技術情報誌 201904-03 線膨張係数の実測値

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 シミュレーション技術の向上によって、物性値を推測する技術が発達している。一方で、推測した物性値が現物の挙動と異なる場合も多い。この原因のひとつとして、シミュレーションに用いるパラメータが使用する材料のものと相違していることが考えられる。本稿では、近年注目の新素材であるセルロースナノファイバー（CNF）を用いた複合材料について、CNFの配向および複合材料の線膨張係数を、実測値とシミュレー...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

［C-SAM］超音波顕微鏡法

C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です…

C-SAMは、SAT：Scanning Acoustic Tomographyとも呼ばれます。 ・X線CTによる観察では確認が困難な「電極の接合状態」や「貼り合わせウエハの密着性」などの確認に有効。 ・反射波のほか、透過波の取得も可能。...音波を用いることから試料の光学的な性質に左右されず、試料表面だけでなく、表面下の内部構造も非破壊で観察する事が可能です。空気との界面での反射が大きいこ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【材料・不良解析】有機無機組成分析

試験後の潤滑油劣化を分析！幾つかの分析を組み合わせて劣化度合いを評価で…

ミツバ環境ソリューションでは、『有機無機組成分析』を行っております。 FT-IR分析をはじめ、py-GCMS分析、熱分析装置各種（DSC、TGA、TMA）を使用。 FT-IRだけでは判断が難しい有機材料もGCMS分析をすることによりポリマー材質、 添加剤等の情報が得られます。 また、「金属成分分析」ではXRF分析、原子吸光分析、重量法等を用いて、 定性分析、定量分析を実施いたしま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ミツバ環境ソリューション

技術資料『表面分析の概要』

代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料

技術資料『表面分析の概要』は、近年、製品開発や不具合の対応などで益々重要になっている、表面や界面の構造・組成の把握に用いられている、様々な「表面分析方法」について掲載した資料です。 本資料では、表面分析の基礎の基礎として、代表的な表面分析であるEPMAやAES、XPS、SIMS、TOF-SIMSを簡潔に解説しています。 【掲載内容】 ■表面分析の種類と特徴 　・EPMA 　・AE...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニケミー

分析サービス『異物混入検査』

かび・ガラス片・金属タワシなど、迅速かつ適切な調査・報告を行います

当社では、新しい分析機器を駆使して分析・解析を行っております。 異物調査に関しこれまでに蓄積されたデータと経験から、 お客様に迅速かつ的確なご報告・アドバイスが可能。 食品などへの異物混入のクレームでお困りの方など お気軽にご相談ください。 【サービス内容】 ■外観・形状観察 ■無機成分分析 ■有機成分分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社分析センター 第一技術研究所

マイクロESCAによる分析 事例集

400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析結果を掲載…

当事例集では、400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）を マイクロESCA（Quantum-2000）により分析した結果を紹介しております。 二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果 二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を 利用してメッシュ間距離などを測ることができます。 【掲載概要】 ■マイクロESCAによる...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

【分析事例】角度分解XPS（ARXPS）による極薄膜組成分布評価

基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です

角度分解XPS（ARXPS）はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜（数nm程度）のデプスプロファイル評価に有効です。 本...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定

X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし、実用化が進みつつあります。有機ELデバイスは有機膜を積層させて作製しますが、有機膜積層状態での有機膜分析を行うことは困難でした。今回、XRR法を用いることによって、積層状態のまま、有機膜の膜厚測定および密度測定を行うことが可能となりました。 結晶質、非晶質を問わず、積層膜の膜厚および密度の分析が可能です。...詳...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPS・AESによる深さ方向分析の比較

XPS：X線光電子分光法　AES：オージェ電子分光法

XPSとAESは表面敏感な分析手法でありサンプル表面の評価に広く用いられますが、イオンエッチングを併用することで深さ方向の分析が可能となります。 深さ方向分析を行うにあたり、測定したい領域やサンプルの材質に応じてXPSとAESを適切に使い分けることが、目的に沿った分析を行う上で重要です。 XPSとAESの深さ方向分析の特徴について、SUS不動態膜の分析を例として比較します。...詳しいデータは...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価

目的に合わせた測定条件で評価を行います

LEDやパワーデバイスに用いられるGaN膜について、XPSを用いて組成・結合状態を評価した例を紹介します。成膜条件や表面処理等により、組成や結合状態がどのように変わるのかを把握しておくことは、プロセス管理等に有効です。 評価の際は、目的に応じて使用するX線を適切に選択することが重要です。着目ごとの測定条件を併せてご紹介します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

表面分析　X線光電子分光分析（ESCA・XPS）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【表面分析　X線光電子分光分析（ESCA・XPS）】 ○X線をサンプルに照射して表面から数nmの深さから放出される光電子のエネルギー分析により元素を...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター

【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価

X線CTによる多孔質樹脂材料の解析事例

ポリウレタンは高い反発弾性が特徴の樹脂材料です。そして、ポリウレタン製品の一種である硬質ウレタンフォームは住宅用の断熱材などに利用されています。 本事例では、板状の硬質ウレタンフォームについて、X線CTを用いて内部の空隙の形状を観察しました。 その結果、内部に多数存在する個々の空隙の形状を確認することができました。さらに、得られたデータを用いて空隙率の定量的な評価を行いました。 測定法：X線...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

放射光を用いた軟X線発光分光（SXES）は材料を構成する各元素について、フェルミ準位近傍の部分状態密度（pDOS）を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い（＜1atomic%）などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

初心者向けオンライン講座(e-learning)【無機分析】

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 蛍光X線分析、ICP-O…

無機分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 ・無機分析とは ・主要な分析手法の比較（特徴、長所、短所） 蛍光X線分析(XRF)、ICP発光分光分析(ICP-OES)/ICP質量分析(ICP-MS)、 イオンクロマトグラフィー(IC)：原理と装置、試料、測定の流れ、スペ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

デバイス内部の異常を非破壊で評価します

外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST