• 『次世代シーケンサ 受託解析サービス』研究支援サービス 製品画像

    『次世代シーケンサ 受託解析サービス』研究支援サービス

    PRシーケンシングから候補遺伝子の絞り込みまで、研究支援のための一貫したソ…

    当社は、シーケンシング、候補遺伝子の絞り込み、データ評価のプロセスを カバーする『次世代型シーケンサ受託解析サービス』を行っています。 豊富な知見をもとに、研究テーマに合わせた解析方法の選定をはじめ、 解析後のデータ評価も含め、専門スタッフがサポート。一貫したサービスにより、 お客様の研究成果に繋がるソリューションを提供可能です。 【特長】 ■次世代型シーケンサによる受託解析方...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社メイズ

  • 卓上SEM(SNE-4500M Plus B) 製品画像

    卓上SEM(SNE-4500M Plus B)

    ハイエンドモデルの卓上SEM

    卓上SEMながら汎用SEMに匹敵する性能を有するハイエンドモデルです。汎用SEMのモジュールを最小化して開発した高性能コンパクトSEMです。タングステンフィラメントタイプの卓上SEMでは業界最高の分解能5nm(最大倍率 150,000x)を実現し、加速電圧は1kV~30kVまで使用可能です。低真空モー ド / 高真空モードの切り替え、二次電子像 / 反射電子像の取得、モーター制御の5軸ステージ、ア...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サイエンスラボラトリーズ

  • スライス画像(FIB-SEM/医用/連続切片)位置合わせソフト 製品画像

    スライス画像(FIB-SEM/医用/連続切片)位置合わせソフト

    ExFact Slice Alignerは、5種類の自動位置合わせ、2…

    ExFact Slice Alignerは、スライス画像(FIB-SEM/医用画像/連続切片画像)の位置合わせソフト。面倒な手作業の位置合わせも、5種類の自動位置合わせで、あっという間に終了。 29種類のパワフルな一括画像処理。5種類の表示モードで手動位置合わせも柔軟に行えます。ExFact VRと組み合わせれば3D化も実現。 【ExFact Slice Alignerの特徴】 (1...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用 製品画像

    TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM

    CD-SEM、レビューSEM用の高圧電源装置「FE103XP」です!

    本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。...-...

    メーカー・取り扱い企業: フューテックス株式会社

  • 【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価 製品画像

    【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

    急冷凍+SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認! ★第…

    液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。 しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工+SEM分析(クライオSEM...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 複合SEM-AFMシステム 製品画像

    複合SEM-AFMシステム

    表面とナノ構造を測定する機能!ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…

    走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AFMは、MerlinシリーズとCrossbeamシリーズにご利用でき、既存のシステムを 簡単なドア交換で更新できます。 【特長】 ■SEM...

    メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

  • [SEM]走査電子顕微鏡法 製品画像

    SEM]走査電子顕微鏡法

    高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

    SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScattered Electron;BSE)像、透過電子(Transmitted Electron;TE)像の観察が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • クールステージ 「SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ」 製品画像

    クールステージ 「SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ」

    観察範囲選択用3.6mm、6mmおよび12mmの交換レンズ付き

    デーベン社は全ての低真空から高真空SEM用に汎用性の高いクールステージを開発いたしました。 クールステージはSEMの空いているポートを介し、取付けおよび取外しがユーザーによって容易に行えます。 -25℃付近に試料を冷却させ、低真空下でSEMイメージを観察すると、室温時と比べ水の蒸発が減少し明らかにその違いを観ることができます。 【特徴】 ○標準温度範囲:-25℃~50℃( at 50P...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • SEM用アップグレードアクセサリー HAADF STEM検出器 製品画像

    SEM用アップグレードアクセサリー HAADF STEM検出器

    高速TVレートイメージング!PC制御、USBインターフェースの検出器

    HAADFアニュラーSTEM検出器は、原子スケールでナノ材料の局所的な化学に関する直接的情報を提供する非常に強力な手法です。 本検出器を取付けることによりSEMにHAADFアニュラーSTEM機能がアップグレードされ、HAADF特有のSTEMイメージを取得することができます。 HAADFイメージ取得の際、検出器はブラッグ反射の回折電子が収集されない十分な内角を有するアニュラー形状で作成されていま...

    メーカー・取り扱い企業: エルミネット株式会社

  • 【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察 製品画像

    【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

    乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能!リキッドファンデーションの塗膜をマ…

    当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMでは さらに微視的な構造を観察することができます。 【特長】 ■リキッドファンデーション塗膜の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 真空発生器(マルチステージエジェクタ) SEM-C 製品画像

    真空発生器(マルチステージエジェクタ) SEM-C

    通気性のあるワークに適した高吸込量エジェクタ!

    マルチステージエジェクタ SEM-Cシリーズは、高い吸込み能力を備えた真空エジェクタです。 多段式のノズルを内蔵しているため、吸込み量が多く、圧力も最大-80kPaまで上がります。 段ボールを始めとする包装機械関連の搬送や、木材の吸着など、通気性のあるワークのアプリケーションに適しています。 また、吸込み量が多いため、サイクルタイムの短縮にも有効です。...【特徴】 ○多段式ノズルタイプ ...

    メーカー・取り扱い企業: シュマルツ株式会社

  • 卓上自動粒子解析SEM/EDS『PhenomParticleX』 製品画像

    卓上自動粒子解析SEM/EDS『PhenomParticleX』

    粒子の検出からサイズ・形状計測、元素分析、分類までを完全自動化!

    『Phenom ParticleX』は、高輝度・長寿命のCeB6電子銃、 大きな試料室を搭載し、清浄度検査や粒子の評価を全自動で行うことが 可能な卓上自動粒子解析SEM/EDSです。 通常のSEMとして多彩な観察・解析にも対応し、1台で品質管理の現場から 研究開発まで多様なニーズに威力を発揮。検出~分類まで1粒子1秒、短時間で 解析できます。 また、CeB6電子銃による安定した...

    メーカー・取り扱い企業: ジャスコインタナショナル株式会社 第二事業部

  • 極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化 製品画像

    極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化

    最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…

    試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)や収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-STEM)による最先端の観察・分析データをご提供いたします。...極低加速電圧SEM装置と特徴 <装置> ZEISS社製...

    メーカー・取り扱い企業: JFEテクノリサーチ株式会社

  • クライオSEMシステム PP3010T 製品画像

    クライオSEMシステム PP3010T

    試料を冷却してSEMで観察できます。

    PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アド・サイエンス

  • TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察 製品画像

    TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

    低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

    密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [Slice&View]三次元SEM観察法 製品画像

    [Slice&View]三次元SEM観察法

    FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を…

    FIB付き高分解能SEM装置を用い、FIBでの断面出し加工(Slice)とSEMによる観察(View)を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます。また、SIM(Scanning Ion Microscope)像についても同様にSlice & Viewが可能です。 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScatte...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    ExFact VRはX線CTなどから得た断層画像を3次元構築し、2次元/3次元的に可視化するソフトウェアです。 ○業務や研究で三次元画像デバイスを使うユーザーの定型的な利用形態に着目。再生互換性が高く、質の高い多彩なレポートを自動的かつ迅速に作る機能が充実しており、少ない工数で最大のメリットを享受できます。 ○2次元、3次元の画像を同画面に表示させることが可能なので、2D、3Dでの連携操作...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • 【分析事例】クライオSEMについて 製品画像

    【分析事例】クライオSEMについて

    クライオ加工冷却SEM: 走査電子顕微鏡法

    液状試料の構造を観察するには、試料本来の構造を維持した状態で一連の分析をする必要があります。クライオSEMでは、試料を急速凍結して割断面を作製することで、試料構造を観察することができます。 さらにFIB加工による断面作製技術を組み合わせることで、より詳細な内部構造の情報を得ることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ParticleX TC 異物自動解析SEM 製品画像

    ParticleX TC 異物自動解析SEM

    異物・不純物となる粒子の検出から、サイズ計測、元素分析までを完全自動化…

    Phenom ParticleX TC 異物自動解析SEMは 自動車製造における完成車や部品に含まれる 異物、不純物であるコンタミネーション(コンタミ)の 検出からサイズ計測、元素分析までを自動で行う 粒子自動分析装置です。 従来の重量分析ではコンポーネントに付着した 異物の総重量は分かりますが、その発生源を 特定することは出来ません。 Phenom ParticleX...

    メーカー・取り扱い企業: 極東貿易株式会社

  • 【分析事例】加工食品中エマルションのクライオFIB-SEM観察 製品画像

    【分析事例】加工食品中エマルションのクライオFIB-SEM観察

    構造を維持したまま水分・油分の分散状態を観察

    エマルションは、水溶成分と脂溶成分を乳化剤の作用により分離なく混合した分散系であり、種々のエマルション技術が加工食品に広く利用されています。マヨネーズはその中でもO/W型(水中油滴型)の代表的な加工食品です。クライオFIB-SEM観察による評価を行った結果、水分・油・乳化剤などの分布を可視化することができました。拡大観察によって微細構造の評価を行うことができ、食品の滑らかさや風味などの食味評価に応...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価 製品画像

    【分析事例】三次元SEMによる活物質体積の数値評価

    Slice&Viewデータから各物質の体積計算が可能

    Slice&View(FIB加工とSEM観察を繰り返し数十枚の連続画像を得る手法)のデータを用いて、粒子などミクロンオーダーの体積計算を行うことが可能です。これにより、一定体積中の各物質の存在比率や平均体積等の情報を得ることができます。 本事例ではリチウムイオン二次電池正極のSlice&View分析結果から活物質の体積を計算し、存在比率を算出した事例をご紹介します。...詳しいデータはカタログを...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SEM装置での歪み評価 製品画像

    【分析事例】SEM装置での歪み評価

    EBSD:電子後方散乱回折法

    TEM(NBD:Nano Beam Diffraction)のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1 製品画像

    【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

    金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察…

    当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材(ばね材)の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材(ばね材)の金属組織観察 ■2相ステンレス...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【分析事例】雰囲気制御&冷却下でのSEM分析 製品画像

    【分析事例】雰囲気制御&冷却下でのSEM分析

    雰囲気制御下での処理 クライオ加工 冷却 SEM: 走査電子顕微…

    大気に暴露すると変質してしまうリチウムイオン二次電池材料や、加工・観察時の熱で変質する有機系材料等の試料は、TEM・SEMを用いて本来の構造を観察することが困難でした。 大気暴露することなく(雰囲気制御)FIB付き高分解能SEM装置で観察することで、粒子や電解質等の本来の状態を知ることが出来ます。また冷却にも対応しており、熱による変質も抑えることが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧くだ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【事例】走査型電子顕微鏡(SEM)の直流磁場障害対策 製品画像

    【事例】走査型電子顕微鏡(SEM)の直流磁場障害対策

    アクティブ磁場キャンセラにより直流変動磁場を1/100以下に低減した事…

    走査型電子顕微鏡(SEM)の直流磁場障害対策事例をご紹介します。 オフィスビル内のデモルームに設置されたSEMについて、周辺鉄道路線に 起因する磁場影響をアクティブ磁場キャンセラで低減し環境を改善。 アクティブ磁場キャンセラは対象装置の周囲にコイル等を設置するだけで 大きな改善効果が得られます。 【事例概要】 ■対策のポイント:直流方式の鉄道路線付近では常時大きな磁場変動が...

    メーカー・取り扱い企業: 特許機器株式会社

  • 【技術資料】低真空SEM(接着界面の観察・評価) 製品画像

    【技術資料】低真空SEM(接着界面の観察・評価)

    真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分…

    当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お...

    メーカー・取り扱い企業: 日鉄環境株式会社 分析ソリューション事業部・営業部

  • JIB-PS500i FIB-SEMシステム 製品画像

    JIB-PS500i FIB-SEMシステム

    試料作製、観察、分析の先端技術

    日本電子株式会社 JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。 試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 〇特長 ・二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易に ・カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着可能 ・正確かつ迅速にピックアップ作業可能 ・TE...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • 株式会社三弘 SEM内その場観察用材料試験機のご紹介 製品画像

    株式会社三弘 SEM内その場観察用材料試験機のご紹介

    SEMによるその場観察が可能な材料試験機!

    当社では、据え置き型のSEMに設置可能なサイズである、SEM内その場観察用材料試験機を取り扱っております。 応力負荷時のその場観察が可能となっており、亀裂の伸展・応力負荷の 表面分析がリアルタイムに計測できる製品です。 【特長】 ■真空に対応した機器設計 ■両開き構造の採用で観察部のズレが生じない ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...【仕様】 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三弘

  • JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 製品画像

    JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡

    SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。

    日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • サンユー電子 真空応用機器/電子顕微鏡関連機器製品総合カタログ 製品画像

    サンユー電子 真空応用機器/電子顕微鏡関連機器製品総合カタログ

    スパッタ装置、真空蒸着装置、SEM/電子顕微鏡関連機器のサンユー電子

    1976年の創業以来一貫して、“使いやすい、簡単、便利”にこだわったものづくりを通じ、多くの方々に、スパッタ装置(スパッタコーター)、真空蒸着装置、SEM/電子顕微鏡関連機器をお使いいただいております。 SEM用前処理用としてのスパッタ装置(スパッタコーター)、真空蒸着装置、各種デバイスの電極付け用途としてのスパッタ装置、真空蒸着装置は、大学や公的研究機関の各研究室、民間企業の開発担当の方々...

    メーカー・取り扱い企業: サンユー電子株式会社

  • NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 製品画像

    NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡

    光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、…

    日本電子株式会社 JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 〇特長 ・卓上...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • 『低加速SEM・計測/解析用電源ユニット』 製品画像

    『低加速SEM・計測/解析用電源ユニット』

    JIS標準ラックに収納できる!目的に合わせて各ユニットを自由に組み合わ…

    『低加速SEM・計測/解析用電源ユニット』は、小型電子線鏡筒 MINI-EOC用の操作電源です。 JIS標準ラックに収納可能で安定性があります。 また、用途に合わせて各ユニットを自由に組み合わせられます。 【特長】 ■JIS標準ラックに収納可能 ■お客様の目的に合わせて各ユニットを組み合わせ可能 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。......

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 電子顕微鏡関連機器 電子線描画用パターン発生装置 SPG-724 製品画像

    電子顕微鏡関連機器 電子線描画用パターン発生装置 SPG-724

    お使いのSEMの機能を損なうことなく電子線描画が可能です。

    電子線描画装置用パターン発生装置 SPG‐724は、半導体を製造するためのものではなく微細回路・微小光学部品・ナノマシンの研究開発を行うためのものです。 電子線発生と偏向は、SEMそのもので行っています。SPC‐724をSEMに取付けることで、観察用のSEMが描画装置になるわけです。 SEM本体の他に必要なものは、ビームのオンオフを行うブランキング装置、露光量を測定するための電流計、描画パター...

    メーカー・取り扱い企業: サンユー電子株式会社

  • 断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR 製品画像

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析 ExFactVR

    断層画像(X線CT/FIB SEM等)3D解析ソフト ExFact V…

    『ExFact VR 2.0』は、X線CTなどから得られた断層画像を ボリュームレンダリングにより二次元/ 三次元的に可視化する 三次元断層画像可視化ソフトウェアです。 断面画像と立体画像、付加情報の対応関係が分かり易くレイアウトされた 画面構成になっています。 2D/3D 画像を独立に見易く調整し、見たままのイメージで即、レポート として出力することができます。 本ソフトウ...

    メーカー・取り扱い企業: 日本ビジュアルサイエンス株式会社

  • JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡 製品画像

    JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡

    今まで得られなかった情報の取得やお困りの測定への改善が期待できます。

    日本電子株式会社 JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換え...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

  • 【資料】10~100nmでサイズ制御したMgF2ナノ粒子製品 製品画像

    【資料】10~100nmでサイズ制御したMgF2ナノ粒子製品

    10nmサイズのMgF2 nanopowdersのSEM観察結果やTE…

    当資料では、10~100nmでサイズ制御したMgF2ナノ粒子製品について 紹介しています。 10nmサイズのMgF2 nanopowdersのSEM観察結果をはじめ、10nmサイズの MgF2 nanopowdersの二次球形凝集粒子のSEM観察結果や、10nmサイズの MgF2 nanopowdersのTEM観察結果などを掲載。 是非ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社希少金属材料研究所

  • 【資料】真空コネクタソリューション 製品画像

    【資料】真空コネクタソリューション

    今後の装置に対して幅広いラインアップの気密封止型製品で「お客様の多様な…

    レモのラインナップには真空気密レセプタクルと真空フィードスルーカプラーがあります。これらのモデルは、すべてのシリーズとサイズで提供可能であり、標準型タイプでは80℃までの温度で使用可能です。 高温環境では、300℃までにおいて、気密ソリューションをカスタム品として提供出来ます。 He漏れ率は1×10⁻⁸ Pa ㎥/s (1×10⁻⁷mbar.ℓ/s)以下です。より低い漏れ率が必要な場合は、...

    メーカー・取り扱い企業: レモジャパン株式会社

  • 【解説資料】ステンレスって、 本当にキレイ? 製品画像

    【解説資料】ステンレスって、 本当にキレイ?

    BA材、2B材、バフ研磨、電解研磨… 目視では分からないステンレスの表…

    つるつる、ざらざら、すべすべ… 素材や表面仕上げによって、ステンレスは様々な表情を見せます。 しかし実際の表面がどのようになっているのかは、目視では分かりません。 そこで今回は、走査電子顕微鏡(SEM)を使って撮影した ステンレス表面の写真(SEM画像)をご紹介します。 ※走査電子顕微鏡(SEM)とは? 光を利用した光学顕微鏡(虫めがねや一般的な顕微鏡等)とは異なり、電...

    メーカー・取り扱い企業: MONOVATE(旧:日東金属工業)株式会社 八潮工場

  • 『難削材用 スクエアエンドミル GT スクエア ミドル』 製品画像

    『難削材用 スクエアエンドミル GT スクエア ミドル』

    クロム系のGTLコート採用!ウエット環境下で効果を発揮するスクエアエン…

    『GT スクエア ミドル』は、スクイ角を弱めのネガティブに設定し、SUS系材料、 ニッケルベースの耐熱鋼等、粘りの強い難削材に適したスクエアエンドミルです。 クロム系のGTLコートで、ウエット環境下で効果を発揮します。 【特長】 ■スクイ角を弱めのネガティブに設定 ■粘りの強い難削材に最適 ■クロム系のGTLコート採用 ■ウエット環境下で効果を発揮 詳しくはカタログをご...

    メーカー・取り扱い企業: グリーンツール株式会社

  • 産業機械 総合カタログ 製品画像

    産業機械 総合カタログ

    遠心分離機をはじめ、ろ過機やその他産業機械を掲載!

    当カタログは「遠心分離機」「ろ過機」「その他産業機械」を 機械事業の柱とする三菱化工機株式会社の産業機械総合カタログです。 横型遠心ろ過機「ピーラーセントリフュージ(HZ)」 「ブローバックフィルタ(BBF)」「ドラムフィルタ(DF)」 「ヌッチェフィルタ(NF)」「撹拌機(SEM/TEM)」 などを掲載しております。 【掲載内容】 ■遠心分離機 ■ろ過機 ■その他産業機械 ...

    メーカー・取り扱い企業: 三菱化工機株式会社 産業機械

  • 高真空、耐高温、高電圧、高密度!「半導体製造装置用コネクタ」 製品画像

    高真空、耐高温、高電圧、高密度!「半導体製造装置用コネクタ」

    ワンタッチでの簡単操作の嵌合・脱着が可能な小型コネクタ! 振動、ねじ…

    ▼【耐高温】 インシュレータにPEEK材を使用したメタルハウジングモデルは 250℃までの高温環境での使用に耐えます。  ▼【真空】 お求め安い価格で漏れ率1x10⁻⁸ Pa. ㎥ /s以下のコンパクトな気密コネクタ ▼【高電圧】 最大50kVDCまで対応可。単極・多極・複合・気密等豊富なラインナップ "ノイズ対策に優れたレモオリジナル高電圧編組シールド付きケーブルもご用意" "(...

    メーカー・取り扱い企業: レモジャパン株式会社

  • 卓上タイプ 低電圧透過型電子顕微鏡(TEM)LVEM 5  製品画像

    卓上タイプ 低電圧透過型電子顕微鏡(TEM)LVEM 5 

    LVEM 5 は他に類を見ない「卓上タイプ」「低価格」の「透過型電子顕…

    【LVEM5の主な特徴】 ◆1台でTEM(電子回析含む)、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。(各イメージモード搭載時) ◆抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。 ◆低電圧(5KV)の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に...

    メーカー・取り扱い企業: 入江株式会社

  • 【資料】酸化ルテニウムの粉体特性について 製品画像

    【資料】酸化ルテニウムの粉体特性について

    倍率5万倍と倍率10万倍の「SEMを用いた粒子形状やサイズの比較」画像…

    当資料は、『酸化ルテニウムの粉体特性』についてご紹介した資料です。 「各種のRuO2ナノ粒子を比較した結果のまとめ」では、SEM観察結果と TEM観察結果で、粉の種類や当社品処理品A/Bなど項目ごとに表にして 掲載しています。 他にも「SEMを用いた粒子形状やサイズの比較」などを写真を用いて 掲載しておりますので、ご一読ください。 【掲載内容】 ■各種のRuO2ナノ粒子を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社希少金属材料研究所

  • 【資料】高抵抗導電性酸化錫ナノ粒子 製品画像

    【資料】高抵抗導電性酸化錫ナノ粒子

    「試作した酸化錫ナノ粒子のXRD」「試作した酸化錫ナノ粒子のSEM」の…

    当資料は、『高抵抗導電性酸化錫ナノ粒子』についてご紹介した資料です。 「代表的なサンプルの説明」をした表と、「試作した酸化錫ナノ粒子のXRD」や 「試作した酸化錫ナノ粒子のSEM」を写真を用いて掲載しています。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■代表的なサンプルの説明 ■試作した酸化錫ナノ粒子のXRD 10~20nm ■試作した酸化錫ナノ粒子のXRD 30~...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社希少金属材料研究所

  • [EBIC]電子線誘起電流 製品画像

    [EBIC]電子線誘起電流

    試料内部の電界構造(半導体の接合構造)に関する情報を得ることができる手…

    SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部に取り出すことができます。 この起電流をEBIC(Electron Beam Induced Current)と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 製品画像

    JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡

    見えるから、追求したい

    日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました...

    メーカー・取り扱い企業: アズサイエンス株式会社 松本本社

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