【書籍】実験の自動化・自律化によるR&Dの効率化（No2230）

PR【試読できます】－AI、ロボット技術、ChatGPT、MI、ベイズ最適…

書籍名：実験の自動化・自律化によるR&Dの効率化と運用方法 －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－ ☆実験者、熟練度、実験日によるバラツキを削減！ ☆「ケタ違いの開発スピード」、「圧倒的なコスト削減」を実現する秘策を大公開！ －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－ ■　本書のポイント １．担当者に自発的にデータ入力を促すにはどうするか？ ２．異なる形式で散在している実験データの集積...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会

自動計測コロニーカウンター PSFシリーズ

PR計測するサンプルに応じた照明・背景の自動切換え機能を搭載して新登場！

自動計測コロニーカウンター『PSFシリーズ』は、設定領域面積中に 存在するコロニー数を、一定の基準で瞬時に自動計測する装置です。 カメラとシャーレ間の撮影距離に十分な長さを確保することで、 計測範囲をシャーレ周縁部ぎりぎりまで広げることが可能。 計測条件に合わせてカメラ設定だけでなく、上下照明のオンオフや 背景色の切り替えを自動で行います。それにより、多種多様な サンプルを計測される場合、操作...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社写真化学 草津事業所

原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定に...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹…

『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁 イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの 原子間力顕微鏡(AFM)です。 傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の 課題を...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社

原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-Hivac』

故障解析アプリケーションに適した真空環境スキャニング

でに認められた技術を用いることによって、高分解能で 高い再現性と操作性による低ノイズ計測を可能にした製品です。 【故障解析の為の高真空計測】 ■高速スキャンのための進化したStepScan自動機構とレーザーアライメント機構 ■マルチサンプルチャック ■Park独自の容易なチップ交換機能 ■大型真空チャンバー(300mm×420mm×320mm) ■超長距離観察を実現した直上光学顕...

メーカー・取り扱い企業： パーク・システムズ・ジャパン株式会社