• NMRと分子動力学計算の低分子化合物-タンパク質間相互作用の解析 製品画像

    NMRと分子動力学計算の低分子化合物-タンパク質間相互作用の解析

    PRNMRとMD計算で低分子化合物とタンパク質の相互作用を評価できます。

    生理活性化合物の中には、タンパク質を標的として作用する化合物が数多く存在します。そのため、低分子化合物とタンパク質間の相互作用について構造的な知見を得ることは薬剤の開発にとって非常に重要です。 本資料では、NMRと分子動力学計算を用いて溶液中におけるL-トリプトファンとウシ血清アルブミン(BSA)の相互作用を解析した事例を紹介します。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせくださ...

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  • 【分析事例】GC/MSによる食品中トリグリセリドの分析 製品画像

    【分析事例】GC/MSによる食品中トリグリセリドの分析

    トリグリセリドを分解せずに分離・定性が可能

    生体や食品中には脂肪酸組成の異なる複数のトリグリセリドが含まれています。 総脂肪酸の分析ではトリグリセリドをグリセリンと脂肪酸に分解して測定を行いますが、トリグリセリドの状態における脂肪酸の組み合わせの情報は失われてしまいます。ここでは食品中のトリグリセリドをGC/MSで直接分析することで、どのような脂肪酸組成を持ったトリグリセリドが含まれているか分析した事例を示します。...詳しいデータはカタ...

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  • 【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察 製品画像

    【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

    金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

    走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...詳しいデータ...

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  • 【分析事例】金属(Sn)の昇温脱離ガス分析 製品画像

    【分析事例】金属(Sn)の昇温脱離ガス分析

    低融点金属のTDS分析

    Snは半導体の製造でも使用されるはんだの主原料として用いられています。はんだ中のガスはボイド発生の原因となるため、はんだやその主原料であるSnの内包ガス量を制御することが重要です。TDS分析にてSnを融点を超える温度まで昇温し、脱離したガスについて調査した結果を以下に示します。 試料を融点以上に昇温することで、試料の表面吸着成分や内包ガスの成分について評価することが可能です。...詳しいデータは...

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  • 【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析

    Csコレクタ付STEMによる原子レベル分解能EDX分析

    TEMの球面収差を補正したCsコレクタ付TEM装置を用いることで、高分解能で素子の断面構造観察を行うことができます。 本事例ではCIGS薄膜太陽電池の光吸収層の高分解能(HR)-STEM観察とEDX元素分布分析を行ったデータを紹介します。4種類の元素からなる多結晶構造を持つCIGSにおいて、原子分解能レベルのEDX分析を行うことで、視覚的に原子の分布を明らかにすることができました。...詳しいデ...

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  • EV関連分析事例 製品画像

    EV関連分析事例

    分析でEV開発のEVolutionを!

    車載電池、デバイスをはじめとするEVに不可欠な部材に対して、好適な分析メニューをご提供します。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

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  • 【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価 製品画像

    【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

    球体形状試料の評価事例

    AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμmの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価 製品画像

    【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価

    試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

    樹脂中に存在する有機系の異物を評価する際、試料や分析の条件によってはそのままの状態での評価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。 エポキシ系樹脂中に混入した数10μmの異物を断面加工により露出後、TOF-SIMSで評価しました。異物成分の同定と、分布状態の確認ができました。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

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  • 【分析事例】レスベラトロールの血液中・尿中成分濃度分析 製品画像

    【分析事例】レスベラトロールの血液中・尿中成分濃度分析

    機能性成分の吸収量算出ができます

    レスベラトロールは赤ワインやピーナッツの渋皮に含まれるポリフェノールの一種で、抗酸化作用や抗炎症作用があるとされています。 レスベラトロールは摂取後に胃で吸収され、速やかに代謝されることが知られています。代謝の過程でグルクロン酸抱合体や硫酸抱合体になりますが、それら代謝物をレスベラトロールに変換して定量することにより、レスベラトロールの吸収量を算出できます。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

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  • 【分析事例】血中Liの濃度評価 製品画像

    【分析事例】血中Liの濃度評価

    低い濃度から中毒域まで、広範囲で分析できます

    躁病や双極性障害の治療に広く使用される炭酸リチウムは、リチウム中毒を防ぐため、適正な血中濃度を保って治療が行われなければなりません。そのため、定期的な血中濃度の測定(治療薬物モニタリング:TDM)が求められています。 ICP-MS (誘導結合プラズマ質量分析)法による分析では治療域未満の濃度から中毒域まで広範囲での血中のLi濃度の定量が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】室内雰囲気中の腐食成分分析 製品画像

    【分析事例】室内雰囲気中の腐食成分分析

    インピンジャー捕集法による大気中イオン成分の分析が可能です

    半導体やその製造プロセス分野では環境中に存在する無機物や有機物を制御することが重要とされています。 MSTではインピンジャー捕集法により室内雰囲気中の成分を回収し、雰囲気中腐食成分の種類や量を分析することが可能です。今回はイオンクロマトグラフィーを用いたインピンジャー捕集-イオンクロマトグラフ法で分析した事例を紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】水中のカビ臭原因物質の分析 製品画像

    【分析事例】水中のカビ臭原因物質の分析

    水中の極微量カビ臭原因物質の分析が可能

    ジェオスミン及び2-メチルイソボルネオール(2-MIB)は、藍藻類又は放線菌によって産生され、ダム、湖沼、河川等の表流水を水源とする水道の異臭味障害原因物質とされ、カビ臭原因物質として知られています。本事例では、水中に含まれるジェオスミン及び2-MIBを測定した結果を紹介します。 GC/MSを用いてppt(ng/L)レベルの検出が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング 製品画像

    【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング

    最大70×70mm領域の組成分布評価

    XPS多点測定による広域定量マッピングの事例をご紹介します。 シリコンウエハ上の有機物残渣について、以下の手順で評価いたしました。ピーク強度ではなく存在量(原子濃度)をグラフ化するため、試料凹凸等の影響を受けにくく、且つ広域でのデータ取得が可能です。 試料表面付着物等を俯瞰的に調査することに適しています。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • [SXES]軟X線発光分光法 製品画像

    [SXES]軟X線発光分光法

    SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法…

    ・試料中の特定元素(特にB,C,N,O等の軽元素)に着目した化学結合状態の評価が可能 ・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映 ・X線吸収スペクトル(XAS)との同時測定によってバンド構造の評価も可能 ・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい ・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能 ・検出下限が低く(<1atomic%)、微量成分であ...

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  • 【分析事例】透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析 製品画像

    【分析事例】透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析

    EBSD:電子後方散乱回折法

    薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】燃料電池等の窒素ドープカーボン材料窒素の置換位置評価 製品画像

    【分析事例】燃料電池等の窒素ドープカーボン材料窒素の置換位置評価

    ケミカルシフトを利用して窒素の置換位置の同定や定量的な分離が可能です

    燃料電池の電極触媒であるPtに替わる材料として、窒素(N)原子を導入したカーボン材料が注目を集めており、その触媒活性にはカーボン材料中に存在するNの置換位置が大きく関わっています。XPS分析では、Nの結合状態や置換位置の違いによりケミカルシフトが生じるN1sスペクトルの評価を行うことで、Nがどの位置のCと置換されたのかの同定や定量的な分離が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】リライト材料の層構造分析 製品画像

    【分析事例】リライト材料の層構造分析

    無機・有機成分の層構造解析と分子情報の可視化が可能

    情報記録材料であるリライト材料を用いた一般的なポイントカードの断面構造について、各層に分布する材料の分子情報や質量を可視化した事例をご紹介します。 ポイントカードの断面を、TOF-SIMSを用いて分析を行いました。イメージ像により、構成分子や添加剤の存在が確認できました。また、重ね合わせ像によりそれぞれの位置関係が明確となり、構造の把握ができました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査 製品画像

    【分析事例】固体高分子燃料電池電解質膜の劣化調査

    LC/MS・ICによる劣化溶出成分の評価

    固体高分子形燃料電池(PEFC) は常温で高出力のため車載用、家庭用コージェネレーション、モバイル用として注目されています。 今回は固体高分子電解質膜をフェントン試薬(過酸化水素水+鉄イオン共存溶液)により模擬的に劣化させて溶液中の劣化分解物の調査を行いました。LC/MSにより劣化分解物の組成情報を、ICにより溶出イオンの情報を得ることができます...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】粉体異物の定性分析 製品画像

    【分析事例】粉体異物の定性分析

    手法を組み合わせることで、複数種類の成分情報を得ることが可能です

    異物の分析では、異物の大きさや予想物質、下地等の状態によって分析手法を適切に選択することが重要です。実体顕微鏡観察、元素分析(XRF)、結合状態分析(XRD, FT-IR)を組み合わせることで、粉体に含まれる複数種類の成分について知見を得ることが可能です。 本資料では、上記手法を用いて粉体異物の定性分析を行った事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】医薬品の結晶多形評価 製品画像

    【分析事例】医薬品の結晶多形評価

    結晶多形の構造評価が可能です

    医薬品の大多数は結晶であり、複数の結晶形を持つことが知られています。同一の物質であっても結晶形により溶解性などの物理化学的な性質が異なり、医薬品の有効性や安全性にも影響を及ぼすため、結晶形の同定が非常に重要です。 本事例では結晶多形が問題となっている原薬成分について、純粋な原薬粉末および市販品についてXRD分析を実施し結晶形の評価を行いました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】300mmウエハ最表面の異物の評価 製品画像

    【分析事例】300mmウエハ最表面の異物の評価

    異物検査装置との座標リンケージ機能で特定異物の評価が可能

    異物検査装置で確認された異物の成分をクリーンルーム設置のTOF-SIMSで特定することが可能です。 CMP洗浄後の異物を評価し、着目の異物から、Cuと炭化水素成分を検出しました。異物周辺には、広範囲で同じ成分が分布していました。このことから、この異物はパーティクルというよりはむしろ、ウォーターマーク状の洗浄残渣であると推定されます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価 製品画像

    【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価

    試料断面における応力分布を確認することが可能です

    単結晶Siのラマンスペクトルのピークは、試料に圧縮応力が働いている場合は高波数シフト、引張応力が働いている場合は低波数シフトします。これにより、Siの応力に関する知見を得ることができます。 IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)の断面について、ラマンマッピングで応力の分布を確認した例を示します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立 製品画像

    X線CTによるスティッチング撮影-広視野観察と高分解能観察の両立

    複数のCT像を縦に連結して撮影することができます

    一般的に、X線CTの視野サイズと解像度はトレードオフの関係にあり、解像度を上げるほど視野サイズは小さくなります。 そこで、X線CTには、複数のCT像を縦に連結することができる”スティッチング”という撮影法があります。スティッチング撮影法により、高解像度条件でも広い視野サイズで観察可能です。...詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

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  • 【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価 製品画像

    【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価

    組成・結合状態・構造・密度の評価が可能

    CIGS薄膜太陽電池の高効率化において、光吸収層から透明電極までのバンド構造や結晶性の制御のために様々なバッファ層材料が検討されております。 平坦化された基板上に成膜したZn系バッファ層についてX線による各種評価を行った事例を示します。 成膜条件による水準間、成膜後の各種プロセスの水準間での比較が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】CIGS粉体の組成・不純物分析 製品画像

    【分析事例】CIGS粉体の組成・不純物分析

    主成分および微量成分の定量分析が可能

    CIGS薄膜太陽電池のフレキシブル化・低コスト化を目指した開発において、光吸収層の低温形成プロセスや非真空下プロセスが必要とされており、CIGS組成の成膜方法の最適化や金属汚染量の制御が重要になっています。 今回は原料となるCIGS粉末の組成・含有不純物濃度について、ICP-MSを用いて高精度に評価した事例を紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】素子分離領域の歪解析 製品画像

    【分析事例】素子分離領域の歪解析

    NBD:Nano Beam Diffractionによる微小領域の歪解…

    NBD法では電子線が試料中で回折する角度(電子回折スポット位置)の変化から、格子歪に関する知見を得ることができます。任意の晶帯軸入射方向で、デバイスパターンに合わせた測定が可能です。 素子分離領域(LOCOS周辺)のSi基板について測定した結果、熱処理温度・結晶方向によって歪量が異なっていることが確認できました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析

    微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能

    二次イオン質量分析法(SIMS)を用いて、市販TFT液晶ディスプレイのデータ信号配線とゲート電極配線の交差部(4μm×10μm)を、基板側から分析(SSDP-SIMS)した例を示します。 基板側から測定(SSDP-SIMS)を行うことにより、表面側の高濃度層や金属膜などの影響がないデータの提供が可能となります。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】ソフトコンタクトレンズの表面イメージング 製品画像

    【分析事例】ソフトコンタクトレンズの表面イメージング

    水溶液中でAFM分析による表面性状の定量評価ができます

    高分子には、環境によって形状変化する素材があります。試料本来の形状を観察するためには、実環境での測定が必要となります。 本資料では、生理食塩水中でのソフトコンタクトレンズ表面形状を可視化した事例をご紹介します。実環境に近い条件で測定することによって、試料本来の形状を保ったままの評価が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析 製品画像

    【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析

    ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

    透過型電子顕微鏡(TEM)はμm~nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。 アイシャドウは固体粒子の集まりなので、そのままTEMによる分析を行いました。 TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。 さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】水素終端ウエハの脱ガス分析 製品画像

    【分析事例】水素終端ウエハの脱ガス分析

    最表面、単原子層の水素をTDSで評価可能です

    TDSは試料を昇温し、脱離したガスをイオン化して質量分析を行う手法です。高真空中(1E-7 Pa)で、質量電荷比(m/z) 2~199について分析可能です。 今回は水素終端処理を施したSiチップについて、TDS分析を実施した例をご紹介します。TDSにて、水素終端の水素の脱離を捉えることができました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiO2中のアルカリ金属の深さ方向分布評価 製品画像

    【分析事例】SiO2中のアルカリ金属の深さ方向分布評価

    試料冷却による高精度なアルカリ金属の分布評価

    SiO2中のアルカリ金属の分布を一般的な分析条件で測定すると、測定に起因する電界などの影響により、深さ方向濃度分布に変化が生じることが知られています。 MSTではSIMS測定時に試料を冷却することでアルカリ金属の濃度分布変化を抑制し、より高精度に濃度分布を評価いたします。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】DRAMチップの解析 製品画像

    【分析事例】DRAMチップの解析

    製品内基板上DRAMのリバースエンジニアリング

    代表的なメモリであるDRAMについて製品レベルからTEM観察による素子微細構造解析まで一貫して分析します。 外観観察からレイヤー解析、Slice&Viewを行うことで構造の全体像を把握し、FIB加工位置をナノレベルで制御し薄片形成後にメモリ部の微細構造をTEM像観察しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析 製品画像

    【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析

    IC:イオンクロマトグラフィー

    イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です。 また、固体(部材)表目に付着しているこれらの成分は、純水に浸して抽出することで測定します。 MSTでは液体試料に含まれるイオンや有機酸の定性・定量分析、部材表面から溶出するイオン量評価、部材の腐食原因調査が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】白色粉体の複合分析 製品画像

    【分析事例】白色粉体の複合分析

    FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定

    異物等の未知試料を分析・同定する場合、複数手法での測定結果から複合的にデータを解析することが有効です。 振動分光であるFT-IR分析と、大気中での元素分析手法であるXRF分析とを組み合わせて評価し、2種類の白色粉体の同定を行った事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】カーボン膜の構造評価 製品画像

    【分析事例】カーボン膜の構造評価

    構造特定・結晶性・sp3性の評価

    カーボンを構成元素とする物質にはダイヤモンド、グラファイト、カーボンナノチューブ、グラフェンなどの結晶構造を持つものとダイヤモンドライクカーボン(DLC)のようにアモルファス構造のものがあります。ラマン分光法はこれらの物質の構造特定や結晶性、sp3性の評価などに有効です[1][2]。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】導電性塗料中の成分の分析 製品画像

    【分析事例】導電性塗料中の成分の分析

    試料冷却により塗料中の添加剤の形状と成分、および分散状態を評価

    導電性塗料は、絶縁性材料に導電性を持たせるために用いられています。もともと絶縁性である塗料自体に導電性を持たせるために、塗料中には添加剤が加えられています。 本資料では、導電性の異なる2種類の導電性塗料について、塗料中の添加剤の形状と成分、および添加剤の分散状態を評価しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】スマートフォン用保護フィルムのAFM分析 製品画像

    【分析事例】スマートフォン用保護フィルムのAFM分析

    感覚的な製品の出来映えを定量評価可能

    スマートフォンの普及率は年々増加し、それに併せて表面に貼る保護フィルムも機能が多様化しています。 今回、指紋防止及び反射防止機能を持つ2種(A,B)のフィルムについて、AFM分析により、手触りのような感覚を粗さという観点で定量評価した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】化粧品の非破壊分析 製品画像

    【分析事例】化粧品の非破壊分析

    X線CTにより製品の内部構造を非破壊で評価可能

    X線CTは非破壊で試料の内部構造を測定できる分析手法であり、化粧品内部の異物、空隙、亀裂などの異常箇所の調査や、パール剤等の分散確認などの出来栄え評価に適しています。 本事例ではファンデーションや口紅をX線CTで測定し、内部の構造を非破壊で評価しました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価 製品画像

    【分析事例】バイポーラトランジスタの拡散層構造評価

    pn判定を含む拡散層の構造を明瞭に観察可能

    市販LSI内のNPNバイポーラトランジスタについて全景からエミッタ部の拡大まで詳細に観察が可能です。 エミッタ電極の中心を通る断面を露出させ、AFM観察、SCM測定を行った事例です。 AFM像と重ねることで、配線との位置関係がはっきりします。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】有機ELディスプレイの総合評価 製品画像

    【分析事例】有機ELディスプレイの総合評価

    構造把握・材料評価・劣化原因特定など各種手法を組み合わせて評価します

    有機ELは、自発発光するフレキシブルな次世代ディスプレイ、照明パネルとして期待されておりますが、更なる信頼性の向上が望まれています。各種手法を組み合わせることにより、構造解析や状態分析および劣化原因の特定などの総合評価が可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例 製品画像

    【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例

    ライフタイム制御サンプルのキャリア濃度分析事例紹介

    パワー半導体デバイスでは、ライフタイム制御のために、Si基板内に結晶欠陥を形成することがあります。ライフタイム制御領域の作成に用いられる元素の一つである水素イオンの熱処理条件の違いによるキャリア濃度分布を評価した事例を示します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】有機EL素子の劣化評価 製品画像

    【分析事例】有機EL素子の劣化評価

    雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制

    有機ELを搭載した市販のデジタルオーディオプレーヤーについて、通電により輝度が劣化したものと非通電のものの比較を行いました。 その結果、TOF-SIMSのスペトルにはサンプル間で差は見られませんでした。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】パワートランジスタ(DMOSFET)の拡散層評価 製品画像

    【分析事例】パワートランジスタ(DMOSFET)の拡散層評価

    ゲート・ソース層・ボディ層の位置関係がわかります

    市販パワートランジスタ(DMOSFET) について、ポリSi ゲートとn型ソース層およびp型ボディ層の形状・位置関係を調べました。 AFM像と重ねることでゲートとの位置関係も知ることができます。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】カールフィッシャー電量滴定法における試料導入方法 製品画像

    【分析事例】カールフィッシャー電量滴定法における試料導入方法

    カールフィッシャー滴定法

    カールフィッシャー電量滴定法は水分量を評価する方法であり、試料の性状に応じて装置への導入方法が異なります。ここでは電量滴定する際の二つの試料導入方法を紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。...詳しいデータ...

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  • 【分析事例】顔料・色素の分散の観察 製品画像

    【分析事例】顔料・色素の分散の観察

    TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定

    ポリエチレン表面に分散した青色色素「Cuフタロシアニン」の分布を調べました。 TOF-SIMS分析にて、1μmの色素系有機物の分布を捉えることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

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