• マルチモードプレートリーダー『Varioskan ALF』 製品画像

    マルチモードプレートリーダー『Varioskan ALF』

    PR1台で吸光・上方蛍光・発光測定可能なマルチモードマイクロプレートリーダ…

    Thermo Scientific Varioskan ALFマルチモードマイクロプレートリーダーは、吸光測定用光学系はキセノンフラッシュランプとモノクロメーターをベースにしており、200 nmから1,000 nmの範囲で連続波長選択を可能にしています。波長範囲が広いため、核酸やタンパク質の定量、細菌増殖曲線、ELISA、および細胞生存率など、多くの一般的なアッセイが可能です。 蛍光および発光測...

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • KrosFlo KR2i RPM システム 製品画像

    KrosFlo KR2i RPM システム

    PRサイクル時間を短縮!歩留率を向上させることでプロセスの効率性を高めます

    当社では、リアルタイムプロセス管理とラボスケールタンジェンシャル フローろ過(TFF)を統合した『KrosFlo KR2i RPM システム』を 取り扱っております。 当システムは、KrosFlo KR2i システムとCTech FlowVPX 可変光路長紫外可視分光光度計を組み合わせ、インライン濃度 モニタリングとエンドポイント制御を備えた自動TFFを提供。 KR2iとFlo...

    メーカー・取り扱い企業: レプリジェンジャパン合同会社

  • 小型二次電子検出器『MINI-SED』 製品画像

    小型二次電子検出器『MINI-SED』

    コンパクトな設計で省スペースの取付けが可能!装置開発のための電子検出器

    小型二次電子検出器『MINI-SED』は、シンチレータタイプの検出器で、 反射電子、二次電子を捕獲し増幅して電気信号として出力します。 コンパクトな設計のため、省スペース化を実現できます。 また、既存の装置への機能追加として使用可能です。 短タイプ(先端長:50 mm)、細タイプ (先端径:φ10mm)など 特殊仕様等のご相談にも対応いたします。 【特長】 ■pAからμA...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』 製品画像

    高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』

    SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがき…

    高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』は、タングステンカーバイドの ローラーを用いたSEM観察用断面試料を手軽に作製する為の装置です。 加工プロセスは、モニターを見ながらけがき位置のティーチングし、自動でけがきを開始します。 観察部は自動スキップされ、けがきによる内部応力を利用して試料を破断します。 電子顕微鏡のサンプルホルダー等に挿入できるように試料を切り出します。 『...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 小型電子線鏡筒『MINI-EOC』 製品画像

    小型電子線鏡筒『MINI-EOC』

    低加速SEM・計測用/解析用電子線源として使用可能!組込可能な小型電子…

    小型電子線鏡筒『MINI-EOC』は、Schottkyエミッタを用いた組込可能な電子線鏡筒で、 既存の装置へ追加する事ができます。 主に大電流密度や低加速を要求される計測や解析(LEED(低速電子回折)、 AES(オージェ電子分光法)、EDS(エネルギー分散分光法)、 EELS(電子エネルギー損失分光法))等に応用できます。 超高真空対応のSPM(走査プローブ顕微鏡)等と組み合わ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • イオンポンプバックアップ電源『AIP-38』 製品画像

    イオンポンプバックアップ電源『AIP-38』

    最大7日間連続運転可能!停電時も高真空を保持し、故障や排気時間のロスを…

    『AIP-38』は、二次電池を備えたイオンポンプ制御電源です。 停電時、長期休暇時や輸送時に高真空を維持し、故障や排気時間のロスを 回避する事ができます。 対応機種(コネクタ形状)の変更、出力電圧の変更(-4kV,-3kV等)、 排気継続時間(バッテリー容量)の変更など特殊仕様のご相談にも応じます。 【特長】 ■最大7日間連続運転可能 ■最大3台のポンプを同時に駆動可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 試料破断器『ABK-5』 製品画像

    試料破断器『ABK-5』

    手軽に破断可能な試料破断器

    『ABK-5』は、けがき加工を施した断面観察用試料を、手軽に破断さ せる事が出来る試料破断器です。 けがき加工を施した試料をセットし、破断用ノブをゆっくり回して試 料を破断できる簡単な加工手順です。 こちらの製品は、断面SEM試料片作製システム「AMCシリーズ」の オプションとして使用されます。 【特長】 ■試料幅約5mmまで対応 ■各種半導体ウェハの破断が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-7600』 製品画像

    破断装置『AMC-7600』

    ケガキ精度±15μmを実現!

    『AMC-7600』は、タングステンカーバイトのローラーを用いた、 高精度なSEM観察用断面試料を手軽に作製する為の破断装置です。 短時間で、高精度ケガキ機構+スキップケガキ機構を採用しており、 微小部位の端麗な破断面を取得することができます。 断面SEMサンプルを手軽に作製したいお客様のご要望を、当製品が可能に します。 【特長】 ■簡単操作 ■短時間 ■無研磨 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-8000』 製品画像

    破断装置『AMC-8000』

    ケガキ精度±2.5μmを実現!

    『AMC-8000』は、シリコン・GaAs等の各種半導体板、液晶基板・マ スク等のガラス材の断面観察試料片を無研磨・短時間で作製する破 断装置です。 ローラーカッターを用いたケガキ加工+専用工具による破断システムを 採用し、無研磨・完全ドライカットを実現しています。 エアー吸収は不要で、ユーティリティは100V電源のみとなります。 【特長】 ■簡易操作 ■破断システム採...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

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