• 紙パック飲料の漏れを非接触で検出!紙パック容器用 リーク検査機 製品画像

    紙パック飲料の漏れを非接触で検出!紙パック容器用 リーク検査機

    PR紙パックの検査で容器の凹みや傷にお困りの方必見!紙パックの非接触での検…

    「ECLIPSE」は、100%非接触検査が可能な紙パック容器用のリーク検査機です。 2024年6月より、お客様のご要望に応じて、サンプルのリークテストを実施しておりましたが、 2024年7月中旬より、日本がアジア市場において先行して「ECLIPSE」を発売する運びとなりました。 また、6月中旬にはアキュレックス主催にて、アメリカのTapTone社の技術者と アジア各国の代理店が集結し、合同技術...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アキュレックス 本社、大阪営業所

  • 第3回 国際発酵・醸造食品産業展に出展します 製品画像

    第3回 国際発酵・醸造食品産業展に出展します

    PR2024年7月30日(火)~8月1日(木)10:00~17:00、東京…

    「国際発酵・醸造食品産業展」は、【発酵食品】【醸造食品】にスポットを当てた専門展です。 当社も出展しますので是非足をお運びいただきますようお願い申し上げます。 招待コード:301490 【展示機械情報】 展示会では以下の製品を展示します。 【計量水切機】 一般的な水切機には無かった計量機能を新しく追加しました。 【ネット式水分離機】 原料のシャワー洗浄と吸引脱水により、汚れや糠を残さずに水...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フジワラテクノアート

  • 分析装置『ESCA』 製品画像

    分析装置『ESCA』

    当社のESCAはX線プローブ径を5μmまで絞れます!面分析も可能です。

    『ESCA』は、X線プローブ径を5μmまで絞ることが可能な X線光電子分光分析装置です。 X線を走査しながら照射することによって発生する二次電子像 (SXI:Scanning X-ray Image)により測定場所を特定して、局所的な 組成および化学結合状態の分析が可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM) 製品画像

    微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 表面分析 二次イオン質量分析(SIMS) 製品画像

    表面分析 二次イオン質量分析(SIMS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 「ESCAによる多層膜の深さ分析」 事例集 製品画像

    「ESCAによる多層膜の深さ分析」 事例集

    光電子分光分析装置(ESCA)を使用した多層膜の深さ分析結果を掲載!

    当事例集は、イオン注入、成膜・分析、研究・事業化マネジメントの サービスなどを提供している株式会社イオンテクノセンターの光電子 分光分析装置「ESCA」による多層膜の深さ分析の事例集です。 シリコン基板の上にシリコン酸化膜とチタン酸化膜の積層膜をESCA (Quantum-2000)によって分析した結果を掲載しております。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定 製品画像

    化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定

    化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。

    SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS) 製品画像

    表面分析 X線光電子分光分析(ESCA・XPS)

    物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…

    主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

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