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PR品質管理や汚染源特定のための迅速で簡便な菌株タイピング。結果まで約3時…
IRバイオタイパーはフーリエ変換赤外(FT-IR)分光システムを利用した、迅速・簡便な菌株タイピング装置です。 採取した微生物分離株の定期的な菌株タイピングにより、微生物汚染を適切に監視でき積極的な根本原因の分析や洗浄プロセス管理の是正措置が促進できます。 【特長】 ■ 1検体あたり低コスト400円 程度 ■ 様々な微生物種(一般細菌・酵母など)で適用可能 ■ 簡単な手技で結果ま...
メーカー・取り扱い企業: ブルカージャパン株式会社 ダルトニクス事業部 微生物同定・菌株識別
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LNPの製剤開発からGMP製造までをサポートする多彩なツール
PR製剤条件のスクリーニングからスケールアップ、GMP製造までをシームレス…
弊社のLNPツールは、合成から特性解析までにかかる様々な手間と時間を軽減し、製剤化を加速化します。 【LNP合成】 ・Sunシリーズ:処方・製造条件スクリーニングからスケールアップ、GMP対応製造まで、同じポンプとマイクロ流路チップを使用してシームレスに実行・移行可能です。 ・Sunscreen:スクリーニングのために開発された装置。96種類の条件検討を完全自動で実行。 ・Sunshine:...
メーカー・取り扱い企業: Unchained Labs株式会社
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回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催
多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …
『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応しています。 材料の組成比、異方性、Mueller Matrix、偏光解消度、反射率・透過率、ドーパン...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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【技術資料】分光エリプソメーター測定原理~偏光とは? ※資料進呈
偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など!図やグラフと共に分かりや…
■偏光とは ■サンプル表面の変更 ■エリプソメーターとは ■エリプソメーターの原理 ■ブリュースター角とは 〈 ウェビナーを開催いたします!※詳細 〉 ■テーマ:分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明~初級編~ ■開催日時 ・4/22(木) 10:00~ ・5/13(木) 16:00~ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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不良及び結晶欠陥の解析に有効!幅広いクライオスタット用のインターフェイ…
性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感度アナログ/デジタル(測定はアナログ、データ処理はデジタル) ロックイン平均法を採用したユニークなシステムで、且つオペレーター フレンドリーなソフトを装備しています...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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超高感度DLTSシステム/バルク内欠陥・界面準位測定装置
108 cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な測定に対応(DLS-1000)。 又、ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 【特徴】 ●高感度な汚染検出が可能 (2x108 atoms/cm3 )。 ●幅広いクライオスタット用のインターフェイスを装備。 ●温度、周波数スキャン、C-V特性...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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トレンチ深さ測定装置
すると、薄膜各層の界面から(多重)反射した光は光学干渉を起こす。干渉波形(インターフェログラム)は検出器にて観察され、これをフーリエ変換し反射率スペクトルを得る。この反射率スペクトルは既存のFTIR解析技術に加え、各種測定アプリケーション(膜材とその構造)に対応可能なデータベース化された解析モデルを使用して、測定対象(主に絶縁膜)の膜厚、トレンチ深さ、空孔率、ドープ濃度、TSV形状、リセス測定など...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)
結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属 堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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