クラウド型電子実験ノート（ELN）『Labstep』

PRもっと革新的に！科学者によって科学者のために構築されたプラットフォーム

『Labstep』は、すべての研究関連データとメタデータをリアルタイムで 取り込む、ユーザーフレンドリーで柔軟な電子実験ノート（ELN）です。 安全でコラボレーティブな環境における構造化データの取り込みと分析を 提供し、研究開発ラボによる知的財産の創造と保護を支援。 強力なオープンAPIにより、装置、デバイス、システムとデジタル接続し、 ライブ情報を実験記録に直接取り込むことができます。 【...

メーカー・取り扱い企業： STARLIMS Corporation 代理店 インフォコム株式会社

Image integrity checker

PR電気泳動・ウェスタンブロッティング画像の生データ改ざんが心配ではありま…

Image integrity checkerは、電気泳動・ウェスタンブロッティング画像等の生データ認証のためのフリーソフトです。 デジタル指紋による生データ認証や論文投稿用の証明書発行でAI画像生成時代の脅威に対抗します。 ●CytivaのAmersham ImageQuant(TM) 800やTyphoon(TM)シリーズの取得データに使用可能 ●Cytivaウェブサイトから無料ダウンロード...

メーカー・取り扱い企業： Cytiva

カスタム計測システムサービス　オリジナルの計測/集録システム

お客様の研究開発環境で求められる機能をオーダーメイドでご提供いたします…

測システムサービス』は研究開発環境、及び各種信頼性試験で 求められる機能をオーダー・メイドの「カスタム計測システム」という形で 提供しています。 カスタム計測システム以外にも、受託評価、データ解析ツール (ソフトウェア)作成、治具製作まで、好適なサービスを幅広くご提供。 その他、信頼性試験用途等で、一部標準品として販売しているシステムも ございます。 お客様が具体的なア...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

「熱課題」簡易診断サービス

お客様のお悩みに応じてサービスを検討！製品開発の初期段階で熱課題を診断…

【お客様で準備頂くもの】 ■製品サイズ ■換気有無 ■製品の消費電力 ■発熱部品情報 （データシート、消費電力） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.53＃アバランシェ試験（2）

デバイスの過渡熱抵抗など図を用いて解説！適当なパラメータを持つMOSF…

デバイスの過渡熱抵抗やアバランシェ動作時の損失と時間の関係について 図やグラフを用いて解説。 デバイス選定の際に、異なる条件で測定されたデバイスを比較しても あまり意味はありません。データシート値のみを参考にするだけではなく、 できるだけ実動作に近い環境で実測することをお勧めします。 【掲載内容】 ■デバイスの過渡熱抵抗 ■アバランシェ動作時の損失と時間の関係 ■Tj...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology