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【資料】超高速フローサイトメーターを最大限に活用するヒントとコツ
PRハイスループット処理とマルチプレックス解析を実現!超高速フローサイトメ…
当資料では、超高速のフローサイトメトリープラットフォームを最大限に活用するヒントとコツについて解説しております。 細胞ベースの分析では、細胞単位ベースでの情報を提供する機器としてフローサイトメーターが依然として有力なツールです。 しかし従来のフローサイトメーターは、ハイスループットなデータ獲得が要求される最新の創薬研究に適した設計ではなく、 そのまま研究ワークフローに当てはめようとすると、ワーク...
メーカー・取り扱い企業: ザルトリウス・ジャパン株式会社
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エスキューは、肌診断機の研究者と販売部門の【橋渡し役】です!
PR肌のポテンシャルをタイプ別に診断する「ポテンシャルファインダー」など、…
当社では、肌化粧品を製造するメーカー様に向けた『肌診断機を用いた化粧品の販売支援サービス』を提供しております。 美容理論に基づき、敏感肌向けの製品から特定のニーズに対応した化粧品まで、肌診断機を用いた多様な拡販支援策にお役立て頂いてきました。肌診断機を用いた新しいアイデアやコンセプトの提供からテスト、市場投入までの一連のプロセスをサポートいたします。 【導入事例(抜粋)】 ・販売現場で、まだ不慣...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エスキュー
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微小領域を狙った測定が可能
評価することで、発生原因を究明し、不具合を改善することができます。 本資料では、金属部材上に付着した異物の成分をRaman分析により評価した結果をご紹介します。 Ramanは約1μmの微小領域の測定が可能であり、狙った箇所の分子構造や結晶構造に関する情報を得られることから、まばらに存在する異物の定性分析に有効です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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目的に合わせた測定条件で評価を行います
す。成膜条件や表面処理等により、組成や結合状態がどのように変わるのかを把握しておくことは、プロセス管理等に有効です。 評価の際は、目的に応じて使用するX線を適切に選択することが重要です。着目ごとの測定条件を併せてご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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【分析事例】Li二次電池負極の充放電サイクル試験後の劣化評価
電池セルの作製から充放電サイクル試験から解体、劣化成分量の調査まで
二次電池の劣化のメカニズムを調べる際に、電極表面の付着物を解析することが重要となっています。MSTではサンプルを雰囲気制御下でTOF-SIMS測定を行いますので、電極最表面の化学状態を大気暴露による変質無く評価することが可能です。 また、充放電サイクル試験から電極表面の測定まで一貫して行うことで、充放電の状態と電極表面の付着物の状態の相関を...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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〈XPS・TOF-SIMS〉 表面分析とは何か・表面分析の種類等、基…
線光電子分光法 ・TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ■分析事例 ・XPSによるSiC表面の状態・膜厚評価 ・Cu表面の酸化状態の定量 ・XPS多点測定による広域定量マッピング ・XPSによるDLCの評価 ・リチウムイオン二次電池におけるLiの結合状態別定量 ・プラズマ処理によるぬれ性変化の原因調査 ・ケミカルシフト...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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量子化学計算による色素分子UV-Visスペクトルシミュレーション
UV-Visスペクトルシミュレーションにより分子の電子的性質が調べられ…
ッド254を対象に量子化学計算に基づくUV-Visスペクトルシミュレーションを実施した事例を紹介します。シミュレーション結果を参照することで、実測データのスペクトル形状を解釈することができます。 測定法:計算科学・データ解析、UV-Vis 製品分野:照明、ディスプレイ、化粧品、日用品 分析目的:化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お手元のXPSスペクトルデータの解析、レポート作成をお引き受けします
近年の測定装置の高度化・高機能化によって、高品質かつ大量のXPSスペクトルデータを短期間で取得することが可能となっています。しかしながら、取得したスペクトルデータの解析にあたってはデータベースの調査や解析技術...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析
SEM像の3D化でリークパスを確認
ewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法:Slice&View・EMS 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSとMALDI-MSの両方を組み合わせた脂質のイメージン…
す。一方、MALDI-MSでは高質量成分を得意とし、イメージングが可能な脂質の種類が豊富です。ここではマウス精巣中における脂質のイメージング質量分析の結果を例に、TOF-SIMSとMALDI-MSで測定した事例を紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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多変量解析を用いた試料間比較により、製品特性や劣化成分を評価します。
品質管理の一環として、産地や品種に特徴的な成分、ロット間で不良原因となっている成分などについて調べたい場合、複数の試料間での比較が必要になります。LC/MS測定で得られたデータを多変量解析を用いて統計的に処理することで、多数の成分の中から試料に特徴的な成分を見つけることができます。今回は多変量解析の一つである主成分分析(PCA分析)を用いて、リンゴの品種が...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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熱分解GC/MS法により粘着剤の構造解析が可能
。これに用いられる粘着剤はその用途によって異なり、種々の素材が使われています。 本事例では市販粘着テープの粘着剤について、熱分解GC/MS法による構造解析を行なった事例を紹介します。3種のテープの測定を行なったところ、それぞれアクリレート系・スチレン/イソプレン系・シリコーン系という異なる素材が使われていることが分かりました。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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微量成分のNMR分析が可能です
とした様々な化合物を対象として、分子構造や分子間相互作用、分子の運動性などの多様な情報を得ることができる分析手法です。本資料では超低温プローブを用いることで、汎用的な室温プローブに比べてより高感度な測定を行った事例を紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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GC/MS:ガスクロマトグラフィー質量分析法
発生ガス濃縮装置はチャンバー内に入れた試料から発生したガスを捕集管にトラップさせる装置です。捕集管にトラップすることで微量の脱ガス成分を濃縮し、GC/MSで高感度に測定できます。試料の種類に合わせて、適したサイズのチャンバーを選択することができ、最大350℃までの加熱に対応しています。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能
・最大6インチまで装置に搬入可能(装置による) ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能 EDX検出器による元素分析が可能 電子線誘起電流(EBIC)を測定し、半導体の接合位置・形状を評価 電子後方散乱回折(EBSD)法により、結晶情報を取得可能 FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能(Slice & View) ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します
・IR-OBIRCH機能も合わせ持ち、発熱箇所特定後、IR-OBIRCH測定により、故障箇所をさらに絞り込むことができます。 ・赤外線を検出するため、エッチングによる開封作業や電極の除去を行うことなく、パッケージのまま電極除去なしに非破壊での故障箇所特定が可能です。 ・...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です
光検出器、質量分析計等が用いられます。 カラムで分離した各イオン成分の保持時間はイオン成分ごとに異なるため、ピーク位置(保持時間)を標準試料と比較することで定性分析を行うことができます。また、測定強度と溶液中のイオン成分濃度が比例関係となるため、濃度既知の標準溶液との比較によりイオン成分の定量分析が可能です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…
またはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可) ・0.1nmφ~の細い電子線プローブで測定が可能 ・ドリフト補正機能を用いることで、面分析でサブnmの積層膜を分布像として識別可能 ・面分析では任意箇所のスペクトルの抽出や線分析の表示が可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
AFMは、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 ・金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能 ・接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを最小限に抑えることが可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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故障箇所を迅速に特定
EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域(可視域から近赤外域)に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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カールフィッシャー滴定法は化学反応を利用して試料中の水分を定量する手法…
カールフィッシャー滴定法には、“電量滴定法”と“容量滴定法”の二つの滴定方法があり、ここでは電量滴定法を紹介します。電量滴定法は、微量な水分を測定するのに有効な手法です。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能!リキッドファンデーションの塗膜をマ…
【概要】 ■測定法:X線CT法・SEM・クライオ加工・Slice&View ■製品分野:化粧品・日用品 ■分析目的:構造評価・製品調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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表面の付着成分(ポリジメチルシロキサンなど)をTOF-SIMSで評価で…
因調査、製作条件を変えた前後での着目成分の変化などです。本資料では、付着成分として代表的なポリジメチルシロキサン(PDMS)について、保管環境が異なるSiウェハ表面の比較を行った例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:電子部品・製造装置・部品・その他(エレクトロニクス全般) 分析目的:表面分析・化学結合状態評価・故障解析・不良解析・その他(汚染評価、品質管理) 詳しくは資...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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高分子フィルムの水酸基評価
学修飾法を用いてアルコール基のみを選択的に反応させた後に、XPSにて定量することが可能です。PVA中のアルコール基を無水トリフルオロ酢酸(TFAA)によって化学修飾して評価した事例を紹介します。 測定法:XPS・化学修飾 製品分野:電子部品・日用品 分析目的:組成評価・同定・化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法:SEM、Slice&View、計算科学・AI・データ解析 製品分野:太陽電池、二次電池、燃料電池 分析目的:構造評価、形状評価、故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSにより光ファイバーの材料の定性・分布評価が可能です
ーは、大きく分けてプラスチック製、石英製の2つがあります。本資料では、TOF-SIMSでプラスチック製光ファイバーの断面を分析することにより、コアおよびクラッドの材料を同定した事例を紹介します。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:光ファイバー・電子部品 分析目的:定性評価、有機物評価、組成分布評価 「詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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AFMによるステップ-テラス構造の可視化
で、表面にステップ-テラス構造が形成されます。本資料ではAFMを用いて、GaN基板表面のステップ-テラスの構造を可視化し、テラス幅、ステップ高さ、表面粗さ、オフ角を評価した事例を紹介します。 測定法:AFM 製品分野:パワーデバイス, 電子部品, 照明 分析目的:形状評価, 構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価
より深さ方向分析を行うことで、各状態に応じて特徴的な分子イオンの取得が可能であることがわかりました。 これらの分子イオンを用いて、金属Cu表面自然酸化膜の深さ方向の状態評価が可能となりました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:ディスプレイ・LSI・メモリ・電子部品 分析目的:化学結合状態評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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発光特性の解析から試料の比較が可能です。
3D蛍光スペクトルの解析に多変量解析を使用することで、データの次元を圧縮・削減し特徴を可視化して捉えることが可能です。本資料ではその一例として、オリーブオイルについて分析を行った例を紹介します。 測定法:蛍光光度計、計算科学・AI・データ解析 製品分野:バイオテクノロジ、医薬品、化粧品、日用品、食品、環境 分析目的:製品調査、安全性評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせく...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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TOF-SIMSによる拭き取り残渣の可視化
ぞれ塗布し、拭き取り前後の成分残渣評価をTOF-SIMSで行いました。その結果、BSAの拭き取りには水よりもエタノールの方が適していることや、基質によって拭き取り効果が異なることがわかりました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:医療機器・医薬品 分析目的:組成評価・同定・組成分布評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です
では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。 測定法:TEM 製品分野:パワーデバイス・光デバイス 分析目的:形状評価・構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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活物質の粒径・結晶方位評価、原子レベル観察が可能
子について高分解能STEM観察を行 い、軽元素(Li,O)の原子位置をABF-STEM像で、遷移金属(Ni,Co,Mn)の原子位置をHAADF-STEM像で可視化した事例を紹介いたします。 測定法:SEM・EBSD・TEM 製品分野:二次電池 分析目的:形状評価、構造評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』
JIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概…
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『FOOMA JAPAN 2024』に出展!乾燥データ抽出…
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食品用コーティング剤の飛散や周囲の汚れを防止。ダクト工事不要で…
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CKD株式会社 -
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