大特価キャンペーン！ ゲノミクス研究開発サービスを包括的に提供！

PRNGS、サンガーシーケンシング、プラスミド全長シーケンス解析、人工遺伝…

この度、当社は１０月以降にキャンペーンを開催いたします。 【GENEWIZ ウィンターキャンペーン】 2024年10月1日～2025年3月末までのご注文対象​ RNA-Seq、シーケンシングのみ（解析のみ・Sequencing only）、シングルセル遺伝子発現受託解析など、お得な価格でご提供。 詳細は、１０月１日以降、当社Websiteにてご確認ください。 【キャン...

メーカー・取り扱い企業： アゼンタ株式会社

ラボや製造に関わる試薬の受託製造サービス　※BioJapan出展

PR【BioJapan 2024に出展します】ライフサイエンス関連試薬の受…

株式会社ニッポンジーンは、10月9日(水)～10月11日(金)にパシフィコ横浜で 開催される『BioJapan 2024』に出展いたします。 本展示会では、ライフサイエンス関連試薬の製造メーカーとして、長年にわたる 試薬製造のノウハウを活かした、研究・製造用試薬の『受託製造サービス』を ご紹介いたします。ぜひ弊社ブースにご来場ください。 ＜特長＞ ■ラボや製造に関わる試薬の受託製造（OEMや原...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニッポンジーン

理化学分析

異物、成分、構造解析などに関する理化学の分析を行います

各種製品の工程検査、不純物分析、クレームの原因調査等に、 当社の長年にわたって蓄積した経験が活かされています。 元素、組成分析をはじめ、化合物の構造解析と同定や、熱分析など、 特に形態観察・表面分析を行う異物分析は多くの実績がございます。 【特長】 ■元素、組成分析 ■化合物の構造解析と同定 ■異物分析(形態観察、表面分析) ■熱分析 ■気体透過率測定 ■一般物性測定 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クレハ分析センター

二次電池正極導電助剤の分散状態評価

Raman分光法によるカーボンの結晶性評価

リチウムイオン二次電池の特性向上において電子伝導度は重要な要素であり、導電助剤には高電子伝導度や高分散性が求められています。導電助剤の主流となっているカーボンは、大きく分けて結晶性・非結晶性の2種類あり、単剤もしくは合材として使用されています。本資料では、正極の導電助剤のカーボン種について結晶性を指標として特定し、面内分布を可視することで分散状態を評価した事例を紹介いたします。 測定法：Rama...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

アスベスト　測定・分析サービス

アスベスト調査など環境調査は当社にご相談ください

当社は、アスベスト測定・分析サービスを行っております。 主に、アスベスト除去工事に係る アスベスト粉じん濃度測定を承っております。 X線回析法や、分散染色法、位相差・偏光顕微鏡法などの 方法を用い測定・分析を行います。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...【使用分析機器】 ■X線回...

メーカー・取り扱い企業： 山根技研株式会社 分析センタ－

【分析事例】リチウムイオン二次電池電極の三次元的観察

Slice and Viewによる充填度・ボイドの観察

リチウムイオン二次電池の電極は、正極・負極ともに活物質・導電助剤・バインダから構成されています。 電池の容量や信頼性等の特性には、材料の組合せや配合比・活物質の充填度・ボイド等が大きく影響していますが、このうち、充填度やボイドを観察する方法として完全ドライ雰囲気で加工・観察が出来るFIB-SEM観察が非常に有効です。更に三次元的な観察(Slice & View)を行うことで電極の様子を直接的に評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】バンプの広域断面観察

イオンポリッシュによる断面作製で微小特定箇所の広域観察が可能です

イオンポリッシュ(IP)法では、機械研磨法で問題となっていた加工ダメージ（界面の剥離・硬さの違いによる段差・研磨による傷など）が少ない断面の作製が可能です。加工位置精度も向上し、微小部位を含む広域断面作製も可能です。結晶の損傷が少ないため、綺麗な結晶パターンが得られます。また、機械的応力の影響がないため、内部構造を忠実に保存したまま、AES分析・SEM観察・EDX分析などにより、詳細に特定部位の断...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】AESの異物分析における注意点

AES：オージェ電子分光法

AES分析では、微小異物の最表面の元素組成評価を行うことが可能なため、微小領域における異物分析に有用です。しかし、電子線等のダメージの影響により異物が変化したり消失してしまう可能性があります。 特に、ハロゲン元素等を含む場合は、その影響を強く受けてしまうことがあり注意が必要です。SEM観察時やAES測定時に異物が消失してしまった事例として、Siウエハ上のNaCl粒子について、AES分析を行った結...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流（EBIC）を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】はんだボール表面の酸化膜評価

球体形状試料の評価事例

AES分析ではSEM観察機能が付随していることから、試料表面の特定箇所を測定することが可能です。 またサブμｍの微小領域での測定が可能なため、基板等の平坦試料だけではなく、球体形状や湾曲形状の試料でも、曲率の影響を受けにくく、平坦試料と同様に特定箇所を狙って測定することができます。 以下は表面形状が異なる半田ボール表面の酸化膜厚を評価した事例です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CMOSセンサの総合評価

スマートフォン部品のリバースエンジニアリング

市販品のスマートフォンからレンズ、CMOSセンサチップをそれぞれ取り出し、評価した事例をご紹介します。 目的に応じて研磨・FIB加工により、平面、断面を作製し、TEM,SEMにより層構造やレイヤーを確認しまた。さらに、EDXにより膜種の同定を行いました。MSTでは、解体から分析まで一貫してお引き受けが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201904-03 線膨張係数の実測値

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 シミュレーション技術の向上によって、物性値を推測する技術が発達している。一方で、推測した物性値が現物の挙動と異なる場合も多い。この原因のひとつとして、シミュレーションに用いるパラメータが使用する材料のものと相違していることが考えられる。本稿では、近年注目の新素材であるセルロースナノファイバー（CNF）を用いた複合材料について、CNFの配向および複合材料の線膨張係数を、実測値とシミュレー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…

■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。 ...【主要設備】 ・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM）　S-4000（日立） ・主な仕様 　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲） 　試料台サイズ：　15mm（径） 　加速電圧：...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Crystal Orientation Mapping）-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界（対応粒界）の観察が可能 特定結晶方...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】金属ワイヤー中の不純物評価

SEMと同等の視野で大気成分などの不純物の面内分布を可視化

SIMS分析はウエハや基板以外にも様々な形状の試料に適用可能です。本事例では、ワイヤー中の不 純物分布を評価した事例をご紹介します。 ワイヤー側面から深さ方向に不純物分布を評価した結果（図2)H、O、F、S、Clなどの不純物プロファイル には深さに応じて強弱があり、ワイヤー中に局在していることが示唆されます。ワイヤー断面の元素マッ ピングを行った結果（図3）ワイヤー中に不純物が局在している様子を...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価

SEM観察を行いながら検出深さの浅い元素分析が可能

金属表面の変色や異物の簡便的な調査にはSEM-EDX分析やAES分析が適していますが、変色や異物が薄い・小さい場合は、表面のごく浅い領域（4～5nm程度）の情報が得られるAES分析が有効です。 MST保有のAES装置はSEM像を取得できるため、SEM像で着目箇所の確認をしながらAES分析を行うことが可能です。本事例では、Cu表面に存在する変色部をAES分析とSEM-EDX分析で評価し、比較したデ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です

走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST