テカンは第97回日本生化学会大会へ出展します

PR会期中にブースにてアンケートに回答してくださった方にテカングッズをプレ…

第97回日本生化学会大会 日程：2024年11月6日(水)～8日(金) 場所：パシフィコ横浜ノース テカンブース：No.5～6 ＜展示内容＞ ■小型シングルセル自動分注機 Uno Single Cell Dispenser 面倒な機器のセットアップ必要なし、専用カートリッジですぐに分注可能。 ■卓上型微量分注デジタルディスペンサー D300e アッセイに必要な量のサンプ...

メーカー・取り扱い企業： テカンジャパン株式会社

協働ロボット パレタイジングシステム

PRカゴ台車への荷積みにも対応！お客様の用途に合わせ、多種多様にカスタマイ…

『協働ロボット パレタイジングシステム』は、省スペース・安全柵不要で運用可能な製品です。 ティーチングペンダント付属で操作も簡単。 また、パレット積みだけでなく、カゴ台車への荷積みにも対応しています。 その他、前後のコンベアー設置など現場環境に合わせご提案を致します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■８パターンのパレタイジング標準パッケージ ■省スペースに設置可能 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社山善

光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視～近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能で...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）

光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置

『光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエアにより、複数チャンネルの 光導波路の光導通を一度にかつ迅速に測定することが可能です。 これにより、従来のファイバ調芯による損失測定方式では実現できなかった 光配線導波路量産段階における高速光...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯（光パワー調芯）を併用、 超微細導波...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ウエハレベル発光素子光学特性測定装置

VCSEL等の発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定・検査！

『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプロファイル計測・ FFP計測（放射角度分布計測）・IVL計測・偏光計測等の光学的な特性測定を ウエハレベルで行うことが可能です。 【特長】 ■マニュアルプローバ・セミオートプローバとの組み...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用！広い放射角をカバーでき…

『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの 対物レンズレボルバにも装着が可能です。 また、プローバへの搭載・組合せによって、 VCSEL等のウエハレベルIVL測定にも使用できます。 【特...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用高機能NFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…

『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS、 高パワー耐性型対物レンズの装着による近視野像（NFP）の計測が可能。 また、対物レンズを介さない状態で計測することで、狭角角度範囲での 放射角度分布（FFP）計測も可能です...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

偏光測定モジュール『PMD002/POL』

空間光測定対応！各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測定にも使用できます。 【特長】 ■高速かつ高い分...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社