• そのダマ、『解砕機 ランデルミル』がほぐして解決します! 製品画像

    そのダマ、『解砕機 ランデルミル』がほぐして解決します!

    PR原料や工程で発生するダマ(凝集塊)で困っていませんか?分解・清掃が容易…

    当社のランデルミルは、回転するローターの衝撃とせん断でパンチングスクリーンの穴径以下にダマをほぐします。 工程中に発生する二次凝集した塊状物をほぐしたり、紙袋やフレコンなど原料中のダマをほぐし生産工程をスムーズに稼働させます。 粉体処理の工程、特にふるい分け、混合、乾燥、輸送、粉砕、計量等のコンディショニングに有効です。 また、やむなく人手でほぐし作業をされている場合、機械化することで人件費...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社徳寿工作所

  • 今さら聞けない!スプレーノズルの選び方 製品画像

    今さら聞けない!スプレーノズルの選び方

    PR「スプレーパターンの種類や使い分け」「スプレーノズルの材質や選定に影響…

    様々な産業分野で使用されているスプレーノズルですがその適正な選定は非常に重要です。 不適正な選定を行うと液の浪費や、生産品の品質低下を招く可能性があります。 当資料では、スプレーノズルの選び方について解説しております。 食品業界や自動車業界などのスプレーノズルの活用事例も進呈中です。 【掲載内容】 ■失敗しないノズル選び ■スプレーパターンの種類 ■スプレーパターンの使い分け ■スプレーノズル...

    メーカー・取り扱い企業: スプレーイングシステムスジャパン合同会社

  • 【DL可:DSC/TG-DTA】熱分析における事例集1 製品画像

    【DL可:DSC/TG-DTA】熱分析における事例集1

    高分子材料などの材料の実体に触れたい方へ硬化度測定や融解測定などDSC…

    ー点等の分析や比熱の測定に利用可能 ●TG/DTA:試料の水分量、灰分量の分析や分解、酸化、耐熱性の評価などに利用可能 ● TMA:試料の膨張率、ガラス転移、軟化点の測定等に利用可能 当事例集では、その『熱分析』における事例についてご紹介します。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■TG-DTA測定における雰囲気の影響 ■ココアバターの融解測定(ピーク分離機能の紹介) ...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【コンサルティング事例】正しい体幹から猫背を守るベルトの研究 製品画像

    【コンサルティング事例】正しい体幹から猫背を守るベルトの研究

    ランドセルにおける形状と素材のベルトの開発!コンサルティング事例のご紹…

    HALデザイン研究が行った、正しい体幹から猫背を守るベルトの研究に関する コンサルティング事例をご紹介します。 新規に開発された、ウエットスーツ素材を使用した肩ベルトが、低学年の 小学生にとって、楽に背負える(身体やランドセルが揺れずにしかも軽く感じる) ランドセルであるかどうかを...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社HALデザイン研究所

  • 【DL可/DSC】熱分析における事例集2 製品画像

    【DL可/DSC】熱分析における事例集2

    チョコレートを徹底的に科学分析し食感、溶け方の違いを探っています。製品…

    事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。 「チョコレートのDSC測定1(結晶型の推定)」をはじめ、「チョコレートのDSC測定2(製品間の比較)」や「チョコレートのDSC測定3(溶け...

    メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社

  • 【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価 製品画像

    【分析事例】発光寿命測定によるキャリアライフタイム評価

    発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます

    し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。本資料では4H-SiCエピ基板のキャリアライフタイム評価の事例を紹介します。 測定法:蛍光寿命測定 製品分野:パワーデバイス、LSI・メモリ、電子部品 分析目的:故障解析・不良解析、製品調査、キャリアライフタイム、プロセス評価 詳しくは資料をダウン...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM 製品画像

    【分析事例】積層セラミックコンデンサ(MLCC)の加熱SSRM

    誘電体内の伝導パス(絶縁劣化箇所)の可視化

    抗な伝導パスを可視化することは絶縁劣化現象を解明する重要な手がかりとなります。本資料では、SSRM測定(高電界)と加熱機構(高温)を組み合わせることで、温度変化に伴う誘電体材料の絶縁劣化を可視化した事例を紹介します。 測定法:SSRM(走査型拡がり抵抗顕微鏡) 製品分野:誘電体材料、コンデンサ、MLCC 分析目的:抵抗値分布、電流分布、絶縁劣化評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】GaN基板の表面形状分析 製品画像

    【分析事例】GaN基板の表面形状分析

    AFMによるステップ-テラス構造の可視化

    不整合などによる応力の影響で、表面にステップ-テラス構造が形成されます。本資料ではAFMを用いて、GaN基板表面のステップ-テラスの構造を可視化し、テラス幅、ステップ高さ、表面粗さ、オフ角を評価した事例を紹介します。 測定法:AFM 製品分野:パワーデバイス, 電子部品, 照明 分析目的:形状評価, 構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂硬化剤の分析 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂硬化剤の分析

    2液性エポキシ樹脂の硬化剤成分の構造推定

    方、硬化剤の評価については、種類によっては硬化前の状態で測定する必要があります。本資料では、ポリメルカプタン硬化剤を硬化前の溶液状態で測定し、イオン化法(EI法とFI法)を併用することで構造推定した事例を紹介します。 測定法:GC/MS 製品分野:高分子材料・電子部品・日用品 分析目的:組成評価・同定・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価 製品画像

    【分析事例】Oリングの使用履歴による形状評価

    X線CTにより部品の非破壊観察・厚さ分布解析が可能

    X線CT分析では、部品の構造や寸法を非破壊で比較・調査することが可能です。本資料では、真空装置に使用されているゴム製のOリングの測定事例を紹介します。ガスがリークしている長時間使用品を調査するため、X線CT分析および三次元画像解析を行い、新品のデータと比較しました。その結果、長時間使用品は局所的にリングの太さが細くなっている箇所が検...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析 製品画像

    【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析

    様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です

    のAlGaN標準試料を取りそろえることで、MSTではより精度の高い不純物の定量が可能です。 市販深紫外LEDを解体後、SIMS分析を行い、ドーパントのMgの濃度、及び主成分のAl組成の分布を求めた事例を紹介いたします。 測定法:SIMS 製品分野:照明・パワーデバイス・光デバイス 分析目的:微量濃度評価・不純物評価・分布評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせく...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析 製品画像

    分析事例トレンチ型Si-MOSFETのIDSSリーク箇所複合解析

    デバイスの不良箇所特定から要因解析までワンストップでご提供

    は、不良要因の特定および解析が必須となります。本資料では不良箇所の特定をEMS(エミッション顕微鏡法)を用いて行い、不良要因解析をSCM(走査型静電容量顕微鏡法)とSEM(走査型顕微鏡法)で評価した事例をご紹介します。 測定法:EMS,SCM,SEM 製品分野:パワーデバイス 分析目的:故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    物量を把握することは、製品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パワーデバイス・製造装置・部品 分析目的:微量濃度評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 分析事例】XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定 製品画像

    分析事例】XRDを用いた負荷印加前後における金属材の残留応力測定

    非破壊で引張・圧縮応力を定量することが可能です

    応力を求めることが可能です。本資料では引張試験用にアルミニウム板の左右をV字加工した試料を作製し、引張試験用装置で引張負荷を印加する前後の残留応力の比較および、印加後の試料で残留応力の分布を確認した事例について紹介します。なお、残留応力値はsin2ψ法を用いて求めています。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価 製品画像

    事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

    製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

    なります。その特性を用いて急速充電器などで活用されています。 本資料では、ノーマリーオフ型のGaN HEMTデバイスを解体・評価しました。 分析手法を複合的に活用し、試料の総合的な知見を収集した事例をご紹介いたします。 測定法:SIMS・TEM・SCM・SMM 製品分野:パワーデバイス 分析目的:微量濃度測定・形状評価・膜厚評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、また...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析 製品画像

    【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析

    深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました

    深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出し...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布 製品画像

    事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動を酸素スパッタガンに比べ抑えられることがわかりました。この測定を行うことで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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