• TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用 製品画像

    TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM

    CD-SEM、レビューSEM用の高圧電源装置「FE103XP」です!

    本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。...-...

    メーカー・取り扱い企業: フューテックス株式会社

  • 『低加速SEM・計測/解析用電源ユニット』 製品画像

    『低加速SEM・計測/解析用電源ユニット』

    JIS標準ラックに収納できる!目的に合わせて各ユニットを自由に組み合わ…

    『低加速SEM・計測/解析用電源ユニット』は、小型電子線鏡筒 MINI-EOC用の操作電源です。 JIS標準ラックに収納可能で安定性があります。 また、用途に合わせて各ユニットを自由に組み合わせられます。 【特長】 ■JIS標準ラックに収納可能 ■お客様の目的に合わせて各ユニットを組み合わせ可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。......

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 【資料】真空コネクタソリューション 製品画像

    【資料】真空コネクタソリューション

    今後の装置に対して幅広いラインアップの気密封止型製品で「お客様の多様な…

    レモのラインナップには真空気密レセプタクルと真空フィードスルーカプラーがあります。これらのモデルは、すべてのシリーズとサイズで提供可能であり、標準型タイプでは80℃までの温度で使用可能です。 高温環境では、300℃までにおいて、気密ソリューションをカスタム品として提供出来ます。 He漏れ率は1×10⁻⁸ Pa ㎥/s (1×10⁻⁷mbar.ℓ/s)以下です。より低い漏れ率が必要な場合は、...

    メーカー・取り扱い企業: レモジャパン株式会社

  • 【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析 製品画像

    【分析事例】電子デバイス内特異箇所の複合解析

    デバイス内部の構造を複合的に評価します

    MSTでは電子デバイス内部の構造評価に適した技術を取り揃えており、観察視野や目的に応じた分析手法をご提案します。 本資料では、X線CTとFIB-SEMを用いてデバイスの特異箇所を調査した事例を紹介します。まずX線CTを用いてサンプル全体の内部構造を観察し、特異箇所を探索しました。続いて、ビア上に確認された特異的な構造物について、FIB-SEMを用いて詳細な構造を確認しました。...詳しいデータ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価 製品画像

    【資料】二次電池負極SEI被膜の元素分布評価・化学状態評価

    負極の断面構造・表面形状、活物質断面の元素マッピング像など複合的にアプ…

    リチウムイオン二次電池の負極での容量低下の一因として、 活物質と電解液の界面反応により活物質表面に様々なリチウム塩化合物が 複合化したSEI(SolidElectrolyteInterphase)と呼ばれる被膜が 形成されることが挙げられています。 電池の性能向上のためには、SEI被膜の組成・厚み・化学結合状態の 制御が求められています。 当資料では、車載用電池の炭素系の負極活...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CMOSセンサの総合評価 製品画像

    【分析事例】CMOSセンサの総合評価

    スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

    市販品のスマートフォンからレンズ、CMOSセンサチップをそれぞれ取り出し、評価した事例をご紹介します。 目的に応じて研磨・FIB加工により、平面、断面を作製し、TEM,SEMにより層構造やレイヤーを確認しまた。さらに、EDXにより膜種の同定を行いました。MSTでは、解体から分析まで一貫してお引き受けが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価 製品画像

    【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

    球体形状試料の評価事例

    AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμmの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • LaB6電子銃用-30KV高圧電源・完全カスタムオーダー 製品画像

    LaB6電子銃用-30KV高圧電源・完全カスタムオーダー

    LaB6カソード電子銃を使用したSEM用の電源です!

    本製品は、加速電源、バイアス電源(アクティブ・バイアス方式)、フィラメント電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。...本製品は、加速電源、バイアス電源(アクティブ・バイアス方式)、フィラメント電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: フューテックス株式会社

  • 【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 製品画像

    【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

    着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

    走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)及び走査イオン顕微鏡(Scanning Ion Microscope:SIM)は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【資料】小型・高密度コネクタソリューション 製品画像

    【資料】小型・高密度コネクタソリューション

    今後の更なる半導体製造装置の進化に対して小型高密度製品で「お客様のダウ…

    レモの高ピン密度丸型コネクタはアプリケーションの使用スペース、装置の小型化と関連コストの最適化を可能とします。 標準の低電圧コンタクトに加えて、広い範囲の現存する複合構成商品を提供出来ます。 これにより、同軸、高電圧、光ファイバーと低電圧コンタクトを同一コネクタ内に複合化出来ます。 主なアプリケーション分野: ■ スパッタリング装置 ■ ドライエッチング装置 ■ 露光装置用温度...

    メーカー・取り扱い企業: レモジャパン株式会社

  • 『LCDガラス基板加工』 製品画像

    『LCDガラス基板加工』

    お客様のニーズに合わせて仕入れから出荷まで!Rコーナーカットにも対応!…

    株式会社ミツル光学研究所では、お客様のニーズに合わせた『LCDガラス基板加工』を 行っております。 各ガラスメーカーより仕入れた材料を、ニーズに合わせ切断、面取り、研磨等を施し、 お客様から指定された梱包形態に合わせ、全国各地のご指定場所へ輸送いたします。 面取り加工についてはガラス強度を上げるためRコーナーカット、R面取りの形状にも 対応しております。 【特長】 ■切断...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ミツル光学研究所

  • 汎用熱電子銃用-30KV高圧電源・完全カスタムオーダー 製品画像

    汎用熱電子銃用-30KV高圧電源・完全カスタムオーダー

    汎用SEM用の高圧電源装置「TW303S」です!

    本製品は、加速電源、バイアス電源(アクティブ・バイアス方式)、フィラメント電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。...本製品は、加速電源、バイアス電源(アクティブ・バイアス方式)、フィラメント電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽に...

    メーカー・取り扱い企業: フューテックス株式会社

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