カタログ | イプロス医薬食品技術

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排水処理システム『排水処理膜ろ過システム』

PR二次汚染物が発生せず、豊富な排水処理実績を誇る排水処理システム！

『排水処理膜ろ過システム』は、ダイオキシン・重金属を除去する排水処理システムです。処理水は、繊細な超高圧ポンプにそのまま再利用でき、放流可能なレベルまで処理が可能です。定期的に自動逆洗浄する機能がついている為、安定して高度な処理水質を得ることができます。また、焼却施設解体工事での環境負荷の低減・最終処分費の大幅コスト削減に貢献します。【特長】 ■環...

メーカー・取り扱い企業：セントラルフィルター工業株式会社
排水処理薬剤　日本アルシー薬品カタログ

PRコスト削減、環境負荷低減、バルキング対策...etc.様々なニーズにお…

日本アルシーで取り扱っている薬剤を大きく分けて下記の4種類ご紹介しています。排水処理薬剤変更を検討されている方は、ぜひこちらのカタログからご検討ください。『アルシーフロックN100シリーズ』無機成分によらない1次凝集剤であり、発生する凝集汚泥を削減します。『高分子凝集剤アルシーフロックシリーズ』高分子成分による2次凝集剤です。一般的なものよりも凝集性が高く、安定した処理を行うことがで...

メーカー・取り扱い企業：日本アルシー株式会社本社
表面分析　二次イオン質量分析（SIMS）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

サンプルに照射して放出される2次イオンの質量分析によって、水素を含む全元素の組成分析を行う手法。 ○高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
分析『二次イオン質量分析』

優れた測定が可能にする分析手法です！

よる深さ分解能の優れた測定が可能になっています。【特長】 ■水素を含む全元素の組成分析を行う ■元素分析が可能 ■低エネルギーイオンによる深さ分解能の測定が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
マイクロESCAによる分析事例集

400LPIの銅メッシュ（メッシュ間隔：63.5μm）の分析結果を掲載…

果二次電子像に対応した銅の分布が得られ、さらにこのデータから測長機能を利用してメッシュ間距離などを測ることができます。【掲載概要】 ■マイクロESCAによる分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
「ESCAによる多層膜の深さ分析」事例集

光電子分光分析装置（ESCA）を使用した多層膜の深さ分析結果を掲載！

ン酸化膜とチタン酸化膜の積層膜をESCA （Quantum-2000）によって分析した結果を掲載しております。【掲載概要】 ■ESCAによる多層膜の深さ分析の分析結果 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
分析装置『ESCA』

当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます！面分析も可能です。

特定して、局所的な組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能です。【特長】 ■X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能 ■局所的な組成の分析が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
表面分析　X線光電子分光分析（ESCA・XPS）

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

ルギー分析により元素を同定し組成・化学結合状態を分析する手法。 ○絶縁物の表面分析に適しており、Arイオンエッチングによる深さ分析や10μm径のビームによる局所分析が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター
化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定事例集

化合物半導体系超格子サンプルを使用した深さ分解能測定の結果を掲載！

nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を掲載しています。【掲載概要】 ■深さ分解能測定の結果 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業：株式会社イオンテクノセンター