「EV充電ステーションの小型化と出力大容量化を実現！」±225Aを表面実装で検知可能なコアレス電流センサー CZ375xは、ホール素子を内蔵した磁気式コアレス電流センサーです。 高感度のホール素子を使用しているため、一般的なコアレス電流センサーでは実現が難しい±115A~±225Aまでの幅広い電流レンジを精度良く測定が可能です。 連続通電も100Armsまで可能です。 そのため、「出力の大容量化」に貢献します。 また、シャント抵抗やコア付き貫通型センサーと比較して「小型化」「製造コスト削減」に貢献できます。 ■小型化 ・小型/表面実装パッケージのため、基板の裏面への実装可能 ・一次側導体が低抵抗（0.27mΩ）で発熱を抑制でき、基板上の限られたスペースへ配置可能 　※他社コアレス電流センサーの1/3の発熱量（当社比較試験データより） ■製造コスト削減 貫通穴へのワイヤー配線不要で製造(組立)コストの削減に貢献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

光学式と遜色ない角度精度±0.1°を実現する磁気式エンコーダ、組付け簡単！防塵対策も不要！（光学式からの切替実績多数あり） AK7455 は、IC 表面に印加される平行磁場を検出し、絶対角度を出力する磁気式回転角度センサーです。 当社独自の補正技術により角度精度±0.1°を実現します。 高い応答性も有しており、加減速時の追従性も良好でサーボ制御に好適です。 また、光学式と比較して「組付けが簡単」かつ耐環境性に優れるため「クリーンルームなどの防塵対策も不要」です。 ※光学式からの切替実績多数あります！ 【特長】 ・実装ずれに対する優れた耐性（ラフな組付けでも検出可能） ・クリーンルームなどの大規模な生産設備が不要 ・耐環境性に優れ、劣悪な環境下でも使用可能 ・角度精度±0.1°(補正実施時） ・ 25,000rpm までの高速回転に追従 ・軸貫通型/中空型モータに対応（Off-Axis配置） ・絶対角度検知により、システムの原点復帰動作不要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

変換開始時の値を保持！温度や圧力などの物理量を電子回路で処理可能 『サンプル/ホールド回路』は、アナログ信号をデジタル信号に変換する ADコンバータなどに用いられる製品です。 アナログ信号の離散化(サンプリング)を行い、A-D変換期間中、 離散化した信号の電圧を一定に保ちます。 また、サンプリングした時点の入力信号の値を次のサンプリング時点 まで保持できます。ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ(抜粋)】 ■サンプル・ホールド回路 Texas Instruments LF398M/NOPB ■サンプル・ホールド回路 Texas Instruments LF298M/NOPB ■サンプル・ホールド回路 Analog Devices LF398S8#PBF ■サンプルホールドアンプ Renesas Electronics HA9P5320-5Z ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ppmオーダーの微量金属も評価可能です 各種材料の特性を設計・制御するにあたって、母材に微量含まれている元素の種類や量、またそれらの存在状態を明らかにするのは非常に重要です。このうち元素の種類や量に関してはSIMS(二次イオン質量分析法)やICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析法)などによって評価可能ですが、価数・化学結合状態などといった存在状態の評価には放射光を用いたXAFS(X線吸収微細構造)測定が有効です。本資料では測定例としてセラミックス材料に微量含まれるCeの価数を評価した事例をご紹介します。

市販品の中では最も単純で コスト効果の高いプログラマブルロジックデバイス 『SPLD』は、PLD (プログラマブルロジックデバイス)ファミリに属する コンパクトな半導体ICです。 デバイスは通常、I/Oが少ししか必要ない用途で使用されます。 シンプルな設計で、 ANDゲート、ORゲート、フリップフロップを備えた マクロセルを結合して構成されます。 【ラインアップ(一部)】 ■Microchip Technology SPLDシンプルプログラマブルロジックデバイス ・メーカー型番：ATF22V10C-7PX ・メーカー型番：ATF22V10CQ-15JU ・メーカー型番：ATF16V8B-15SU ・メーカー型番：ATF16V8BQL-15XU ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

個片ニーズに対応した新マイクロボールシステム！ボール消費量を抑制 当社で取り扱う、アスリートFA製の個片基板対応マイクロボール搭載機 『BM-3500SI』をご紹介いたします。 ボール振り込みブラシ最適化によるボール消費量を抑制した 個片基板対応マイクロボール搭載機の当製品が完成。 Flux印刷、ボール搭載を複数ユニットで構成＆検査・リペア2工程 によりUPH1.5倍(前号機比)も実現しました。 【特長】 ■個片基板対応を実現 ■Flux印刷、ボール搭載を複数ユニットで構成＆検査・リペア2工程により 　UPH1.5倍(前号機比)を実現 ■ボール振り込みブラシ最適化によりボール消費量を抑制 ■高パフォーマンスを実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

独自の黒鉛酸化法により、酸化グラフェンの効率的合成を達成！ 『酸化グラフェン』は、水に溶け、加工が容易なグラフェン材料です。 300μサイズまでの単層酸化グラフェンが製造可能で、単層の含有率は90％ 以上。 電気的に絶縁ですが、還元により導電性を得ることができます。 様々な種類やサイズの黒鉛原料から酸化グラフェンを合成する『機能付与 酸化グラフェン』も掲載しています。 【特長】 ■水に溶けて加工が容易 ■単層の含有率は90％以上を誇る ■還元により導電性を得ることが可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です 走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：SEM）及び走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は、どちらも二次電子像を得ることで試料表面近傍の構造評価を行う手法です。一次プローブの違いによってコントラストの現れ方や空間分解能などの違いがあり、着目する表面構造によって2手法の使い分けが有効です。本資料では2手法の比較をまとめるとともに、測定例としてCu表面を観察した事例をご紹介します。

試料断面における応力分布を確認することが可能です 単結晶Siのラマンスペクトルのピークは、試料に圧縮応力が働いている場合は高波数シフト、引張応力が働いている場合は低波数シフトします。これにより、Siの応力に関する知見を得ることができます。 IGBT（絶縁ゲートバイポーラトランジスタ）の断面について、ラマンマッピングで応力の分布を確認した例を示します。

製品内基板上DRAMのリバースエンジニアリング 代表的なメモリであるDRAMについて製品レベルからTEM観察による素子微細構造解析まで一貫して分析します。 外観観察からレイヤー解析、Slice＆Viewを行うことで構造の全体像を把握し、FIB加工位置をナノレベルで制御し薄片形成後にメモリ部の微細構造をTEM像観察しました。

基板の小型化に貢献する低発熱の電流センサー！ "Currentier" は、高感度ホール素子内蔵の磁気式コアレス電流センサー IC です。 コアレスタイプでありながら、クローズドループ並みの高精度を実現します。 一般的なシャント方式と比較すると、 １．一次導体の抵抗値が0.27mΩと低く（発熱を抑制できる）、 ２．一次側の電源が不要なため基板サイズを大幅に低減することができます。 また、幅広い電流レンジをシリーズごとに同一パッケージでラインアップしたことで、部品や基板の共通化が可能となりました。 【特長】 ・大電流の連続通電が可能（50/60/100A） ・沿面/空間距離：≧8mm （UL61800-5-1 に準拠） ・安全規格： UL1577 及 IEC/ UL62368-1 認定取得 ・総合精度：±0.4%F.S.（Ta=0~90℃ Typ.）※CZ370xシリーズ ・応答性： 1μs Typ.　※CZ370xシリーズ ・外乱磁場抑制機能を内蔵 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

熱解析には欠かせない半導体の熱抵抗！代表的な熱抵抗とその式についてご紹介 ★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 近年の製品は、小型化進展の一方で熱的問題が深刻化し続けており、 当社においてもお客様からの熱解析に関するお問い合わせが増加傾向にあります。 その内容は様々なものがありますが、当レポートでは、熱解析には欠かせない 半導体の熱抵抗について簡単に説明させていただきます。 詳細については、是非ご一読ください。 【掲載内容】 ■代表的な熱抵抗とその式 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

コンパクトで簡単操作の手動式非接触（渦電流法）抵抗測定器 『EC-80』は、プローブ間にサンプルを入れるだけで測定可能な、簡易 測定器です。 抵抗率/シート抵抗測定モードを簡単に切り替え出来ます。 また、JOGダイアルによる簡単な測定条件設定可能です。 プローブ固定式のため、ご購入の前に数タイプのプローブから1タイプを 選択となります。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■非接触式 ■マニュアルタイプ ■1点測定システム ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

AFM :原子間力顕微鏡法 AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能 半導体の製造工程において表面改質を目的としたイオン照射を行うことがあります。その中で、単結晶 Si表面に不活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが 知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されること を利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。

「分かりやすく、使いやすい、生産中止の不安が最小」の5.7インチVGA液晶用マイコンバス直結型のLCDコントローラです。 「KS-LCTV-2PB（2PBI）」はVGAサイズのTFTカラー液晶用LCDコントローラです。 KS-LCTV-2PB（2PBI）搭載のCPUボード「CPU328LTA」では弊社の全てのバックライトDCDCコンバータが使用可能です。 【ケニックシステムのLCDコントローラの特長】 ・「小ロット・長期生産メーカー向けの決定版」です。 ・データシートが40ページで完結！非常にわかりやすいコントローラです。 ・簡単に設計変更が可能なLCDコントローラです。 ・御社向けの特注コントローラも非常に安価に作ることが出来ます。液晶の仕様変更によるカスタマイズ費用は僅か数十万円で可能です。 ・また、通常のカスタム設計でさえ100万円台で可能です。 ・液晶の生産中止や仕様変更にも素早く対応可能です。 ・画像のフレームバッファは、「マイコン側からはSRAMのイメージ」に見えるので、ソフト設計が簡単です。 ・「マイコンバス直結」で、画素のマッピング座標とお客様とのCPUから見たアドレスとが完全に「1対１対応」です。 ・電源は3.3V単一電源です。

3.5インチ液晶添付の完成品ユニットの「UNT-339L-2P」です。 「UNT-339L-2P」は、DENSITRON製3.5インチタッチパネル付き液晶にCPUボード「CPU-339L-2P」、取り付け金具一式が付いたハードウエア完成品のみの一式です。 ＊詳細に関しては、お問い合わせ下さい。

PCIe Gen4 SSDに対応、外部メモリ不要、2ch RAID0,ランダム・アクセス対応 【NVMe IPコア】は、SATA SSDに代わる次世代ストレージPCIe SSDを、CPUおよび外部メモリなしでFPGAとインターフェースするIPコアです。Xilinx/Intel各種 FPGA評価ボード上で動作するリファレンス・デザインが標準添付されており、このリファレンス・デザインをベースとして開発をスタートできるため、短期間での製品開発が可能となります。 本NVMe-IPコアは、NVMe PCIeSSDのパフォーマンスを最大限に引き出し、3300MB/s超の高速転送が実現可能です(KCU105, Samsung製970Proでの評価)。Xilinx/Intel 各種FPGAボード用時間限定版bit/sofファイルを準備しており、購入前にパフォーマンスを実機で評価することができます。

次世代コンテンツ保護規格「 SeeQVault 」変換アダプター！ 『SQVA』は、SeeQVault未対応のストレージデバイスを、SeeQVault対応 のストレージデバイスに変換するためのアダプターです。 「SQVA-SATA」、「SQVA-USB」をご利用いただくことで、お客様のSee QVault対応製品の開発工数を削減できます。 SQVAに搭載されるLSI MLDU3L は、SeeQVault 対応USB-SATA 変換LSI として、USB3.0 (5Gbps)に対応しています。 【特長】 ■ハードディスクに取り付けるだけですぐにSeeQVault対応ハードディスク 　の開発・評価が可能 ■コンパクト設計 ■SeeQVaultハードディスクならではのメリットをフル活用できる ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ハードディスクに高速アクセス！次世代コンテンツ保護規格SeeQVault対応LSI 『MLDU3L』は、SATA 6GbpsデバイスをUSB3.0に変換するブリッジLSI です。 このMLDU3Lが次世代コンテンツ保護規格 SeeQVaultに対応しました。 ハードディスクへの高速アクセスが可能となります。 また、電圧レギュレータの内蔵により、部品点数を抑えコンパクトな基板 設計が可能です。 【特長】 ■次世代コンテンツ保護規格 SeeQVault に対応 ■USB3.0 (5Gbps)-SATA 6Gbpsに対応 ■ハードディスクへの高速アクセスが可能 ■電圧レギュレータ内蔵 ■コンパクトな基板設計が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ハンディタイプシート抵抗測定器！ 『DUORES（デュオレス）』は、持ち運びも測定実施も簡単な、ハンディ タイプシート抵抗測定器です。 測定する対象に合わせ、2種のプローブ（非破壊式・接触式）を交換使用。 プローブを載せるだけ、当てるだけで自動測定いたします。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 また、本体＋非破壊式プローブのみ、本体＋接触式プローブのみでも販売 しております。 【特長】 ■接触式 ■2プローブ交換使用 ■ハンディタイプ ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

約50メーカー、約65,000品種を当社で在庫を持ち【ひとつから】購入できるサービスです。 本サービスは、MOQ が付く製品を当社が在庫を持ち、ひとつから購入できるサービスです。約50メーカー、約65,000 品種を在庫。全製品正規ルート品です。 必要数量で調達が可能なので、お客様の余剰在庫削減に貢献できます。 【オプション】 「延長テープ or テーピング加工」ならマウンターで即実装 ・テープカット品 延長テープをつけることによりマウンターで実装可能（別途見積） ・スティック品 テーピング加工でリールへ巻き直します。

企画段階よりお客様のニーズに応じた装置を設計・製作致します！ 当社は、主に各種省力機械の設計・製作を行っている企業です。 半導体製造装置をはじめ、精密機械、精密金型にいたるまで、 当社が生み出す製品は、実に多岐にわたります。 製造装置や検査装置など、自動化装置の設計製作や開発など、 お客様と一体になり、提案から立ち上げまで、責任を持った 装置製造を手掛けております。 【事業内容】 ■各種省力機械の設計・製作 ■半導体製造装置の設計・製作 ■各種検査装置の設計・製作 ■精密部品・精密金型の設計・製作 ■各種治工具の設計・製作 ■ソフトウェア開発販売（装置制御、画像処理、データ分析収集） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

産業用途向けにノイズ耐量を強化！フロッピーディスクドライブの代替品として動作実現します 当製品は、インダストリアルモデル（産業用途向けモデル）で フロッピーディスクドライブの代替品として動作実現します。 配線加工、ドライバのインストールなどシステムの改造不要。 PC/AT互換機・PC98シリーズ対応で、1枚のSDカードで100枚のフロッピー ディスクを管理できます。また、産業用途向けにノイズ耐量を強化しました。 【特長】 ■PC/AT互換機・PC98シリーズ対応 ■MFM変調・FM変調対応 ■システム改造不要 ■メディアセレクター ■ノイズに強い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ウェブ上で必要最低限の情報を入力するだけ！半導体パッケージモデル作成ツール 『Simcenter Flotherm PACK』は、ウェブ上で半導体パッケージの熱解析モデルを 数分で作成し、提供するツールです。 ウェブブラウザで当製品のサイトにアクセスし、必要最低限の情報を入力。 半導体パッケージモデルデータが自動作成されるので、ダウンロードして 「Simcenter Flotherm」や「Simcenter Flotherm PCB」に読み込み、解析を実行するだけです。 モデル作成にかかっていた時間が劇的に短縮されるだけでなく、高精度の ジャンクション温度およびケース温度予測を大きく寄与します。 【特長】 ■30種類以上の半導体パッケージタイプをサポート ■JEDEC準拠のデータシート入力 ■内部構造がわからなくてもパッケージタイプからの類推が可能 ■放熱経路を再現した詳細モデル作成 ■熱抵抗の自動計算による2抵抗モデル、多抵抗モデル(DELPHI model)作成 ■各種JEDEC測定装置も同時にダウンロード ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

超音波顕微鏡による内部空隙の観察事例 パワーデバイスやMEMSデバイスなどに用いられる、貼り合わせシリコンウエハを作成する際、貼り合わせ工程において界面に局所的に空隙が発生する事があります。 300mm貼り合わせウエハ内部を超音波顕微鏡を用いて観察しました。その結果、複数箇所にて1mm～20mm程度の複数の空隙があることを確認しました。本手法によって、貼り合わせウエハ内部の密着性評価が可能となります。

「チップの引っ掛けキズやひび割れ」「作業時にチップの持ち帰り問題」などの半導体製造装置の課題を「適した部品」で解決した事例を掲載 当資料は、有限会社オルテコーポレーションが提案した後工程における、半導体製造装置の課題解決事例集です。弊社が得意とする消耗パーツの紹介をはじめ、多くのユーザーが課題に挙げる、チップの破損ダメージについてや、ディスペンサーやエポキシ転写の不安定問題、ワイヤボンディング用トーチ電極などの事例を多数ご紹介しております。当社は、装置メーカーが勧める汎用性の高いパーツでは対応できないケースにおいても、数多くの異なる特徴ある仕様を揃えています。 ◆ただいま導入事例集&総合カタログをプレゼント中！ PDFダウンロードよりご覧いただけます。 【掲載事例(抜粋)】 ■消耗パーツの種類とは ■チップの引っ掛けキズの原因や解決策 ■ひび割れ（マイクロクラック）の原因や解決策 ■ディスペンサーの目詰まりによるトラブルと解決策... ■ボンディングエラー（接着不良）の原因や解決策... ■造型解像度2μmの超精密3Dプリントモデル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

受動素子・表面実装部品（車載向けMLCC、水晶振動子、圧電素子）などのダメージレス搬送・検査 東レ・プレシジョンが開発した無振動式パーツフィーダ”トレフィーダ”は、対象製品を無振動で整列・搬送する新しいタイプのパーツフィーダです。 サイズ感が数mm程度までのパーツ（部品）の整列搬送において、ダメージレス、多品種対応、低帯電性などに優れた性能を発揮します。 またシンプルなパーツフィーダとしてお使い頂ける他、装置機内に計測・検査デバイスとワーク回収ユニットを設置することで検査装置としてシステムアップが可能です。 【対象パーツ（部品）例】　 １．受動素子・表面実装部品（車載向けMLCC、水晶振動子、圧電素子）等 ２．その他サイズ感が数mm程度までのパーツ（部品） 【特長】 １．ダメージレス搬送（長短辺・倒立・前後・表裏面合わせ） ２．多品種対応 ３．帯電抑制構造 ４．次工程直結 ５．静粛性 【必見！動画】 １．ワーク搬送・供給（MLCC1005） ２．MLCC3225の６面外観検査・ダメージレス良品回収 　　https://www.ipros.jp/product/detail/2000520191/

低反発軟質発泡「ピタフォーム」を使用 ■振動によるトラブル軽減 ■エアサス車並みの振動軽減効果 ■サイズフリーで製作可 ■ピタパッドは、ポリプロピレン製 軽量剛性板「プラパール」と、エネルギー吸収性に優れた「ピタフォーム（株式会社第一化学）」を貼りあわせた振動軽減パッドです。 ■精密機器など大切な荷物を、振動による擦れ、割れ、変質から守ります。 ■サイズフリーで、お客様のご希望するサイズで作ることが出来ます。 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

PoE対応イーサネットボード PE-2004は、IEEE802.3at対応PoE+準拠の給電側機器（PSE）と互換性があり、4ポート独立したイーサネットコントローラー搭載したギガビットイーサネット（GigE）拡張カードです。 RJ45コネクターLANケーブルによる、10/100/1000 Mbpsのギガビットデータレートを提供することが可能なだけでなく、各ポートに48V DCで最大25.5ワットまで提供することもできます。リンクアグリゲーション（LAG）、9.5KBジャンボフレーム(Jumbo Frame)、IEEE 1588 Precision Time Protocol (PTP、高精度時間プロトコル)をサポートしており、 PE-2004は、インテリジェント交通システム、産業用オートメーション、ロジスティクス システム、リアルタイム画像解析アプリケーションに最適です。

SiCデバイスを使って電源を効率化！ダイオードの種類と特長について簡単にご紹介 ★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 半導体材料をSiからSiC(炭化ケイ素)にすることで、ショットキーバリア ダイオード(SBD)の耐電圧が向上し、PCSのDC/DCコンバータで 使用できるようになりました。 SiCにすると性能は良くなるのですが、これまではコスト面の課題で なかなか使用するまでには至りませんでした。 しかし、ここ1、2年でコストの課題も改善し、使用する機会が増えてきました。 当レポートでは、ダイオードの種類と特長について簡単にご説明します。 【掲載内容】 ■ダイオードの種類と特長 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

セミコンダクタ・スマートフォンなどの研究開発のためのナノインデンテーション試験 エレクトロニクス･半導体産業では製品開発のためにナノインデンテーションテスタによる表面機械特性評価が用いられます。 微小荷重にてダイヤモンド圧子を対象サンプルに押し込むことにより、硬さ・弾性率・粘弾性・貯蔵弾性率・損失弾性率・クリープ率などの物性値を測定することができます。 ナノインデンテーション試験では数百ナノ～数百ミクロンの薄膜や柔らかいポリマーの評価が可能です。 測定例 -スマートフォン等のディスプレイ用有機材料・ポリマーフィルム (絶縁体・光ファイバー・半導体) -磁気記憶媒体 (ハードディスクドライバー) -太陽光発電バックシート -プリント基板のSi3N4及び高誘電率セラミック層 -サファイヤコーティングゴリラガラス アントンパール社製ナノインデンテーションテスタは、特許取得済みの独自のアクティブ表面リファレンスシステムにより、熱ドリフト及びコンプライアンスの影響が実質的に排除されます。 したがって、ポリマーや非常に薄い膜、軟組織などを含むあらゆる種類の材料を長時間測定するのに最適です。

HOST CPUなしでの製品開発が可能！ 製品技術サポートは有償・無償双方有り！ 村田製作所製『MBN52832（TypeNR8）』は、nRF52832（BT5.0＋ANT＋NFC）搭載の通信モジュールです。 アンテナ有/無双方での対応が可能。7.4mm×7.0mm×0.9mmの超小型で、 HOST CPUなしでの製品開発ができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にご相談ください。

培った知識と技術を駆使し最新の製品にも対応！ 当社では、G10サイズの大型パネル用洗浄装置も製作依頼を受け納品実績 がございます。 パネル洗浄装置では使用する板を透明で製造することが多く、傷や溶接の 不具合が他の製品よりも目立つため、一段の注意を払い製造しております。 現在ではスマートフォンやタブレット端末向けのG8サイズのものの製作 依頼を多くいただいております。 当社では、培った知識と技術を駆使し最新の製品にも対応いたします。 お気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■G10サイズの大型パネル用洗浄装置も納入実績あり ■一段の注意を払って製造 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

USB機器の開発や生産工程の効率化に！ 『DTC2U3』は、USB2.0/USB3.0 のホスト-デバイス間に設置し、USB ケーブルの接続、切断の電気的なエミュレーション、ならびにCRCエラーの 誘発を行う装置です。 USBケーブル挿抜時、またはCRCエラー発生時の不具合摘出、再現を可能 としますので、USB機器の開発や生産工程の効率化にご利用いただけます。 各種USB処理（接続・切断、エラー誘発）を自動実行する各種動作モード を搭載しています。 【特長】 ■USBケーブル挿抜時またはCRCエラー発生時の不具合摘出・再現が可能 ■USB機器の開発や生産工程の効率化に利用可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

USBのCRCエラーを発生させる装置です 『DTE1U2』は、USB2.0 ホスト-デバイス間に挿入し、伝送路のインピー ダンスを可変することで、 意図的にCRCエラーを発生させる装置です。 CRCエラーが発生した場合のホストの挙動、またはデバイスの挙動確認を 行うことができます。 サンプルボードをご用意していますので、ご興味がある方はお気軽にご連絡 下さい。 【特長】 ■意図的にCRCエラーを発生させる ■CRCエラーが発生した際のホストの挙動、ならびにデバイスの挙動確認を 　行うことが可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

組込用 非接触（渦電流法）シート抵抗測定モジュール（フィルムサンプル用） 『NC-700』は、PETフィルムなどの基材上の導電膜のシート抵抗を インラインで連続測定する測定器です。 必要なライン数（＝プローブ数）での製作が可能なため、研究開発から 生産ラインまで幅広い用途に対応します。 オフセットフリー仕様のため、測定値がシフトせずに最長24hの連続測定 ができます。 既設の搬送装置や成膜装置などへの取り付けにも対応。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■インラインタイプ（非接触式） ■組込用測定モジュール ■幅広い用途に対応 ■最長24hの連続測定も可能 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。

卓上で-55℃～150℃までの高精度な温度制御が可能！小型の温調機 『PELNUS』は、熱抵抗値をまるごと測定するデスクトップ温調機です。 メンター・グラフィックスの動的熱特性評価装置「T3Ster（トリスター）」 と本製品を組み合わせれば、熱抵抗値を高精度に測定することが可能。 温調ステージ自体の温度を直接コントロールするので、サンプルの温度を 正確に変化させることができます。 また、PCに接続し連携制御も可能となっています。 【特長】 ■様々な用途で利用可能 ■熱抵抗値をまるごと測定 ■PCに接続し連携制御可能 ■高速に-55℃～150℃までを温度制御 ■一定の荷重でサンプルを押し付ける事で優れた再現性を実現 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法 半導体や液晶などの製造が行われているクリーンルームでは、パーティクルだけでなく分子レベルの化学汚染（分子状汚染）を把握することが重要です。浮遊分子状汚染物質としては酸・塩基性ガスや凝集性有機物質、ドーパント、金属などが挙げられ、成分に応じて分析方法は異なります。 ここでは凝集性有機物質の詳細と、代表的な捕集方法である“吸着剤捕集”と“ウエハ暴露捕集”について紹介します。

基板上の極薄膜についてデプスプロファイルを評価可能です 角度分解XPS（ARXPS）はX線照射によって放出される光電子を取出角ごとに検出し、それぞれ検出深さの異なるスペクトルを用いてサンプル表面極近傍のデプスプロファイルを評価する手法です。従来のArイオンスパッタを用いた方法と比較すると、深さ方向分解能が向上し、かつ選択スパッタやミキシングによる組成変化が無いといったメリットがあり、基板上の極薄膜（数nm程度）のデプスプロファイル評価に有効です。 本資料ではSi基板上のSiN膜について、膜中の組成分布評価を行った事例をご紹介します。

像シミュレーションを併用した結晶形の評価 高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報からSTEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。

STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます 試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測定条件を用いたシミュレーション像の比較から結晶構造の考察を行った事例を紹介します。測定結果と計算シミュレーション結果の併用により、結晶構造に対する理解を深めることが可能となります

ミクロな原子構造を計算シミュレーションによって評価可能 β-Ga2O3は広いバンドギャップを有し、優れた送電効率や低コスト化の面で次世代パワーデバイスや酸化物半導体の材料として期待されています。近年、β-Ga2O3はSiまたはSnのドーピングでn型化することが報告されています。本資料では、β-Ga2O3にSiもしくはSnをドープしたモデルに対して構造最適化計算を実施し、各ドーパントが結晶中でどのサイトを占有しやすいかを評価しました。続いて、得られた構造モデルから状態密度を計算し、ドーピングによる電子状態の変化を調査しました。

熟練した技術スタッフが特殊なご要望にもチャレンジ！EBデータでもGDSIIでも受付可能 日本フイルコンは、半導体向けのフォトマスクとしてディスクリート、 パワーデバイス、ASIC、マイコンなど、0.35µmルールを中心として 数多くのレチクルの納入実績があります。 2001年にOMEGA導入後、積極的に設備投資を行なってきました。 量産工場の品質を保証するだけの検査装置も充実しており、 順調に実績を伸ばしています。 この業界では、コスト競争力が一層と必要とされるということを、 私たちは十分理解しています。お客様のものづくりのパートナーとして、 是非一度お声かけください。 【特長】 ■大手半導体メーカーへの納入実績が多数ある ■コスト競争力がある ■高性能描画機と検査装置を揃えている ■熟練した技術スタッフが特殊なご要望にもチャレンジ ■EBデータでもGDSIIでも受付ができる ■裏面や後工程向けでは、高精度な9インチマスクが製作できる ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

コンパクト設計で低価格！ご要望内容に基づき、製品仕様をご提案致します ハネック株式会社が取り扱う『カスタム対応品』をご紹介します。 「番号表示操作盤」をはじめ「GPS受信基板」や「非常停止基板」、 「アナログ入出力基板」などをラインアップ。 用途や数量を問わず、ご要望に合わせて設計・製作致します。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■カスタム対応 ■コンパクト設計 ■低価格 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。