• DRIFTCONSystem【リアルタイムPCR温度校正】 製品画像

    DRIFTCONSystem【リアルタイムPCR温度校正】

    PRPCR・リアルタイムPCR装置の温度は正確に制御されていますか? 申…

    DriftconSystemは、お手持ちのPCRをISO承認のプローブ(機能毎対応)を用いてブロック上の温度を校正いたします。 現在、欧米・中国を始め各国で年間10万台以上の校正が実施されており、 この実績を元に同型機の校正結果と比較することで機種毎の合否判定も可能。 測定は(装置はレンタル)お客様が実施される事でローコストでご提供できます。 【特長】 ■欧米・中国を始め各国で年...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォーディクス

  • エスキューは、肌診断機の研究者と販売部門の【橋渡し役】です! 製品画像

    エスキューは、肌診断機の研究者と販売部門の【橋渡し役】です!

    PR肌のポテンシャルをタイプ別に診断する「ポテンシャルファインダー」など、…

    当社では、肌化粧品を製造するメーカー様に向けた『肌診断機を用いた化粧品の販売支援サービス』を提供しております。 美容理論に基づき、敏感肌向けの製品から特定のニーズに対応した化粧品まで、肌診断機を用いた多様な拡販支援策にお役立て頂いてきました。肌診断機を用いた新しいアイデアやコンセプトの提供からテスト、市場投入までの一連のプロセスをサポートいたします。 【導入事例(抜粋)】 ・販売現場で、まだ不慣...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社エスキュー

  • 研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」 製品画像

    研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」

    お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…

    【分析手法一覧】 ※こちらに記載の無い手法についても、ご相談承ります。 『測定法』 ○質量分析法 SIMS 二次イオン質量分析法 TOF-SIMS 飛行時間型二次イオン質量分析法 ICP-MS 誘導結合プラズマ質量分析法 ほか ○光電子分光法 XPS X線光電子...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 新型コロナウイルスPCR検査・抗体検査 製品画像

    新型コロナウイルスPCR検査・抗体検査

    感染を調べるPCR検査の他に、抗体価の測定が可能です

    新型コロナウイルスPCR検査 感染者の唾液や鼻咽頭ぬぐい液などに含まれる新型コロナウイルスのRNAを、リアルタイムPCR法にて測定します。PCR法は感度が高いため、ウイルス量がごく微量の場合でも検出が可能です。 新型コロナウイルス抗体検査 血清中に含まれる新型コロナウイルス抗体をECLIA法(電気化学発光免疫測定法)に...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価 製品画像

    【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

    微小領域のXRD測定が可能

    照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。 プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所(1)~(3)全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定 製品画像

    【分析事例】SiC基板表面および内部の不純物濃度測定

    ICP-MS, GDMSにより基板表面と内部とを切り分けて分析

    品の品質向上において重要です。本資料では、パワーデバイス材料として注目されているSiC基板について、基板表面に付着した不純物をICP-MS、基板中の不純物をGDMSで分析した事例をご紹介します。 測定法:ICP-MS・GDMS 製品分野:パワーデバイス・製造装置・部品 分析目的:微量濃度評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定 製品画像

    【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定

    XPS:X線光電子分光法など

    高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料  剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料  開封から不活性ガ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiCSchottkyBarrierDiodeの測定 製品画像

    【分析事例】SiCSchottkyBarrierDiodeの測定

    SiC中積層欠陥の検出事例

    層配置が乱雑になる積層欠陥などが容易に発生するという問題を持ちます。この欠陥の検出法の一つとして、試料を光で刺激した際に放出される光を分析するフォトルミネッセンス(PL)法があります。 マッピング測定を行い欠陥起因の発光を検出した事例を紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング 製品画像

    【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング

    最大70×70mm領域の組成分布評価

    XPS多点測定による広域定量マッピングの事例をご紹介します。 シリコンウエハ上の有機物残渣について、以下の手順で評価いたしました。ピーク強度ではなく存在量(原子濃度)をグラフ化するため、試料凹凸等の影響を受けに...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [RBS]ラザフォード後方散乱分析法 製品画像

    [RBS]ラザフォード後方散乱分析法

    固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

    RBSは固体試料にイオンビーム(H+,He++)を照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です。 散乱されたHeイオンの運動エネルギーを測定し、衝突した原子の質量数を調べることで分析サンプルの成分や層構造を評価することができます。 また、固体試料にHeイオンを入射して前方...

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  • 【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布 製品画像

    【事例】GCIBを用いたSiO2中アルカリ金属の深さ方向濃度分布

    SiO2膜の不純物の評価

    アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にGCIB(Arクラスター)を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことに...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定 製品画像

    【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定

    固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能

    通常、SIMS測定では数mm角で表面が平坦なチップを用いて分析を行いますが、1mm 角以下の小さなチップや特殊な形状の試料についても固定の前処理を施すことで分析が可能です。 微量成分を調べたい試料の中には、微小チッ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度・ガラス転移温度調査 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂の硬化温度・ガラス転移温度調査

    DSC(示差走査熱量)測定による熱物性評価

    二液混合型のエポキシ樹脂について、DSC(示差走査熱量測定法)を用いて硬化温度及び耐熱性の指標となるガラス転移温度(Tg)を調査しました。硬化前の樹脂をDSC測定したところ、約103℃付近から急激な発熱反応が開始するのが確認されました(図1)。これは昇温加...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価 製品画像

    【分析事例】ゲート電極から基板へのBの突き抜け量評価

    SSDP-SIMSによる測定面の凹凸・高濃度層の影響を避けた測定

    基板側からSIMS分析(SSDP-SIMS)を行うことで、表面の凹凸・スパッタに伴う表面側高濃度層からのノックオンの影響を受けない測定が可能です。ゲート電極(BドープPoly-Si)から基板へのボロンの突き抜け量を評価しました。基板側からの測定ではノックオンなどの影響が見られず、より正確な突き抜け量評価が可能であることがわかります...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

    任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

    EBICとEBSDで電気的性質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒について電子回折を測定しました。これにより、電気的性質と結晶粒・結晶粒界の関係がより...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【総合カタログプレゼント】MST分析手法カタログ 製品画像

    【総合カタログプレゼント】MST分析手法カタログ

    研究開発者、品質管理者必見!MST取り扱い手法の原理から、手法の選択方…

    介    ・質量分析法    ・電子分光法    ・電子顕微鏡観察/分析    ・振動分光    ・X線回折関連    ・SPM関連    ・非破壊検査/故障解析    ・そのほかの測定法    ・加工法/処理法  ■ご依頼方法    ・ご依頼の流れ    ・セミナー/展示会のご紹介    ・よくあるご質問 FAQ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】高温XRDによる熱分解生成物の同定 製品画像

    【分析事例】高温XRDによる熱分解生成物の同定

    昇温しながらXRD測定が可能

    材料が昇温に伴って化学反応・相変化を経て結晶構造に変化が起こる場合、昇温しながらXRD測定を行うことが有効です。高温XRD測定を行うことで、硫酸銅五水和物の熱分解生成物の同定を行った事例を紹介します。測定の結果、熱分解が起こる温度で回折ピークが変化し、結晶構造が変化する様子を明瞭に確認で...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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