• リニアポンプ『LRシリーズ』【優れた定量性と送液精度!】 製品画像

    リニアポンプ『LRシリーズ』【優れた定量性と送液精度!】

    PR医薬・研究・食品・環境分析など幅広い用途に応える高機能!独自開発による…

    リニアポンプ『LRシリーズ』は独自開発による超高効率リニアドライブ により、優れた定量性と送液精度で医薬・研究・食品・環境分析など 幅広い用途に応える高機能を搭載しています。 【特長】 ■静音  新しい駆動方式の採用により騒音の原因となる運転音を回避。  ※ 運転条件、周囲環境により異なります。 ■無脈動  駆動部を独立制御。2つのポンプ部の交互運転により無脈動注入を実現。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イワキ

  • ついに販売開始!温風乾燥試験機と新機能搭載の2製品をご案内! 製品画像

    ついに販売開始!温風乾燥試験機と新機能搭載の2製品をご案内!

    PR『FOOMA JAPAN 2024』に出展!乾燥データ抽出・可視化…

    当社は、2024年6月4日(火)~9日(金)に開催される「FOOMA JAPAN 2024」に出展致します。 ついに販売を開始した「温風乾燥試験機」の展示と、新機能を搭載した2製品を技術発表! ■温風乾燥試験機 型番 : RAD-AD-EC80【展示】 ■横流れ式循環型乾燥機 SKH-10【パネル展示】 ■冷風除湿ユニット搭載試験機【展示(技術発表)】 ■横吹き多段ファン式循環型乾燥...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社木原製作所

  • 電子顕微鏡での受託観察 製品画像

    電子顕微鏡での受託観察

    走査型電子顕微鏡(FE-SEM)による表面観察を受託いたします:分解能…

    料表面の形状を観察 ・試料サイズの条件:最大試料サイズ: 15mm(径)×高さ10mm以下 ・対象試料の条件:高分子材料、金属、セラミックスなどの固体試料(他は要相談) ・試料の前処理:E-1010イオンスパッター(日立)により金蒸着を行います。 【注意事項】 ※試料に関する種類・注意事項等ございましたら、事前にお申しつけ願います。 ※高真空状態で撮影しますので、湿潤サンプルはお受...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社魁半導体

  • 化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 製品画像

    化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定

    化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。

    (O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • SiC 基板へのAl イオン注入深さ分析 製品画像

    SiC 基板へのAl イオン注入深さ分析

    SiC基板へアルミニウムをBOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介…

    SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、SiC基板へアルミニウムを BOX 注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 SiC 基板は絶縁性が高いため、1次イオンビームを試料表面に照射すると 電荷が蓄積するため正...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 砒素イオン注入深さ分析 製品画像

    砒素イオン注入深さ分析

    SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。

    当ページでは、SIMS (アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、シリコンへ 砒素をイオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 砒素(75As)はマトリックスであるシリコンと残留ガスである酸素あるいは 水素との複合分子(29Si30...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • アルミイオン注入深さ分析 製品画像

    アルミイオン注入深さ分析

    検出下限を1E16n/cm3に下げることが出来ました。SIMSによる分…

    半導体材料開発には不純物分析が重要ですが、高感度で分析できる二次イオン 質量分析(SIMS)が適しています。 SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、シリコンへアルミニウムを イオン注入したサンプルを分析した結果を紹介します。 アルミニウムの質量数はシリコンと隣接しているため Q ポール型 SIMS では 測定が困難ですが...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 事例集 製品画像

    化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 事例集

    化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載!

    究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの 深さ分解能測定の結果を掲載している事例集です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、 Al0.28Ga0.72As/GaAsを50nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した 化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を 掲載しています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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