• 【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価 製品画像

    【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

    急冷凍+SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認! ★第…

    液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。 しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工+SEM分析(クライオSEM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • クールステージ 「SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ」 製品画像

    クールステージ 「SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ」

    観察範囲選択用3.6mm、6mmおよび12mmの交換レンズ付き

    デーベン社は全ての低真空から高真空SEM用に汎用性の高いクールステージを開発いたしました。 クールステージはSEMの空いているポートを介し、取付けおよび取外しがユーザーによって容易に行えます。 -25℃付近に試料を冷却させ、低真空下でSEMイメージを観察すると、室温時と比べ水の蒸発が減少し明らかにその違いを観ることができます。 【特徴】 ○標準温度範囲:-25℃~50℃( at 50P...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 真空発生器(マルチステージエジェクタ) SEM-C 製品画像

    真空発生器(マルチステージエジェクタ) SEM-C

    通気性のあるワークに適した高吸込量エジェクタ!

    マルチステージエジェクタ SEM-Cシリーズは、高い吸込み能力を備えた真空エジェクタです。 多段式のノズルを内蔵しているため、吸込み量が多く、圧力も最大-80kPaまで上がります。 段ボールを始めとする包装機械関連の搬送や、木材の吸着など、通気性のあるワークのアプリケーションに適しています。 また、吸込み量が多いため、サイクルタイムの短縮にも有効です。...【特徴】 ○多段式ノズルタイプ ...

    メーカー・取り扱い企業: シュマルツ株式会社

  • [Slice&View]三次元SEM観察法 製品画像

    [Slice&View]三次元SEM観察法

    FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

    FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工(Slice)とSEMによる観察(View)を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScatte...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ParticleX TC 異物自動解析SEM 製品画像

    ParticleX TC 異物自動解析SEM

    異物・不純物となる粒子の検出から、サイズ計測、元素分析までを完全自動化…

    Phenom ParticleX TC 異物自動解析SEMは 自動車製造における完成車や部品に含まれる 異物、不純物であるコンタミネーション(コンタミ)の 検出からサイズ計測、元素分析までを自動で行う 粒子自動分析装置です。 従来の重量分析ではコンポーネントに付着した 異物の総重量は分かりますが、その発生源を 特定することは出来ません。 Phenom ParticleX...

    メーカー・取り扱い企業: 極東貿易株式会社

  • 【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価 製品画像

    【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価

    Slice&Viewデータから各物質の体積計算が可能

    Slice&View(FIB加工とSEM観察を繰り返し数十枚の連続画像を得る手法)のデータを用いて、粒子などミクロンオーダーの体積計算を行うことが可能です。これにより、一定体積中の各物質の存在比率や平均体積等の情報を得ることができます。 本事例ではリチウムイオン二次電池正極のSlice&View分析結果から活物質の体積を計算し、存在比率を算出した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログを...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SEM装置での歪み評価 製品画像

    【分析事例】SEM装置での歪み評価

    EBSD:電子後方散乱回折法

    TEM(NBD:Nano Beam Diffraction)のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1 製品画像

    【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

    金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察…

    当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材(ばね材)の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材(ばね材)の金属組織観察 ■2相ステンレス...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • [EBIC]電子線誘起電流 製品画像

    [EBIC]電子線誘起電流

    試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…

    SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部に取り出すことができます。 この起電流をEBIC(Electron Beam Induced Current)と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB(集束イオンビーム)加工との組み合わせで連続的な断面SI...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • SC2000 イオンミリングシステム 製品画像

    SC2000 イオンミリングシステム

    高エネルギーおよび低エネルギーイオン銃搭載SEM試料前処理システム!

    ミリング技術で立証された2種類のイオン銃が搭載されています。 広範囲の試料表面処理の要求に応じるべく設計された最新の試料前処理システムです。 【特長】 ■高精度位置合わせ機構による測定領域の試料前処理 ■迅速かつ容易な試料交換用ロードロックシステム ■パラメーター設定による簡昜操作 ■オプションの冷却機構による低ダメージミリング ※詳しくはお問い合わせください。...高エネル...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察 製品画像

    【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察

    アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較

    ウイルスによる感染症予防のためマスク使用の頻度があがっています。しかしながらその使用方法や耐性についての根拠となる構造的なデータは乏しい状況です。本資料では、アルコール消毒前後のマスク表面の繊維をSEMで観察した結果を紹介します。アルコール消毒後では、繊維の形状が変化し、また消毒前の特徴的な凸形状が少なくなっていることがわかりました。 測定法: SEM 製品分野:日用品、ウイルス対策関連品 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • Au 金ナノ粒子 製品画像

    Au 金ナノ粒子

    生物製剤やイメージングの用途向けに、コロイド状態の金ナノ粒子 / 粒径…

    金のナノ粒子は生体分子を活用する可能性から生物医学界で特別に興味がもたれており、紫外線・可視光カメラや、TEM、SEMなどを含む幅広いイメージングシステムによって、容易に観測する事が出来ます。金ナノ粒子はプラズモニクス関連やバイオセンサー開発、免疫染色から、X線コントラストを高める化学物質やSEMやTEM、UV-VISカメラ、AFMに対する標準までの幅広い範囲の用途に使われております。これらの高品...

    メーカー・取り扱い企業: オプトシリウス株式会社

  • 世界のイオンミリングシステム市場調査レポート(~2027) 製品画像

    世界のイオンミリングシステム市場調査レポート(~2027)

    グローバルにおけるイオンミリングシステム市場(~2027):製品タイプ…

    360iResearch社の当市場調査レポートでは、グローバルにおけるイオンミリングシステム市場規模が、2021年2,429.22百万ドルから2022年2,689.87百万ドルへと成長し、更に年平均10.98%増大して2027年までに4,539.96百万ドルに達すると予測しています。当書は、イオンミリングシステムの世界市場を総合的に分析し、序論、調査方法、エグゼクティブサマリー、市場概要、市場イン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社マーケットリサーチセンター

  • MFP-3D 原子間力顕微鏡用 サンプルマウント 製品画像

    MFP-3D 原子間力顕微鏡用 サンプルマウント

    MFP-3D AFM/SPMシステム対応の、多種多様なサンプルマウント

    MFP-3D AFM/SPM システムで利用可能なサンプルマウントを各種取り揃えております。取り扱いも簡単。全てのマウントは1mm厚スライドガラスと同様に、MFP-3Dスキャナ上にフィットします。またMFP-3D AFM/SPMシステムに付属の磁石と一緒に使用できます。...【仕様】 ○電気コンタクトサンプルホルダ ○フィリップSEMマウントホルダ、12mm ○日本電子SEMマウントホルダ...

    メーカー・取り扱い企業: オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 溝、稜線共に1μm以下のシャープ形状を実現!【導光板金型】 製品画像

    溝、稜線共に1μm以下のシャープ形状を実現!【導光板金型】

    ピッチ精度は1μm以下、面粗さRa20nm以下で65インチサイズまで対…

    東レ・プレシジョンの超微細溝加工は、超高精度の加工機を使用することによりナノメーターオーダーの 加工を実現しました。シェーパー加工の導光板金型加工・ナノインプリント金型加工技術は、ナノオーダー 精度の加工機を適正な防震・温度・湿度の環境条件下(23±0.05℃)で使用することにより溝、稜線 共に1μm以下のシャープ形状を実現。 ピッチ精度は1μm以下、面粗さRa20nm以下で2~65インチ...

    メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社

  • 【サンプルテスト可能】ガスアトマイズ装置 製品画像

    【サンプルテスト可能】ガスアトマイズ装置

    真空排気後、不活性ガスをチャンバー内に置換させた後、高周波誘導溶解によ…

    当社では、『ガスアトマイズ装置』を取り扱っております。 溶解チャンバーと噴霧チャンバー間に差圧を生じさせ、且つ、ストッパーを 上昇させることにより溶融金属を下方に落とします。 その溶融金属に高圧ガスを噴きつけ球状の金属粉末粒子を作製。 真空排気後、不活性雰囲気中で急冷凝固粉末化するので水アトマイズでは できないような酸化性の強い試料も容易に粉末化させることができます。 【特...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社真壁技研

  • [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM) 製品画像

    [TEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(TEM)

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギ…

    EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS: Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではTEMに付属のEDXについて紹介します。 ・全元素範囲(B~U)の同時分析が可能(付属装置によりBeの検出も可...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [AES]オージェ電子分光法 製品画像

    [AES]オージェ電子分光法

    試料表面(数nm程度の深さ)の元素の種類・存在量の評価

    AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面(数nm程度の深さ)に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面(深さ数nm)の定性・定量が可能 ・微小領域(数十nm~サブミクロン程度)の定性・定量が可能 ・主成分元素の深さ方向分析・線分析・面分析の測定が可能 ・SiやAl等、幾つかの元素については酸化物状態及び金属状...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • キャスターカタログ ダイジェスト版 製品画像

    キャスターカタログ ダイジェスト版

    車輪サイズ40~125mm、取付部もさまざま選択可能。多種多様なキャス…

    株式会社東信製作所は、主にボールキャスターや双輪キャスターの製造販売をしています。 キャスターカタログ ダイジェスト版は、双輪キャスターやボールキャスター、単輪キャスター、 ハンマーキャスターなど、様々な種類のキャスターを掲載している ほか、受け皿やアジャスターなどの付属品も紹介しております。 お客様の用途に応じた製品探しにお役立て下さい。 【掲載内容】 ■双輪キャスター ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東信製作所

  • 雰囲気制御下での処理 製品画像

    雰囲気制御下での処理

    サンプル本来の状態を評価することが可能

    ■特徴 ・雰囲気(水分・酸素)を制御したグローブボックス内でサンプルを扱うことで、反応性の高いサンプルについても変質・変化を最小限に抑えることが可能 ・雰囲気制御下での切断・剥離・測定面出し加工により、大気の二次汚染・酸化を抑えることが可能 ・大気に暴露すること無く、評価装置に搬送・移動することが可能 適用可能な手法:SIMS、XPS、SEM、TEM、STEM、FIB、AES、XRD、Ra...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 真空チェンバー用プラズマクリーニング装置『GV10x型』 製品画像

    真空チェンバー用プラズマクリーニング装置『GV10x型』

    真空度の復帰からTEMグリッド、支持膜の親水化処理がこの1台で簡単に!…

    『GV10x型』は、精密機械器具、電気・電子機械器具の製造、組み立て、賃貸、補修、輸出入及び販売などを行っている、エルミネットが取り扱う製品です。SEM・TEM・XPS・SIMS等のチェンバー内の蓄積された有機系コンタミネーション除去で、真空度の復帰からTEMグリッド、支持膜の親水化処理がこの1台で容易に行えます。 【特長】 ■蓄積された有機系コンタミネーション除去 ■TEMグリッドや支...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価 製品画像

    【分析事例】二次電池正極活物質の劣化評価

    結晶構造から活物質の劣化状態を評価

    リチウムイオン二次電池の正極活物質のLiCoO2は充放電時のリチウムのインターカレーションにより結晶の面間隔等が変化します。また過充電や長期サイクル試験により組成や結晶構造が大きく変化して充放電特性の低下が起きることが知られています。今回はXRDやRaman分光法を用いることでそれらを評価した事例を紹介いたします。更にin situ(オペランド)XRD測定を行うことで、各充電状態(SOC:Stat...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価

    サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

    Siは高容量負極活物質の候補の一つですが、充放電時の非常に大きな体積変化のためにサイクル劣化が激しいと言われています。今回、充電後のSi負極の状態を確認するために、雰囲気制御環境下で解体して冷却FIB加工を行い、SEMにて断面形状を観察しました。室温で断面観察を行った場合は、膜の収縮・観察面の荒れ・孔発生等の大きなダメージが見られる一方で、冷却しながら観察を行うことでSi負極の変質を抑えて試料本来...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 金属粉偏平加工/扁平加工 製品画像

    金属粉偏平加工/扁平加工

    「金属粉の偏平加工技術」のご紹介 扁平化・鱗片化・薄片化! アスペクト…

    キンセイマテック株式会社では『金属粉の偏平加工技術』を有しています。 自社製品である軟磁性金属偏平粉末"JEMK"だけでなく、 電磁波ノイズ吸収等に対応する金属粉末の偏平加工/扁平加工の委託を承っております。 1kgの試作からton単位の量産まで委託加工として対応可能です。 【効果】 ・異方性の発現 ・アスペクト比の増加 ・磁気特性、透磁率の向上 ・磁気応答性の向上 ・粒...

    メーカー・取り扱い企業: キンセイマテック株式会社

  • 【資料DL可:AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集 製品画像

    【資料DL可:AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

    構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分…

    当事例集では、『AFM:走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。 【掲載内容】 ●「食品(そうめん)の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や分析事例 ●「AFMによる材料表面の導電性評価」の特長や分析事例 ●「高分子材料のAFM観察(ミクロトームによる平滑化)」 弊社の強みの1つであるAFMを使って各種分析を行っています。 是...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【導入事例】ZnO薄膜ダブルテクスチャ 表面形状の定量化 製品画像

    【導入事例】ZnO薄膜ダブルテクスチャ 表面形状の定量化

    形状分析システム「ShapeAnalyzer」導入で人の手で行っていた…

    写真は小さなピラミッド形状がかたまりとなって、大きなだんご状の形状を構成しています(ダブルテクスチャ)。 ShapeAnalyzer標準版では、内部の小さなピラミッド形状を分析してしまいますので、カスタマイズにより外側の大きなだんご形状の自動定量化を実現しました。 (画像提供:東京工業大学 小長井・宮島研究室&山田研究室) 【形状分析システム ShapeAnalyzer】 電子顕微鏡(...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クレブ

  • Deben社製『テンサイルステージ』 製品画像

    Deben社製『テンサイルステージ』

    【リアルタイムで根イブ構造の物理的変化を観察可能!】貴重な材料の引張、…

    Deben社製『テンサイルステージ』は、従来の引張試験で行われなかった「負荷が加わっているリアルタイムの根イブ構造の物理的変化の観察」を可能にした製品です。 SEM、AFM、光学顕微鏡、XRD、XRM(μXCT)などの試料ステージに搭載し、測定試料に応力(引張、圧縮)を加え、形状の変化が測定できます。 【主な特長】 ■mNから20kNまでのロードセル ■引張・圧縮・曲げ ■加熱及び冷...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 分析用標準物質/標準試料『物理・物性標準物質』 製品画像

    分析用標準物質/標準試料『物理・物性標準物質』

    世界各国からの情報を集め物理・物性試験に役立つ標準物質をユーザーへ供給…

    当社が取り扱う、分析用標準物質/標準試料『物理・物性標準物質』を ご紹介します。 近年では化学分析と同じく、物理・物性分析も重要性が増しており、材料の 表面構造や表面特性を知る事は材料を評価する上で非常に重要となります。 物性評価をする標準物質の種類は世界的にまだ少なく、最近重要性が 増すにつれ標準物質の開発も進んで来ております。 西進商事では世界各国からの情報を集め物理・...

    メーカー・取り扱い企業: 西進商事株式会社

  • 『損傷解析』設備トラブル約3000件の解析実績! 製品画像

    『損傷解析』設備トラブル約3000件の解析実績!

    設備で発生したトラブルの真の原因を究明することで、効果的な対策立案が可…

    設備トラブルで損傷した部位を詳細に解析することで、発生したトラブルの真の原因を究明し、対策を提案して再発防止や改善に役立てていただけます。東レグループでの40年以上の経験と専門知識をベースに電子顕微鏡や成分分析装置など各種ツールを駆使してお客様の疑問にお答えします。 【解析装置例】 ■走査型電子顕微鏡(SEM) ■エネルギー分散型X線分析装置(EDS) ■硬度計 ■各種光学顕微鏡 等...

    メーカー・取り扱い企業: 東レエンジニアリング中部株式会社

  • JUSE-StatWorks/V5を使って学ぶ統計解析セミナー 製品画像

    JUSE-StatWorks/V5を使って学ぶ統計解析セミナー

    統計解析ソフトJUSE-StatWorks/V5を使いながら統計の世界…

    当社のオンラインセミナーは、受講期間中に何度でも視聴できる「オンデマンド形式」と、講師がリアルタイムで行う「ライブ形式」があります。 統計の世界で著名な先生方が講師を担当し、統計解析ソフトJUSE-StatWorks/V5を使用しながらQC七つ道具、統計の基礎、多変量解析、実験計画法、応答曲面法などの統計解析手法や機械学習について丁寧に解説していますので、SQC(統計的品質管理)等にあたっての実...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本科学技術研修所

  • 技術紹介『ボンディング金めっき(COB技術)』 製品画像

    技術紹介『ボンディング金めっき(COB技術)』

    ボンディング金めっき技術をご紹介!信頼性の高い安定したCOBをご提供

    株式会社サトーセンは、めっき業から巣立った企業の豊富な経験及び技術者による厳しい品質管理のもと、信頼性の高い安定したCOBをご提供致します。 約20年以上前より国内外の大手お客様におきまして、COBの開発から量産までの実績を有しております。 社内にラインを有しており、ボンディング強度の安定した表面処理をご提供いたします。 【特長】 ○設計上、電解ボンディング金めっきでリードが引けない場...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サトーセン

  • [SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM) 製品画像

    SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM

    電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによ…

    EDXは、電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。EDS:Energy Dispersive X-ray Spectroscopyとも呼ばれます。 多くの場合、SEMまたはTEMに付属しており、本資料ではSEM付属のEDXについて解説します。 ・測定範囲の全エネルギー(B~U)が同時に短時間で測定可能 ・検出効率に優れ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 溝、稜線共に1μm以下のシャープ形状を実現!【超微細溝加工】 製品画像

    溝、稜線共に1μm以下のシャープ形状を実現!【超微細溝加工】

    ピッチ精度は1μm以下、面粗さRa20nm以下で65インチサイズまで対…

    東レ・プレシジョンの超微細溝加工は、超高精度の加工機を使用することによりナノメーターオーダーの 加工を実現しました。シェーパー加工の導光板金型加工・ナノインプリント金型加工技術は、ナノオーダー 精度の加工機を適正な防震・温度・湿度の環境条件下(23±0.05℃)で使用することにより溝、稜線 共に1μm以下のシャープ形状を実現。 ピッチ精度は1μm以下、面粗さRa20nm以下で2~65インチ...

    メーカー・取り扱い企業: 東レ・プレシジョン株式会社

  • 【分析事例】トランジスタ(MOSFET)の拡散層分布評価 製品画像

    【分析事例】トランジスタ(MOSFET)の拡散層分布評価

    SCMによる特定箇所の拡散層評価

    市販LSI 内MOSFETのSCM分析事例を紹介します。まず、特定のトランジスタの断面を機械研磨で露出します。この時、Si面はnm オーダーまで平坦に研磨されています。SCM像では層の分布が二次元的に確認できます。定量的な議論はできませんが、濃度の大小関係を大まかに知ることもできます。また、拡散層のp/n極性も識別可能です。さらに、同一箇所のSEM観察を行い、SCM分析結果と画像合成を行うことで、...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン二次電池 電極材料の評価 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン二次電池 電極材料の評価

    雰囲気制御イオン研磨(IP)加工を用いた断面観察が可能

    リチウムイオン二次電池の電極は、容量等電池の性能や信頼性を大きく左右する非常に大きな構成材料です。充放電サイクル試験後の電極材料を雰囲気制御下でイオン研磨(IP)加工を行うことで、大気暴露による劣化を抑えて正確に観察することができます。 今回、充放電後のリチウムイオン二次電池の正極材料に関して、雰囲気制御効果をIP加工後のSEM観察結果を比較することで検証した事例をご紹介します。...詳しいデー...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術紹介『座繰り(COB技術)』 製品画像

    技術紹介『座繰り(COB技術)』

    座繰り技術をご紹介!LSIの高さを低くする為の座繰りが可能です。

    株式会社サトーセンのルーターマシンは、すべてZ軸センサーを搭載しており、板厚を測定し、トップ面から掘り下げる加工を行いますので、高精度の座繰り加工が可能です。 ダイボンド用ザグリ(キャビティー)加工により搭載されるLSIの埋め込みも可能になります。 【COB技術 特長】 ○信頼性の高い安定したCOBをご提供 →めっき業から巣立った企業の豊富な経験及び技術者による厳しい品質管理 ○CO...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サトーセン

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