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分析講座【表面分析(XPS、TOF-SIMS)】ライブ、特典付
本講座は、表面分析手法であるXPS (ESCA)とTOF-SIMSの原…
分析法(TOF-SIMS)について、原理と特徴、応用事例を紹介します。 [1] XPS / ESCA:材料表面中に存在する水素, ヘリウムを除くすべての元素の組成と化学結合状態を評価する手法。エッチングを併用した深さ方向分析、気相化学修飾法を適用して有機材料のカルボキシル基・水酸基・第1アミンなどの検出・定量が可能。仕事関数など電子状態の解析も可能。 [2]TOF-SIMS:極最表面における...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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