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    高周波解凍装置 ※大量処理の連続送り~中型/小型タイプまで対応

    PRさまざまな改善を実現してきた高周波解凍装置を展示実演予定!【6月4日~…

    食品業界へは長年、大型連続送りタイプから小型タイプまで 高周波解凍装置を導入いただいております。 【高周波解凍装置 特長】 ■20分から30分という短時間での解凍 ■厚みのある内部も表面と同時に解凍できる(電波にいる内部昇温現象) ■ドリップロスの削減 ■品質保持した解凍ができる ■フィルム包装材や段ボールごと解凍できる 山本ビニター株式会社は、東京ビッグサイトで開催される...

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    メーカー・取り扱い企業: 山本ビニター株式会社

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    [TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

    TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

    電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM(Automated Crystal Orientation Mapping)-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界(対応粒界)の観察が可能 特定結晶方...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察 製品画像

    TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

    低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

    密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 【分析事例】PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価 製品画像

    【分析事例】PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価

    PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察

    PL(フォトルミネッセンス)マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。 更に同一箇所を高分解能STEM観察(HAADF-STEM像)を行うことで積層欠陥を捉えることができます。 本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピングとSTEMを用いて調査を行いました。 PLマッピングにより積層欠陥位置を特定後、欠陥端部分についてμサンプリングを行い、断面STEM観察...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析 製品画像

    技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である(各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では2~5 nm)。また、識別できる結晶構造が多いことも特長である。通常のTEM解析では取得困難な結晶方位マップ、結晶相マップおよび粒径分布などを得ることで定量的な解釈が可能で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析 製品画像

    技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201910-03 in-situ 昇温手法 製品画像

    技術情報誌 201910-03 in-situ 昇温手法

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 LIB正極活物質LiCoO2について、TPD-MSによるガス分析とin-situ 昇温TEM法の2つのin-situ 昇温手法を用いて、昇温時におけるLiCoO2粒子の発生ガスと形態・組織・構造変化の関係性を調査した。その結果、ガス発生は構造変化と密接な関係にあることが示された。充放電挙動と酷似した変化も認められ、温度をパラメータにした一連の測定結果は、実材料を解析する上でも重要な知見...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】 製品画像

    初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】

    形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…

    形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・  走査型電子顕微鏡(SEM):原理、試料作製法、分析例 ・  透過型電子顕微鏡(TEM):原理、試料作製法、分析例 ・ 球面収差補正走査透過型電子顕微鏡:原理、分析例 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202001-01 in-situ STEM 製品画像

    技術情報誌 202001-01 in-situ STEM

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 近年、高感度ならびに低消費電力デバイスの需要が高まり、スピントロニクス分野では磁気メモリや磁気センサーなどが注目を集めている。これらのデバイスには、高い磁気抵抗効果が得られることからMTJ(magnetic tunnel junction)構造が広く用いられている。このMTJ構造は数nm程度の薄い積層膜から成り、原子レベルでの膜厚やラフネスおよび結晶性が特性を左右する。また、アニール温...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析 製品画像

    技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 酸化ガリウム(Ga2O3)は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。 【目次】 1....

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術 製品画像

    【分析事例】ウェハ・チップの特定箇所の前処理技術

    目的箇所のみサンプリングし、ウェハを割らずにサンプル作製します

    ウェハ・チップを割らずに小片を抜き出して薄片化し、高分解能TEM観察・分析を行います。 さらに分析したい箇所を残してカットしてサンプルを作製することで、目的箇所をご要望のあらゆる方向からTEM観察・分析し、データをご提供します。高度なTEMサンプル作製技術を通じて、様々な観察・分析・評価ニーズにお応えします。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】FIB低加速加工 製品画像

    【分析事例】FIB低加速加工

    FIB:集束イオンビーム加工

    FIBを用いたTEM観察用薄膜試料作製法では、高エネルギーのGaイオン(加速電圧30kV)を用いており、加工面にダメージ層が生じ、TEMの像質低下の原因となっています。そこで従来より低加速(2kV)の加工を行うことでダメージ層が低減でき、像質が改善されました。 FIB低加速加工によりFIB加工面のダメージを低減することで、TEM像観察、EELS測定において高品質で信頼性の高いデータが得られます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析 製品画像

    【分析事例】アイシャドウ成分の元素分析

    ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

    透過型電子顕微鏡(TEM)はμm~nmオーダーの形態観察・元素分析が可能です。 アイシャドウは固体粒子の集まりなので、そのままTEMによる分析を行いました。 TEM観察後、視野内の特定箇所についてEDX分析を行い、構成元素から材料を推定しました。 さらに、EELS分析により結晶型を区別することが可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 技術情報誌 201910-02 DDS技術 製品画像

    技術情報誌 201910-02 DDS技術

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 近年、医薬品の副作用の軽減や有効性の向上を目指し、ドラッグデリバリーシステム(DDS:Drug Delivery System)に着目した研究・開発が進められている。DDSに用いられるキャリアとして、リポソーム、高分子ミセル、無機ナノ粒子といったバイオマテリアルやDrug Conjugates(ADC等)が挙げられる。そ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー 製品画像

    技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 走査透過型電子顕微鏡(STEM)の測定手法の一つである微分位相コントラスト(DPC)-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 1.はじめに 2.元素分析によるソフトマテリアルの可視化 3.DPC-STEM法の適用 4.おわ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

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