卓上SEM（SNE-4500M Plus B）

ハイエンドモデルの卓上SEM

卓上SEMながら汎用SEMに匹敵する性能を有するハイエンドモデルです。汎用SEMのモジュールを最小化して開発した高性能コンパクトSEMです。タングステンフィラメントタイプの卓上SEMでは業界最高の分解能5nm（最大倍率 150,000x）を実現し、加速電圧は1kV~30kVまで使用可能です。低真空モー ド / 高真空モードの切り替え、二次電子像 / 反射電子像の取得、モーター制御の5軸ステージ、ア...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サイエンスラボラトリーズ

スライス画像(FIB-SEM/医用/連続切片)位置合わせソフト

ExFact Slice Alignerは、5種類の自動位置合わせ、2…

ExFact Slice Alignerは、スライス画像(FIB-SEM/医用画像/連続切片画像)の位置合わせソフト。面倒な手作業の位置合わせも、5種類の自動位置合わせで、あっという間に終了。 29種類のパワフルな一括画像処理。5種類の表示モードで手動位置合わせも柔軟に行えます。ExFact VRと組み合わせれば3D化も実現。 【ExFact Slice Alignerの特徴】 (1...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

TFE電子銃用-10kV高圧電源・CD-SEM,レビューSEM用

CD-SEM、レビューSEM用の高圧電源装置「FE103XP」です！

本製品は、CD-SEM,レビューSEM用の高圧電源装置です。加速電源、フィラメント電源、サプレッサ電源、エキストラクタ電源で構成されております。 ●お客さまの装置に合わせてベストなチューニングを施して納入可能ですので、気軽にお問い合わせください。...-...

メーカー・取り扱い企業： フューテックス株式会社

【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価

急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第…

液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いての測定が一般によく行われています。 しかしながら、乾燥による分散状態の変化や粒子の変形が起こるため、どのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法です。 MSTでは、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM分析（クライオSEM...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

複合SEM-AFMシステム

表面とナノ構造を測定する機能！ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…

走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AFMは、MerlinシリーズとCrossbeamシリーズにご利用でき、既存のシステムを 簡単なドア交換で更新できます。 【特長】 ■SEM...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

クールステージ 「SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ」

観察範囲選択用3.6mm、6mmおよび12mmの交換レンズ付き

デーベン社は全ての低真空から高真空SEM用に汎用性の高いクールステージを開発いたしました。 クールステージはSEMの空いているポートを介し、取付けおよび取外しがユーザーによって容易に行えます。 －25℃付近に試料を冷却させ、低真空下でSEMイメージを観察すると、室温時と比べ水の蒸発が減少し明らかにその違いを観ることができます。 【特徴】 ○標準温度範囲：-25℃～50℃（ at 50P...

メーカー・取り扱い企業： エルミネット株式会社

SEM用アップグレードアクセサリー　HAADF　STEM検出器

高速TVレートイメージング！PC制御、USBインターフェースの検出器

HAADFアニュラーSTEM検出器は、原子スケールでナノ材料の局所的な化学に関する直接的情報を提供する非常に強力な手法です。 本検出器を取付けることによりSEMにHAADFアニュラーSTEM機能がアップグレードされ、HAADF特有のSTEMイメージを取得することができます。 HAADFイメージ取得の際、検出器はブラッグ反射の回折電子が収集されない十分な内角を有するアニュラー形状で作成されていま...

メーカー・取り扱い企業： エルミネット株式会社

【分析事例】X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察

乳化粒子や無機粉体の形状確認が可能！リキッドファンデーションの塗膜をマ…

当財団が分析した、X線CT・クライオSEMによる化粧品の3D観察の事例を ご紹介します。 プラスチック基材に塗布したリキッドファンデーションをX線CTおよび クライオSEMで観察し、試料内部の分散状態を可視化。 X線CTでは非破壊かつ非接触で巨視的な形態を確認でき、クライオSEMでは さらに微視的な構造を観察することができます。 【特長】 ■リキッドファンデーション塗膜の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

真空発生器（マルチステージエジェクタ）　SEM-C

通気性のあるワークに適した高吸込量エジェクタ！

マルチステージエジェクタ SEM-Cシリーズは、高い吸込み能力を備えた真空エジェクタです。 多段式のノズルを内蔵しているため、吸込み量が多く、圧力も最大-80kPaまで上がります。 段ボールを始めとする包装機械関連の搬送や、木材の吸着など、通気性のあるワークのアプリケーションに適しています。 また、吸込み量が多いため、サイクルタイムの短縮にも有効です。...【特徴】 ○多段式ノズルタイプ ...

メーカー・取り扱い企業： シュマルツ株式会社

卓上自動粒子解析SEM/EDS『PhenomParticleX』

粒子の検出からサイズ・形状計測、元素分析、分類までを完全自動化！

『Phenom ParticleX』は、高輝度・長寿命のCeB6電子銃、 大きな試料室を搭載し、清浄度検査や粒子の評価を全自動で行うことが 可能な卓上自動粒子解析SEM/EDSです。 通常のSEMとして多彩な観察・解析にも対応し、1台で品質管理の現場から 研究開発まで多様なニーズに威力を発揮。検出～分類まで1粒子1秒、短時間で 解析できます。 また、CeB6電子銃による安定した...

メーカー・取り扱い企業： ジャスコインタナショナル株式会社 第二事業部

極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化

最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…

試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)や収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-STEM)による最先端の観察・分析データをご提供いたします。...極低加速電圧SEM装置と特徴 ＜装置＞ ZEISS社製...

メーカー・取り扱い企業： JFEテクノリサーチ株式会社

SiCパワートランジスタリーク箇所のSlice&view故障解析

SEM像の3D化でリークパスを確認

裏面エミッション顕微鏡でリーク箇所を特定したSiCトランジスタについて、Slice＆Viewによる断面SEM観察を行いました。Slice＆Viewでは、リーク箇所周辺から数十nmオーダーのピッチで断面観察を行うことにより、リーク箇所を逃さず画像として捉えることが可能です。SEM画像を3D化することでリークパスを確認することができます。 測定法：Slice＆View・EMS 製品分野：パワーデバ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

クライオSEMシステム PP3010T

試料を冷却してSEMで観察できます。

PP3010Tは、含水試料や電子ビーム、真空ダメージを受けやすい試料を凍結させ電子顕微鏡で観察を行う装置です。 大気非暴露で試料の移動が可能なサンプルトランスファーが標準付属。 自動ガス流量コントロール機能やクライオSEMに最も必要な温度コントロール機能を重要視した設計がなされています。試料をより自然の状態に保ちSEM観察を行うPP3010T装置は動植物、医療、食材、ポリマー、塗装、温度上昇に...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アド・サイエンス

TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST