に構築することが可能です。 測定対象や測定に使用する波長にあわせて最適なレンズや光学部品を選択・ 装着することができ、これにより、最適な光学条件で各種測定を行うことが 可能です。 【特長】 ■光計測用光ファイバ接続用ポ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF 製品画像

    ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

    【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

    FFP計測光学系+2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せを採用。 高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能です。 【特長】 ■1W~10W出力クラスハイパワーレーザの放射角度分布(FFP)を  リアルタイム測定 ■ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより  高...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』 製品画像

    応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』

    モード伝播を迅速に評価・測定するシステム!

    イバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP(ニアフィールドパターン)を解析することにより、 マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。 また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、 照射N.Aや照射ビーム径を変更することが可能です。 【特長】 ■標準化パラメータ測定機能 ■照射条件...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』 製品画像

    ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

    5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

    これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置(オプション)と...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高出力レーザ用FFP計測装置 製品画像

    高出力レーザ用FFP計測装置

    ~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

    『高出力レーザ用FFP計測装置』は、~10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』 製品画像

    『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』

    検出器の選択により可視・近赤外まで対応可能!

    【主な仕様】 〔コリメータ計測光学系〕 ■焦点距離:150mm(打ち合わせにより変更可能) ■計測角度:約±1.2°(横)×約0.9°(縦) ■測定角度分解能:約0.01° ■レンズマウント:Cマウント 〔ソフトウェア解析機能〕 ■画像取込・処理機能  ・ライブ画像表示  ・画像積算  ・暗電流補正  ・画像データ保存・読出 ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    1550nm近赤外波長帯まで さまざまなシステム構築が可能です。 【特長】 ■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、 さまざまな光デバイスの計測・解析が可能 ■低価格でシステム構築も可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』 製品画像

    システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』

    ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能!

    【光ビーム解析ソフトウェア Optometrics BA/Liteの主な機能】 ■画像取込・処理機能  ・ライブ画像表示  ・画像積算  ・暗電流補正  ・画像データ保存、読出 ■測定機能  ・ピーク位置及び輝度値の表示  ・光強度プロファイル表示機能  ・プロファイル平均化  ・計測幅表示  ・実寸換算表示  ・円近似  など ■表示機能  ・画像上へのピーク位...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • シナジーオプトシステムズ株式会社 総合カタログ 製品画像

    シナジーオプトシステムズ株式会社 総合カタログ

    各種発光素子・光学モジュールの発光ビーム観察などに最適な製品を掲載!

    『シナジーオプトシステムズ株式会社 総合カタログ』は、主に光学機器や 精密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の 「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタログです。 光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、 その応用システムである「エンサークルドフラックス計測システム」など、 ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 偏光測定モジュール『PMD002/POL』 製品画像

    偏光測定モジュール『PMD002/POL』

    空間光測定対応!各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定

    『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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