多機能型 摩擦測定機 TL201Tt (摩擦試験機/触覚測定機)

PR独自開発の触覚接触子を使用すれば、しっとり さらさら などの触覚、質感…

『多機能型 静動摩擦測定機　TL201Tt』は、測定に応じて4つのパターンに構成可能。 摩擦係数の測定はもちろんアタッチメントを変えることによって今まで測れなかった様々なサンプルに対応。 ●テーブル移動型 ●測定部移動型 ●測定部上下移動型(オプション) ●回転ディスク型(オプション) 【特長】 ■高精度で低価格を実現 ■シングルモードで摩擦測定 ■リピートモードで耐摩耗測定...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社トリニティーラボ 中央事業所

熱中対策商品カタログ2024夏＜ダイジェスト版＞

PR熱中対策には測る、摂る、冷やすが大事！測定器、塩熱飴、クールファンなど…

当カタログでは、熱中対策に適した製品をダイジェスト版として 紹介しています。 ハンディタイプで高基準の高精度を実現した「熱中症指数計」をはじめ、 大風量で狙った場所を“極冷却”する「スポットクーラー」や、 「ファン付きユニフォーム（ミドリクールファン）」などを掲載。 愛され続けて16年「塩熱飴シリーズ」は昨年スイカ味も加わりました。 製品の選定にご活用ください。 【掲載内...

メーカー・取り扱い企業： ミドリ安全株式会社

株式会社イオンテクノセンター　会社案内

イオン注入・成膜・分析の技術と設備をさまざまな分野のイノベーションにつ…

■物理分析評価サービス業務 ■技術情報提供サービス業務 ■大学及び研究機関における研究成果および特許権、実用新案権、意匠権、 　商標権等の産業財産権その他無形財産権の事業支援とその仲介 ■測定器、分析器等精密機械器具の企画、開発、製造、販売並びに技術指導 　及び研究に関する業務の受託 ■電子部品及び自動制御機器の企画、開発、製造、販売並びに技術指導及び 　研究に関する業務の受託 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

【実績紹介】半導体・液晶関連

開発から製作まで対応！ウエハ貼り合わせ装置やプラズマエッチング装置など…

開発から製作まで対応した物もありますので、 詳細はお気軽にお問い合わせ下さい。 【実績（一部）】 ■ウエハ貼り合わせ装置 ■ウエハ搬送装置 ■ウエハ梱包・開封装置 ■ウエハ厚さ測定装置 ■プラズマエッチング装置（半導体・液晶） ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： ケーイーエス

非接触式 抵抗測定器『EC-80』

コンパクトで簡単操作の手動式非接触（渦電流法）抵抗測定器

『EC-80』は、プローブ間にサンプルを入れるだけで測定可能な、簡易 測定器です。 抵抗率/シート抵抗測定モードを簡単に切り替え出来ます。 また、JOGダイアルによる簡単な測定条件設定可能です。 プローブ固定式のため、ご購入の前に数タイプのプ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

非接触式 抵抗測定器『NC-80MAP』

広範囲レンジ対応の非接触（渦電流法）シート抵抗/抵抗率 多点測定器

『NC-80MAP』は、複数タイプの非接触プローブによる広範囲レンジ対応の 抵抗測定器です。 搭載するプローブ数およびプローブタイプはご要望により、変更可能です。 エッジ8mmからの多点測定も可能です。 また、非接触の渦電流方式のため、ダメージを与えずに測定できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

【分析事例】STEM・EDXデータと像シミュレーションによる評価

STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます

試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【納入実績】パワー半導体検査装置

計測とメカトロをシステム化！応用電機の納入実績をご紹介

入しております。 「パワー半導体検査装置」は、大電流ユニットや高電圧ユニット、バスバー、 ゲートドライブ回路および計測ソフトウェアをお客様の仕様に基づき 自社開発しております。 AC測定、DC測定ならびに負荷短絡試験など測定全般に関わる ソリューションを提供しています。 【特長】 ■非規格少最生産 ■お客様の仕様に基づき自社開発 ■測定全般に関わるソリューションを提供...

メーカー・取り扱い企業： 応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）

【資料】しるとくレポNo.65＃パワー半導体（2）

回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法についてお話しします

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法に ついてご紹介します。 パワー半導体のスイッチング評価を行う測定環境を改善するために配線を 見直すことがありますが、実は測定系の回路インダクタンスの大きさが 定量的にわからないと改善は難しいのです。 シミュレーションを行う際に、実測した回路インダクタン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.64＃パワー半導体（1）

スイッチング評価はどのような方法で行えばいいのでしょうか？図と写真を用…

します。 当社ではスイッチング評価のノウハウを持ったエンジニアがいますので、 各種パワーデバイスの評価を必要とされる場合は、是非ご相談ください。 【掲載内容】 ■IGBTモジュール　測定回路例 ■IGBTモジュール　測定環境例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【資料】しるとくレポNo.99＃SiCのMOSFETについて

MOSFETの性能はFoMといわれる性能指数で比較！メーカによって測定…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ SiC MOSFETはSiと比べても高い耐圧を持ちながら、抵抗も小さいという 特長を持っています。 この特長を活かして、高耐圧のIGBTをSiCのMOSFETに置き替える製品が 多く見られます。 今回はMOSFETについて、お話ししたいと思います。 SiCのダイオードについて知りたい方はしるとくレポNO.12をご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例としてCu表面を観察した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST