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ハイエンドモデルの卓上SEM
卓上SEMながら汎用SEMに匹敵する性能を有するハイエンドモデルです。汎用SEMのモジュールを最小化して開発した高性能コンパクトSEMです。タングステンフィラメントタイプの卓上SEMでは業界最高の分解能5nm(最大倍率 150,000x)を実現し、加速電圧は1kV~30kVまで使用可能です。低真空モー ド / 高真空モードの切り替え、二次電子像 / 反射電子像の取得、モーター制御の5軸ステージ、ア...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社サイエンスラボラトリーズ
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欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…
『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...
メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社
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試料研磨で使用するダイヤモンド研磨剤です。樹脂にダイヤモンド砥粒が練り…
ダイヤモンド研磨剤を含んだ樹脂のプレートです。 【特長】 〇豊富なサイズ(μ)とタイプを取りそろえております。 〇研磨紙では研磨出来ない硬い試料の研磨に効果的です。 〇マグネットで固定しますので簡単に脱着出来ます。 〇耐久性はおよそ研磨紙100枚分です。 ☆Amazonサイトでもご購入頂けるようになりました。 Φ200mm ダイヤモンドプレート https:/...
メーカー・取り扱い企業: ハルツォク・ジャパン株式会社
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低加速SEM・計測用/解析用電子線源として使用可能!組込可能な小型電子…
小型電子線鏡筒『MINI-EOC』は、Schottkyエミッタを用いた組込可能な電子線鏡筒で、 既存の装置へ追加する事ができます。 主に大電流密度や低加速を要求される計測や解析(LEED(低速電子回折)、 AES(オージェ電子分光法)、EDS(エネルギー分散分光法)、 EELS(電子エネルギー損失分光法))等に応用できます。 超高真空対応のSPM(走査プローブ顕微鏡)等と組み合わ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ
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コンパクトな設計で省スペースの取付けが可能!装置開発のための電子検出器
小型二次電子検出器『MINI-SED』は、シンチレータタイプの検出器で、 反射電子、二次電子を捕獲し増幅して電気信号として出力します。 コンパクトな設計のため、省スペース化を実現できます。 また、既存の装置への機能追加として使用可能です。 短タイプ(先端長:50 mm)、細タイプ (先端径:φ10mm)など 特殊仕様等のご相談にも対応いたします。 【特長】 ■pAからμA...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ
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