• ろ過効率を上げ、生産性を高めるための秘密「遠心分離機の基礎知識」 製品画像

    ろ過効率を上げ、生産性を高めるための秘密「遠心分離機の基礎知識」

    PR「なぜ、ろ過時間が1/50以下になるのか?」の秘密を納入事例、遠心分離…

    ろ過、脱水、分離工程で使われる遠心分離機。様々な種類のろ過装置の中でも遠心分離機は遠心力を用いることによってろ過スピードを上げ、ろ過時間が短くなり、ろ過の効率が格段にアップします。 松本機械販売では70年間、遠心分離機の製造と販売を専業としており、遠心分離機については他社にも負けない技術と知識を有していると自負しております。 この冊子では遠心分離機のプロが「なぜ、遠心分離機はろ過効率が...

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    メーカー・取り扱い企業: 松本機械販売株式会社

  • 高性能除水装置『スイトール』【抜群の除水力と低騒音を実現!】 製品画像

    高性能除水装置『スイトール』【抜群の除水力と低騒音を実現!】

    PR技術資料『除水作業の5つの問題を解決する方法』進呈中!ブロア、エアー、…

    除水作業が不十分な場合、残水による臭いやカビ、段ボール箱の破損 などを防止するため、再度拭き取り作業を行っています。『スイトール』 は、抗菌入り特殊ウレタンスポンジを採用し、コンパクトで効率良い除水 が可能です。対象物の厚みを調整し、固形物のつぶれの心配もありません。 ◎技術資料『除水作業の5つの問題を解決する方法(NEW)』を進呈中です! 【特長】 ■抗菌剤入り特殊ウレタンスポン...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ニッコー 本社、札幌営業所、東京営業所

  • 【導入事例】ワーク持ち帰り防止、安定したチップトレイへの収納 製品画像

    【導入事例】ワーク持ち帰り防止、安定したチップトレイへの収納

    交換式のため、経済的であり、作業現場で簡単に交換可能な導入事例のご紹介

    広島県下 半導体製造メーカー様よりご依頼をいただき、ワーク持ち帰り防止、安定したチップトレイへの収納を導入した事例をご紹介いたします。超硬、耐熱性樹脂等の平コレットでチップの表面にキズをつけり、チップのカケで問題をお持ちの方にお奨めします。 交換式のため経済的であり、作業現場で簡単に交換でき、絶えず最高ク...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社オルテコーポレーション 本社

  • 後工程の半導体製造装置に「本当に適した部品」を使用できてますか? 製品画像

    後工程の半導体製造装置に「本当に適した部品」を使用できてますか?

    「チップの引っ掛けキズやひび割れ」「作業時にチップの持ち帰り問題」など…

    当資料は、有限会社オルテコーポレーションが提案した後工程における、半導体製造装置の課題解決事例集です。弊社が得意とする消耗パーツの紹介をはじめ、多くのユーザーが課題に挙げる、チップの破損ダメージについてや、ディスペンサーやエポキシ転写の不安定問題、ワイヤボンディング用トーチ電極などの事例を多...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社オルテコーポレーション 本社

  • 【資料】SnS極薄膜成膜製作事例 製品画像

    【資料】SnS極薄膜成膜製作事例

    膜厚別にグラフや写真を掲載!それぞれの抵抗率もご紹介しております

    当資料では、SnS極薄膜成膜(ソーダガラス基板・50mm角)を製作した 事例をご紹介しています。 145nmをはじめ、88nm、51nm、37nm、30nmの各膜厚のグラフや 写真を掲載。 それぞれの抵抗率もご紹介しておりますので、ぜひダウンロードして ご覧...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社カルコジェニック

  • 電動ドライバのお悩み解決!ねじ締めソリューション事例集 製品画像

    電動ドライバのお悩み解決!ねじ締めソリューション事例

    ポカミスの防止や、作業状況の「見える化」に貢献する電動ドライバの活用事…

    当カタログは、日東工器が取り扱う電動ドライバ「デルボ」の 活用事例を掲載しております。 ねじ締めラインの構築・管理の際にご参考にしていただけますと幸いです。 ぜひダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■ポカミス防止のシステム例 ■作業状況...

    メーカー・取り扱い企業: 日東工器株式会社

  • 【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価 製品画像

    【分析事例】セラミックス材料に含まれる微量金属の価数評価

    ppmオーダーの微量金属も評価可能です

    って評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセラミックス材料に微量含まれるCeの価数を評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜構造解析 製品画像

    【分析事例】分子動力学計算を用いたアモルファスSiNx膜構造解析

    シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です

    法は限られているため、シミュレーションによってさまざまな組成、密度を有したアモルファス構造を作成し、解析を行うことは有効なツールとなります。本資料では、分子動力学計算を用いたa-SiNx膜の構造解析事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価 製品画像

    【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

    高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

    知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 製品画像

    【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

    金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

    結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査 製品画像

    【分析事例】貼り合わせウエハ内部の空隙調査

    超音波顕微鏡による内部空隙の観察事例

    パワーデバイスやMEMSデバイスなどに用いられる、貼り合わせシリコンウエハを作成する際、貼り合わせ工程において界面に局所的に空隙が発生する事があります。 300mm貼り合わせウエハ内部を超音波顕微鏡を用いて観察しました。その結果、複数箇所にて1mm~20mm程度の複数の空隙があることを確認しました。本手法によって、貼り合わせウエハ内部の密着性評価が可能となります。...詳しいデータはカタログをご...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【半導体チップの持ち帰り不良で悩んでいる方へ】※改善事例 製品画像

    【半導体チップの持ち帰り不良で悩んでいる方へ】※改善事例

    パワー半導体製造会社様での改善事例をご紹介します。

    【課題】 ダイマント工程で半導体チップの持ち帰り不良が多発しており、 チップ持ち帰り不良を低減させる方法を探していました。 【改善結果】 チップ持ち帰り不良の低減が実現し、具体的には以下の改善がみられました。 1) ラバーノズルのライフ延長による経費削減 2) 他社ノズルでは使用前に焼き入れを行っていたが、行わなくても良くなった 3) 焼き入れ工数の削減 製品の仕様をお客様...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社オルテコーポレーション 本社

  • 【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価 製品画像

    【分析事例】角度分解XPS(ARXPS)による極薄膜組成分布評価

    基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

    スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜(数nm程度)のデプスプロファイル評価に有効です。 本資料ではSi基板上のSiN膜について、膜中の組成分布評価を行った事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析 製品画像

    【分析事例】STEM,EBSDと像シミュレーションを併用した解析

    像シミュレーションを併用した結晶形の評価

    正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SNDMおよびSMMによる拡散層評価 製品画像

    【分析事例】SNDMおよびSMMによる拡散層評価

    SiCデバイスの拡散層のp/n極性とキャリア濃度分布を評価できます

    え評価が重要となります。今回、SiC Trench MOSFETに関して、SNDM(走査 型非線形誘電率顕微鏡)にてキャリア極性判定をSMM(走査型マイクロ波顕微鏡法)にてキャリア濃度分布を評価した事例をご紹介します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ワイドギャップ半導体β-Ga2O3のドーパント存在 製品画像

    【分析事例】ワイドギャップ半導体β-Ga2O3のドーパント存在

    ミクロな原子構造を計算シミュレーションによって評価可能

    β-Ga2O3は広いバンドギャップを有し、優れた送電効率や低コスト化の面で次世代パワーデバイスや酸化物半導体の材料として期待されています。近年、β-Ga2O3はSiまたはSnのドーピングでn型化することが報告されています。本資料では、β-Ga2O3にSiもしくはSnをドープしたモデルに対して構造最適化計算を実施し、各ドーパントが結晶中でどのサイトを占有しやすいかを評価しました。続いて、得られた構造...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】クリーンルーム内有機化合物の評価方法 製品画像

    【分析事例】クリーンルーム内有機化合物の評価方法

    GC/MS:ガスクロマトグラフィー質量分析法

    半導体や液晶などの製造が行われているクリーンルームでは、パーティクルだけでなく分子レベルの化学汚染(分子状汚染)を把握することが重要です。浮遊分子状汚染物質としては酸・塩基性ガスや凝集性有機物質、ドーパント、金属などが挙げられ、成分に応じて分析方法は異なります。 ここでは凝集性有機物質の詳細と、代表的な捕集方法である“吸着剤捕集”と“ウエハ暴露捕集”について紹介します。...詳しいデータはカタロ...

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