• 『多変量統計解析トレーニングセミナー』11月28日・29日開催 製品画像

    『多変量統計解析トレーニングセミナー』11月28日・29日開催

    PR多変量解析の基礎・原理が良くわかる。実データを用いた解析も行う実践的な…

    2024年11月28日・29日に、当社主催のセミナー 『多変量統計解析トレーニングコース<レベル1> 理論と実践』 を開催いたします。 本コースでは、複雑なデータの関係性を速やかに解釈し、 産業界、研究界で希求される最新の多変量解析技術を どのように業務応用できるかを集中的に学べます。 多変量統計解析、スペクトル解析、知覚・官能データの解析、PAT/QbDなどを テーマに解説する、数学的説明は...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオリテイデザイン

  • 薬物代謝に関わる遺伝子多型解析 製品画像

    薬物代謝に関わる遺伝子多型解析

    PRマスアレイ法により複数の遺伝子多型を同時に解析できます

    薬物の代謝活性には個人差があり、この違いは遺伝子多型に起因するとされています。ゲノム薬理学(PGx:Pharmacogenomics)分野では、遺伝子多型を調べることで、医薬品の効果や副作用、薬の組み合わせの影響などを考慮したオーダーメイド医療への応用が期待されています。 本資料では、マスアレイ法によるデザイン済み解析ツールを用いた薬物代謝に関わる遺伝子多型解析について紹介します。20の薬物代謝...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 光ビーム解析モジュール『AP013』 製品画像

    光ビーム解析モジュール『AP013』

    さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

    『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視~近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』 製品画像

    光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

    【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

    【仕様(抜粋)】 ■方式:ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対象入射光量:1~10W ■減光方式:2段ビームサンプラーにより約99.99%減光(反射光はビームダンパーにより遮蔽)、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式(最大2枚まで...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』 製品画像

    光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

    電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

    『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • FFP計測装置【※デモ測定対応可能】 製品画像

    FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

    専用光学系+画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

    光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系+画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長】 ■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能) を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP0...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高出力レーザ用FFP計測装置 製品画像

    高出力レーザ用FFP計測装置

    ~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

    ・測定可能です。 【特長】 ■出力~10Wクラス高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFを使用 ■光検出器は1インチ高精度CMOS検出器ISA061を使用(専用) ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが  セットになった光ビーム解析モジュールAP013 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ウエハレベル発光素子光学特性測定装置 製品画像

    ウエハレベル発光素子光学特性測定装置

    VCSEL等の発光素子の各種光学特性をウエハレベルで測定・検査!

    『ウエハレベル発光素子光学特性測定装置』は、VCSEL等各種発光素子の 電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステムです。 VCSELの特性計測に必要な電気的特性測定のほか、発光ビームプロファイル計測・ FFP計測(放射角度分布計測)・IVL計測・偏光計測等の光学的な特性測定を ウエハレベル...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』 製品画像

    システム『M-Scope typeS/NFP計測システム』

    ビームスポット観察から高度な光学特性解析まで対応可能!

    『M-Scope typeS/NFP計測システム』は、ビームスポット観察から 光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・ 計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。 最高200倍の光学倍率(対物レンズ100倍使用時)で、微小スポットの観察・ 解析にも...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』 製品画像

    応用システム『エンサークルドフラックス計測システム』

    モード伝播を迅速に評価・測定するシステム!

    『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・ 結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が 可能なシステムです。 光ファイバのNFP(ニアフィールドパターン)を解析することにより、 マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。 また、オプションにより、当社...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF 製品画像

    ハイパワーレーザ用FFP計測光学系M-Scope type HF

    【※デモ測定対応可能】高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減…

    【製品の応用】 ■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの放射角度分布(FFP)計測・解析 ■LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ■生体認証用レーザモジュールの開発 ■その他、医療用、ディスプレイ機器用、エレクトロニクス機器用、固体レーザ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』 製品画像

    ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

    5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

    定可能な適正レベルまで減衰 ■最大20倍の観察光学倍率 ■同軸落射照明ポートを標準装備 ■同軸落射照明装置(オプション)との組合せで顕微鏡画像観察・実像に よる位置合わせが可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP 計測システムの構築が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』 製品画像

    『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』

    検出器の選択により可視・近赤外まで対応可能!

    『M-Scope typeC/コリメート光調整システム』は、専用光学系と、 画像解析による、LDモジュール等コリメート光調整用光学システムです。 本光学系および処理装置を応用し、各種精密位置決めステージと組み合わせた 各種モジュール調整装置の提案をすることも可能です。 ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置 製品画像

    光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

    シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

    ー光配線導波路、光コネクタ、スプリッター、Siフォトニクス導波路等 ■ポリマー光配線導波路・各種光導波路の出射光ビームの状態や端面状態の観察 ■ポリマー光配線導波路・各種光導波路の光学伝播特性の解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • VCSEL/LED用ウエハレベル発光素子計測システム 製品画像

    VCSEL/LED用ウエハレベル発光素子計測システム

    さまざまな電気・光学特性をウエハレベルで測定可能!

    シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL/LED用ウエハレベル 発光素子計測システム」は、VCSEL/LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で 解析するシステムです。 各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を ウエハレベルで測定するシステムを構築することが可能です。 お客様の要望仕様により、プローバの選...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • IVL測定モジュール『PMD002/IVL』 製品画像

    IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

    18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用!広い放射角をカバーでき…

    【応用】 ■各種発光素子のIVL特性の解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』 製品画像

    高機能型光照射・受光計測光学系『M-Scope type I』

    複数の光計測を実現!多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光…

    『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測 等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。 光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、 複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用 コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的 にあわせた光学計測ユニッ...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 高出力レーザ用高機能NFP計測装置 製品画像

    高出力レーザ用高機能NFP計測装置

    ~10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…

    さない状態で計測することで、狭角角度範囲での 放射角度分布(FFP)計測も可能です。 【特長】 ■ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS ■高機能光ビーム解析システム「光ビーム解析モジュールAP013」 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 偏光測定モジュール『PMD002/POL』 製品画像

    偏光測定モジュール『PMD002/POL』

    空間光測定対応!各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

    【応用】 ■各種発光素子の偏光消光比の測定解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。...

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